徐建建
(雙環(huán)電子集團貝迪斯電子有限公司,安徽 蚌埠 233010)
片式電阻器的生產,在實現(xiàn)阻值的過程中一般采用兩種方式,一種是激光調阻,通過采用高頻的激光打點,聚焦在膜層表面,產生的高溫瞬間使得電阻表面的合金膜層汽化,一般采用對刀切的方式來實現(xiàn)電阻圖形,達到提高阻值的目的。由于激光產生的高溫,在其切割的路徑上,合金膜層會被高溫氧化,后續(xù)產品的加工過程變化量變大且離散,導致最終產品的一致性及長期穩(wěn)定性受到一定的影響。
另一種方式,就是采用光刻的工藝,利用曝光機曝光的方法,將掩膜版的電阻圖形印制在涂有光刻膠的電阻合金膜層上,曝光后被掩膜版覆蓋的光刻膠部分得到保護,而未被掩膜版覆蓋的光刻膠部分,被紫外光照射后光刻膠發(fā)生分解反應,后期在經過顯影液的清洗,將曝光后的光刻膠去除,得到掩膜版上預期的圖形,再經過濕法刻蝕去除沒有光刻膠保護的電阻合金膜層,來得到想要的電阻圖形實現(xiàn)阻值的提高。
光刻工藝的優(yōu)點是顯而易見的,最主要的是圖形分辨率高,還原度高,不像激光調阻使合金膜層受到高溫影響,產品一致性及長期穩(wěn)定性好,但是光刻工藝同樣由于操作的復雜程度、選取原材料價格以及設備價格,都導致光刻的成本的提高,一般來說光刻的成本將會占到整個成產成本的三到四成,同時又影響最終產品質量,故光刻工藝一般都是關鍵工藝。片式薄膜電阻器本身的電阻膜層較薄,又對電阻圖形要求精密,所以對光刻工藝的第一工步——勻膠提出了較高的要求,光刻膠的厚度和均勻性就成為勻膠工藝的重要性能指標。
目前大多數(shù)光刻膠的勻膠工藝普遍采用的是旋轉勻膠法,旋轉勻膠法工藝簡單、設備價格低廉,膠厚控制難度低,故本公司也是采用旋轉勻膠法,本文對旋轉勻膠法的膠厚均勻性進行了研究介紹。
所謂旋轉勻膠法就是,首先把光刻膠通過滴管滴在緩慢旋轉的基片中心處,光刻膠會逐步擴散到基片整個表面,形成最初的光刻膠薄膜,此時基片加速旋轉到設定的轉速,基片在高速旋轉過程中產生的離心力,會將基片表面多余的光刻膠甩出,同時在表面張力的作用下,膠膜厚度逐漸變的更薄,直到達到需要的厚度,從而使基片上得到厚度均勻的光刻膠薄膜。
要想光刻出的圖形滿足工藝的要求,那么光刻膠的厚度也必須滿足設計的要求,光刻膠太厚,曝光不充分,最后的圖形殘留太多;光刻膠太薄,曝光太過,圖形會有殘缺;所以同一塊基片,如果光刻膠涂覆有的地方厚,有的地方薄,在同一曝光時間下,有的地方曝光不充分,有的地方曝光太過,都會導致最終的電阻圖形受到影響。本次研究使用粘度為50mpa.s的正性光刻膠,通過調整基片的旋轉速度和旋轉時間,可以得到厚度不同的光刻膠膜。
本次研究選取轉轉速度參數(shù)有每分鐘2000轉、2500轉、3000轉、3500轉、4000轉、4500轉、5000轉,以及旋轉時間為 15S、20S、25S、30S、35S、40S,勻膠完成后,使用臺階儀對各參數(shù)下的膠膜厚度進行測試,形成表1的數(shù)據(jù)。
表1 不同轉速、時間下膠厚
為了更直觀的觀察,將上表的數(shù)據(jù)做成折線圖,如圖1所示。
圖1 折線圖
從圖1可以看到,光刻膠在50mpa.s粘度下,當基片的旋轉速度高或旋轉時間長時,因為離心力很大,大量的光刻膠被甩出,致使膠膜太薄;當基片轉速低或者旋轉時間短時,因為產生的離心力不足,光刻膠不能完全擴散并覆蓋整個基片表面,致使光刻膠膜厚薄不勻。所以如果想要控制好膠厚,必須根據(jù)所選用的光刻膠粘度不同,來確定基片的旋轉速度和旋轉時間,以獲得適合產品的膠厚和均勻性,來滿足后面曝光的工藝需求。
勻膠結束后的光刻膠還處于未固化的狀態(tài),此時若進行曝光,會污染掩膜版,所以必須對光刻膠進行前烘,使光刻膠略微固化,并提高和基片的附著力。本文研究了不同前烘溫度、時間對勻膠后的基片進行處理,然后曝光、顯影觀察圖形之間的差別,并形成表2。
表2 前烘溫度、時間對顯影的影響
80±5 15±5 圖形滿足要求60±5 15±5 光刻膠未固化,污染掩膜版
通過上表可以看出,當烘烤時間一定時,前烘溫度越高,光刻膠的感光度越低,前烘溫度越低,光刻膠中的溶劑難以徹底揮發(fā),膠層過軟,容易粘到掩膜版。通過試驗發(fā)現(xiàn),當前烘溫度85℃時,時間20分鐘,所獲得的圖形最好。
經過對勻膠工藝的鉆研,剖析了勻膠工藝的中基片旋轉速度和旋轉時間對膠厚均勻性的影響,和前烘處理中溫度、時間對顯影圖形的影響,以期使勻膠工藝減小對光刻的影響,使最后的電阻圖形能夠滿足要求,從而提高最終片式薄膜電阻器的可靠性和一致性。
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