朱力 陳兆文 復(fù)旦大學(xué)附屬金山醫(yī)院 （上海 201540）

現(xiàn)代醫(yī)學(xué)認(rèn)為，小兒高熱驚厥是因非中樞系統(tǒng)急性感染引起的急性感染造成的大腦皮質(zhì)運(yùn)動神經(jīng)元突然放電異常，故而產(chǎn)生驚厥并引起患兒局部/全身性骨骼肌群呈不自主收縮狀態(tài)，絕大多數(shù)患兒存在意識障礙，病情持續(xù)發(fā)展下會導(dǎo)致患兒智力受損，比如造成智力低下的不良情況，甚至是危及到患兒的生命安全。小兒高熱驚厥的出現(xiàn)常會致使家屬高度恐慌，以致要求醫(yī)生對患兒做全面檢查，而顱腦CT常被用來診斷高熱驚厥患兒的病情，但諸多研究表明，并非所有高熱驚厥患兒都需要行顱腦CT檢查。故本次研究旨在對小兒高熱驚厥顱腦CT檢查的臨床價(jià)值及其合理應(yīng)用進(jìn)行探討。

1.資料與方法

1.1 臨床資料

選取本院2016年1月～2017年10月收治的高熱驚厥患兒60例（觀察組）、外傷患兒60例（對照組）：觀察組中男性43例、女性17例；年齡為3個(gè)月～6歲，平均（2.81±1.57）歲。對照組中男性41例、女性19例；年齡為2個(gè)月～7歲，平均（2.95±1.33）歲；兩組患兒基礎(chǔ)資料比較不存在差異，P＞0.05。

1.2 方法

為患兒做顱腦CT檢查，選擇普通連續(xù)斷層掃描，基線為聽眶上線，層厚層距設(shè)置為10mm、部分可增加5mm薄層掃描。

1.3 判定標(biāo)準(zhǔn)

高熱驚厥診斷標(biāo)準(zhǔn)：①單純型提示首次發(fā)作年齡為6個(gè)月～3歲，病情呈全身對稱性、持續(xù)時(shí)間短≤10min，體溫＞38.5?C，1次熱程中僅發(fā)作1次，病情發(fā)作后未見持續(xù)性意識、運(yùn)動障礙。②復(fù)雜型提示病情發(fā)作前存在非進(jìn)展性腦器質(zhì)性損傷，比如腦癱或者智力低下等方面情況；病情發(fā)作后持續(xù)時(shí)間長＞15min；1次熱程中24h內(nèi)發(fā)病≥2次；病情發(fā)作時(shí)呈局限性/不對稱性；存在癲癇家族病史；首次發(fā)病年齡＜6個(gè)月/＞3歲；發(fā)病時(shí)體溫＜38.5?C；發(fā)病至清醒后存在異常神經(jīng)系統(tǒng)癥狀、體征；發(fā)病情況符合上述任何1個(gè)即為復(fù)雜型高熱驚厥[1]。

CT檢查結(jié)果診斷標(biāo)準(zhǔn)：通常將CT檢查結(jié)果分為正常、外部性腦積水、異常，外部性腦積水提示額區(qū)/額頂區(qū)虹網(wǎng)膜下腔呈擴(kuò)大≥5mm狀態(tài)，其他區(qū)域的虹網(wǎng)膜下腔呈不寬/稍寬狀態(tài)；前部半球間隙呈增寬＞7mm狀態(tài)；額頂部腦溝呈增寬狀態(tài)，可未見顯著增深[2]。

2.結(jié)果

觀察組60例高熱驚厥患兒中：單純型44例（73.3%）、復(fù)雜型16例（26.7%）；CT呈異常狀態(tài)為4例（6.7%），其中單純型1例（25.0%）、復(fù)雜型3例（75.0%）；外部性腦積水3例（5.0%），其中單純型1例（33.3%）、復(fù)雜型2例（66.7%）。對照組60例外傷患兒中：外部性腦積水4例（6.7%）。兩組患兒外部性腦積水占比比較不存在差異，P＞0.05；觀察組單純型、復(fù)雜型CT異常情況與對照組比較存在差異，P＜0.05。

3.討論

現(xiàn)代醫(yī)學(xué)認(rèn)為，小兒驚厥病因復(fù)雜，但常見為中樞神經(jīng)系統(tǒng)感染、感染中毒性腦病以及非中樞神經(jīng)系統(tǒng)感染這三個(gè)方面，其中中樞神經(jīng)系統(tǒng)感染主要是腦膿腫或者腦膜炎、腦炎等方面不良情況所致，臨床上多見患兒呈顯著的神經(jīng)系統(tǒng)體征，比如顱壓高或者腦水腫等問題；感染中毒性腦病則主要是敗血癥腦病等類型，患兒多為毒素作用所致，亦或者是超敏反應(yīng)引起的高熱，并造成腦部微循環(huán)產(chǎn)生障礙而出現(xiàn)腦部缺血缺氧的狀態(tài)，故而出現(xiàn)驚厥的異常情況，臨床上多見此癥患兒病情多次發(fā)展，并會持續(xù)較長時(shí)間，發(fā)作后會留下較嚴(yán)重的后遺癥；非中樞神經(jīng)系統(tǒng)感染主要是急性上呼吸道感染等傳染病所致，臨床上多見患兒體溫在短時(shí)間內(nèi)快速升至＞38.5?C，且其驚厥發(fā)作次數(shù)超過2次，但病情發(fā)作持續(xù)時(shí)間較短，患兒神智意識可在短時(shí)間內(nèi)恢復(fù)正常，通常不會對患兒留下相應(yīng)的后遺癥[3]。臨床上多見高熱驚厥患兒因此所致，有資料顯示，約68.3%的患兒是因上呼吸道感染所致高熱驚厥[4]。

小兒高熱驚厥時(shí)會出現(xiàn)全身抽搐以及不省人事的不良情況，故而臨床上很多時(shí)候?yàn)榱藴?zhǔn)確診斷患兒的病情，選擇頭顱CT為患兒進(jìn)行全面檢查，但醫(yī)學(xué)界并未指出所有的高熱驚厥小兒均需接受顱腦CT檢查。有資料顯示：小兒高熱驚厥與外部性腦積水的情況相關(guān)，亦提出了以相應(yīng)的藥物預(yù)防[5]。而本次研究結(jié)果顯示，輕微外傷、無抽搐史、異常神經(jīng)系統(tǒng)癥狀、體征患兒顱腦CT檢查后，亦可見不同程度的外部性腦積水情況，故而提示高熱驚厥患兒并非均存在外部性腦積水情況，上述以藥物預(yù)防的研究結(jié)果需加深研究。

有資料顯示：小兒患高熱驚厥的概率為4%～10%，病情發(fā)作時(shí)會出現(xiàn)全身抽搐與神志不清的情況，故而大多數(shù)家屬首次反應(yīng)是患兒存在腦部問題，醫(yī)生也是因各種原因?yàn)榛純哼M(jìn)行顱腦CT檢查[6]。不過有資料顯示，高熱驚厥并不是某個(gè)疾病發(fā)生的單獨(dú)危險(xiǎn)因素，多見急性上呼吸道感染/相關(guān)傳染病發(fā)病初期出現(xiàn)高熱驚厥[7]。通常進(jìn)行顱腦CT檢查是要確定患兒是否存在腦部疾病，但亦有資料顯示：高熱驚厥患兒顱腦CT檢查結(jié)果呈陽性的概率小，通常單純型高熱驚厥患兒行顱腦CT并不合理[8]。本次研究結(jié)果顯示，高熱驚厥患兒顱腦CT檢查結(jié)果呈陽性的情況較少，與上述研究結(jié)果比較未見較大差異。

綜上所述，小兒高熱驚厥單純型無需行顱腦CT檢查，復(fù)雜型高熱驚厥患兒檢查時(shí)需依據(jù)其臨床癥狀與體征，為其及時(shí)行顱腦CT檢查，依此對患兒的腦損傷及發(fā)育情況作評估。

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