吳勝華，田海波，許天驕，馬偉東

（1.國電南京自動化股份有限公司，南京 210032；2.南京國電南自維美德自動化有限公司，南京 210061）

在工業(yè)過程控制領域，高精度溫度測量是一種很常見的測量參數(shù)。工業(yè)上常用的溫度傳感器有熱電阻和熱電偶，由于熱電偶測量的是相對溫度，需要冷端補償，導致測量結(jié)果不準，所以熱電偶一般適用于測量500℃以上的較高溫度。而熱電阻不存在冷端補償?shù)膯栴}，準確度高，性能穩(wěn)定，線性度好。常用的熱電阻有兩線制、三線制和四線制，三線制熱電阻由于實現(xiàn)成本較低，接線較方便，是目前應用最多的一種方法。

1 熱電阻測溫工作原理

與熱電偶的測溫原理不同的是，熱電阻是基于電阻的熱效應進行溫度測量的，即電阻體的阻值隨溫度的變化而變化的特性。因此，只要測量出感溫熱電阻的阻值變化，就可以測量出溫度。

一般的處理方式是溫度變送器通過給熱電阻施加一已知激勵電流測量其兩端電壓的方法得到電阻值（電壓/電流），再將電阻值轉(zhuǎn)換成溫度值，從而實現(xiàn)溫度測量。

目前應用最廣泛的熱電阻材料是鉑和銅。鉑電阻精度高，適用于中性和氧化性介質(zhì)，穩(wěn)定性好，具有一定的非線性，溫度越高電阻變化率越?。汇~電阻在測溫范圍內(nèi)電阻值和溫度呈線性關系，溫度線數(shù)大，適用于無腐蝕介質(zhì)，超過150℃易被氧化，所以普遍采用銅熱電阻來測量-50℃～150℃的溫度。國內(nèi)最常用的熱電阻材料有：R0=10Ω、R0=100Ω和R0=1000Ω等，它們的分度號分別為Pt10、Pt100、Pt1000；銅電阻有：R0=50Ω和R0=100Ω兩種，它們的分度號為Cu50和Cu100，R0表示熱電阻材料在溫度為0℃時對應的電阻值，其中，Pt100和Cu50的應用最為廣泛。

金屬熱電阻的電阻值和溫度，一般可以用以下的近似關系式表示，即

式（1）中，Rt為溫度t時的阻值；R0為溫度t0（通常t0=0℃）時對應電阻值；α為熱電阻溫度系數(shù)。

2 存在的問題

根據(jù)國標《GB/T 36293-2018 火力發(fā)電廠分散控制系統(tǒng)技術條件》中5.6條輸入輸出模件（I/O）中5.6.1.8精確度要求：模擬量輸入信號（高電平）±0.1%；模擬量輸入信號（低電平）±0.15%；模擬量輸出信號±0.25%可知，對熱電阻溫度測量的精確度要求為±0.15%[1]。

從熱電阻的測溫原理可知，被測溫度的變化是直接通過熱電阻阻值的變化來測量的，因此，熱電阻體的引出線等各種導線電阻的變化會給溫度測量帶來影響。

引線的導體電阻計算公式為：R＝ρ×L/S，其中，ρ為導體電阻率，L為導體長度，S為導體橫截面積。銅的電阻率ρ=0.017Ω·mm2/m，表示截面積1mm2，長度1m的銅絲電阻為0.017Ω。首先，在實際現(xiàn)場中，在被測熱電阻距離測量設備較遠的情況下，必須要用較長的引線將被測量傳送到測量設備信號輸入端，假設引線線徑為0.5mm2，引線長度500m左右，這樣引線電阻最高可達十幾歐姆；其次，引線電阻的阻值會隨著溫度的變化而改變，且阻值與溫度變化的函數(shù)關系是非線性的，很難找到相應的函數(shù)關系算法去消除[2]。

在通常工業(yè)應用場合中，被測熱電阻阻值范圍為0Ω～1000Ω，當熱電阻阻值越小或者引線越長，則引線電阻對熱電阻測量精確度影響就越大，這樣如果不消除引線電阻對熱電阻測量帶來的影響，則熱電阻溫度測量的精確度不能滿足國標《GB/T 36293-2018 火力發(fā)電廠分散控制系統(tǒng)技術條件》中模擬量輸入信號（低電平）精確度±0.15%的要求[3]。

圖1 通用單通道AD芯片消除引線電阻實現(xiàn)原理圖Fig.1 General single-channel AD chip elimination lead resistance implementation schematic

3 解決方法

在各大分散控制系統(tǒng)（DCS）設計中，RTD（Resistance Temperature Detector）模件是最基本的IO模件之一，各個廠家針對引線電阻對RTD測量精確度帶來的影響都有充分地認識，都有特殊的設計來消除此影響。下面就兩種主流的實現(xiàn)方案進行詳細的分析。

方法一

本方法使用通用的單通道AD轉(zhuǎn)換芯片即可消除引線電阻對RTD測量精確度的影響，具體實現(xiàn)電路如圖1所示。

圖1中，r為引線線阻，范圍在0Ω～20Ω范圍內(nèi)，其阻值和1M相比，可忽略不計；R為熱電阻阻值，其阻值隨著溫度變化而變化，范圍為0Ω～1000Ω。

根據(jù)深度負反饋中運算放大器兩個輸入端的電流通?？梢暈榱?，即“虛斷”的特性可知

根據(jù)深度負反饋中運算放大器兩個輸入端之間的電壓通常非常接近于零[3]。即“虛短”的特性可知：Ua = Ub

在電路設計時，選擇Ra= Rc

同理根據(jù)“虛斷”的特性可知

計算可得，運算放大器第一級輸出電壓U0 = - R×I，此時運算放大器輸出電壓與熱電阻阻值為線性關系，并且已與引線線阻r無關，即消除了引線電阻對熱電阻測量帶來的影響。

同理，可計算出運算放大器第二級輸出電壓U1=R×I×Rf/Rd，U1接入AD轉(zhuǎn)換芯片信號輸入管腳。在實際設計中，需要根據(jù)AD轉(zhuǎn)換芯片的基準電壓來選擇Rf和Rd的電阻值，保證在熱電阻阻值（R）最大時U1的電壓范圍不超過AD轉(zhuǎn)換芯片基準電壓。

此方法通用性較強，可配合任意通用單通道AD芯片即可實現(xiàn)對RTD的精確測量。

圖2 專用芯片消除引線電阻實現(xiàn)原理圖Fig.2 Special chip elimination lead resistance implementation schematic

方法二

隨著電子技術的發(fā)展，ADI公司推出了適用于熱電偶測量、RTD測量以及熱敏電阻測量的專用芯片。

AD7792為適合高精度測量應用的低功耗、低噪聲、完整模擬前端、內(nèi)置一個低噪聲，帶有3個差分模擬輸入的16/24位Σ-Δ型ADC。本方法將結(jié)合專用芯片AD7792的具體電路設計來分析如何消除引線電阻對熱電阻測量精確度的影響。具體實現(xiàn)電路如圖2所示。

圖2中，r為線阻，范圍在0Ω～20Ω范圍內(nèi)，R為熱電阻阻值，范圍為0Ω～1000Ω。

AD采樣第一通道輸入電壓：Uai1= (R+r)×I

AD采樣第二通道輸入電壓：Uai2= (R+2r) ×I

在軟件設計時，需要同時啟動AD芯片的兩個輸入通道進行采樣并得到采樣數(shù)據(jù)，然后采用如下計算公式：2Uai1- Uai2=2(R+r) ×I-(R+2r) ×I = R×I進行計算，由此公式可知其計算結(jié)果與熱電阻阻值為線性關系，并與引線電阻r無關，此方法同樣也消除了引線電阻對熱電阻測量精確度的影響。

此方法電路設計簡單，但是必須要配合專用芯片才能實現(xiàn)。

4 結(jié)論

本文對熱電阻測溫原理、引線電阻對熱電阻測量精確度的影響進行了詳細的論述，并就如何消除引線電阻對熱電阻測量精確度帶來的影響給出了兩種解決方案。針對兩種方案分別從電路設計、計算方法以及優(yōu)缺點等方面進行了詳細分析。上述兩種實現(xiàn)方法在DCS系統(tǒng)設計中均已得到廣泛的使用，效果顯著。