劉平成 劉瓊瑤 馬忠劍 張會(huì)杰 閻明洋 王慶斌,2
1(中國(guó)科學(xué)院高能物理研究所 北京100049)
2(散裂中子源科學(xué)中心 東莞523803)
3(中國(guó)科學(xué)院大學(xué) 北京100049)
高能同步輻射光源(High Energy Photon Source,HEPS)是中國(guó)“十三五”重大科研基礎(chǔ)設(shè)施項(xiàng)目之一,建成之后將會(huì)是世界上發(fā)射度最低、亮度最高的同步輻射光源,可提供能量高達(dá)300 keV 的高性能X 射線。HEPS 由一個(gè)長(zhǎng)18.9 m 的500 MeV直線電子加速器、一個(gè)周長(zhǎng)454.5 m 的6 GeV 增強(qiáng)器、一個(gè)周長(zhǎng)1 360.4 m的6 GeV電子儲(chǔ)存環(huán)以及若干條光束線站組成,如圖1所示。
電子與儲(chǔ)存環(huán)中殘余氣體反應(yīng)產(chǎn)生的氣體軔致輻射是光束線站主要輻射源項(xiàng)之一[1]。氣體軔致輻射具有很強(qiáng)的前向性,會(huì)伴隨著同步輻射光的引出進(jìn)入第一光學(xué)棚屋(First Optical Enclosure,F(xiàn)OE),通常會(huì)在FOE 中設(shè)置軔致輻射吸收器(Beam Stop,BS)來阻止氣體軔致輻射,但同時(shí)會(huì)產(chǎn)生光核反應(yīng)中子,較難被棚屋鉛墻屏蔽。由于運(yùn)行工況、線站布局、直線節(jié)長(zhǎng)度以及分析方式的差異,國(guó)際上的一些對(duì)高能光源上光核反應(yīng)中子的研究結(jié)果存在一定的差異,一些研究認(rèn)為光核反應(yīng)中子造成的劑量率較低,不需要額外的屏蔽措施[2-3]。另一些研究認(rèn)為,光核反應(yīng)中子的輻射影響不可忽略,需要棚屋側(cè)墻高劑量率處增加局部屏蔽[4]或者在BS 上覆蓋聚乙烯[5]來減少中子劑量率。本文使用蒙特卡羅方法分析了HEPS典型光束線站上光核反應(yīng)中子的特性并提出屏蔽方法。
圖1 高能同步輻射光源主體建筑示意圖Fig.1 Schematic of main building of HEPS
HEPS 儲(chǔ)存環(huán)有48 個(gè)直線節(jié),其中41 個(gè)可以用來安裝插入件,I期工程計(jì)劃建設(shè)14條光束線站,包括13 條插入件線站和1 條彎鐵線站,圖2 給出了典型插入件光束線站──工程材料線站FOE 內(nèi)主要設(shè)備。直線節(jié)長(zhǎng)6.072 m,真空盒管道內(nèi)徑63 mm,管壁厚2.5 mm,直線節(jié)中心距離鋸齒墻端墻FOE一側(cè)(圖2中0 m處)31.5 m。FOE長(zhǎng)15 m、寬2.5 m、高4 m,束流管道中心距離地面1.2 m,距離FOE的側(cè)墻1.25 m,棚屋的墻壁使用鉛為屏蔽材料,初步設(shè)計(jì)的側(cè)墻厚25 mm,屋頂厚20 mm,端墻厚130 mm(50 mm 厚端墻+80 mm 局部屏蔽)。當(dāng)線站處于供光模式,同步輻射和氣體軔致輻射通過鋸齒墻開孔從前端區(qū)進(jìn)入FOE,沿途經(jīng)過一系列準(zhǔn)直器、安全光閘、狹縫、白光鏡、雙晶單色器、BS 等設(shè)備的散射。同步輻射光在經(jīng)過雙晶單色器后調(diào)制為單色光或者粉光,光路改變,進(jìn)入下游線站。BS 設(shè)置在雙晶單色器后,吸收直射的氣體軔致輻射。準(zhǔn)直器為250 mm×250 mm×300 mm 鉛塊,中心距離鋸齒墻0.65 m,準(zhǔn)直器中心有尺寸為20 mm×20 mm 通光孔。白光狹縫為無氧銅材料的四角水冷狹縫,中心距鋸齒墻1.7 m,計(jì)算模型中將四角水冷狹縫簡(jiǎn)化為兩組上下相對(duì)的15 mm厚銅片。單色器中心距離鋸齒墻11.1 m,單色器結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜,為了建模方便,忽略單色器內(nèi)部的機(jī)械傳動(dòng)結(jié)構(gòu),雙晶為20 mm 厚的硅晶體,與水平面夾角為35°。薄膜窗,折射透鏡等設(shè)備對(duì)氣體軔致輻射高能光子的散射作用較弱,所以在模擬計(jì)算中不考慮這部分設(shè)備的影響。
圖2 典型光束線站FOE中的主要設(shè)備和軔致輻射吸收器示意圖Fig.2 Schematic view of the main equipment and beam stop in the FOE of typical beamlines
氣體軔致輻射是高能電子在真空盒中與殘余氣體的分子和離子發(fā)生非彈性碰撞時(shí)產(chǎn)生的高能γ射線,由于是來自非彈散射過程,表現(xiàn)為連續(xù)譜的電磁輻射,在HEPS 上氣體軔致輻射最高能量可以達(dá)到6 GeV,發(fā)射角為0.085 mrad(相對(duì)論電子氣體軔致輻射發(fā)射角為0.511/E,E為電子能量MeV)。使用FLUKA模擬能量為6 GeV的電子照射6.072 m長(zhǎng)的直線節(jié),直線節(jié)真空盒為壁厚1 mm的不銹鋼,內(nèi)徑尺寸為15 mm×22 mm。束流按照高斯分布進(jìn)行抽樣,X方向束流的半高全寬為0.236 mm,Y方向束流的半高全寬為0.118 mm。電子在通過直線節(jié)后會(huì)有磁鐵進(jìn)行偏轉(zhuǎn),在模擬計(jì)算中,在直線節(jié)末端截?cái)嚯娮拥膫鬏?,只讓氣體軔致輻射向線站下游傳輸,模擬中的直線節(jié)中殘余氣體壓力和成分會(huì)對(duì)結(jié)果產(chǎn)生較大的影響,然后對(duì)殘余氣體設(shè)置進(jìn)行詳細(xì)的說明。
氣體軔致輻射的強(qiáng)度與電子的能量、流強(qiáng)、直線節(jié)的長(zhǎng)度和真空度存在線性關(guān)系,為了增加反應(yīng)的概率和提高計(jì)算的效率,通常將直線節(jié)的氣體壓力設(shè)置為一個(gè)大氣壓,再將產(chǎn)生的氣體軔致輻射線性換 算 成 實(shí) 際 的 運(yùn) 行 工 況 下 對(duì) 應(yīng) 值[1,5-7]。 但 是Asano[8]在Spring8 光源上的研究表明,這種線性換算并非始終可行。多次庫倫散射和Moller 散射(入射電子和原子電子之間的碰撞)在低真空(1.013×102Pa)下可以忽略不計(jì),但在大氣壓下卻是主要的相互作用。HEPS 正常運(yùn)行環(huán)境的真空度P0優(yōu)于1.33×10-7Pa,本文為增加計(jì)算效率,使用的氣體直線節(jié)的真空度Pc為1.013×102Pa,在后續(xù)的能譜以及劑量當(dāng)量的處理時(shí),將模擬計(jì)算結(jié)果乘以系數(shù)η(η=P0/Pc)換算至1.33×10-7Pa真空下的相應(yīng)數(shù)值。
此外,殘余氣體的平均原子序數(shù)會(huì)對(duì)計(jì)算結(jié)果產(chǎn)生較大的影響,模擬計(jì)算中殘余氣體成分參照了歐洲同步輻射光源(European Synchrotron Radiation Facility,ESRF)在儲(chǔ)存環(huán)能量6 GeV、流強(qiáng)200 mA、真空度1.33×10-7Pa條件下的測(cè)量結(jié)果[9],平均原子序數(shù)為3.2,如表1所示。
表1 計(jì)算中使用的殘余氣體成分Table 1 Composition of the residual gas used in the simulation
圖3是直線節(jié)末端的氣體軔致輻射的能譜。光子能量在超過光核反應(yīng)的閾值時(shí),會(huì)與照射到的物質(zhì)產(chǎn)生光核反應(yīng)中子(Photo-neutron)。根據(jù)入射光子的能量大小,光核反應(yīng)中子主要來自三種途徑[10]:巨共振衰變(入射光子能量10~30 MeV)、偽氘核效應(yīng)(入射光子能量50~300 MeV)、核內(nèi)級(jí)聯(lián)(入射光子能量大于140 MeV)。HEPS直線節(jié)產(chǎn)生的初級(jí)軔致輻射的能量遠(yuǎn)超于光核反應(yīng)的閾值,第一光學(xué)棚屋內(nèi)的軔致輻射阻擋器和棚屋需要考慮光核反應(yīng)中子的影響。
圖3 6 GeV電子在長(zhǎng)6.072 m、真空度1.33×10-7 Pa直線節(jié)中產(chǎn)生的氣體軔致輻射能譜Fig.3 Gas bremsstrahlung spectrum produced by 6 GeV electrons in 6.072 m long straight section with 1.33×10-7 Pa vacuum degree
當(dāng)線站進(jìn)入工作模式時(shí),安全光閘打開,中心光錐的氣體軔致輻射會(huì)隨著同步輻射到達(dá)光學(xué)棚屋,高能光子可以與其碰到的任何物體發(fā)生散射,產(chǎn)成次級(jí)軔致輻射。雖然沒有初級(jí)氣體軔致輻射那樣強(qiáng)烈,但次級(jí)軔致輻射會(huì)向各個(gè)方向傳播,當(dāng)初級(jí)軔致輻射被所截止后,次級(jí)軔致輻射的散射將是光學(xué)棚屋屏蔽的重點(diǎn)。氣體軔致輻射引起的散射光子和光核反應(yīng)中子同樣是使用FLUKA 軟件進(jìn)行計(jì)算,徐加強(qiáng)等[11]基于上海光源的BL09U 插入件線站對(duì)光核反應(yīng)中子進(jìn)行了FLUKA 計(jì)算和實(shí)驗(yàn)測(cè)量的對(duì)比,驗(yàn)證了FLUKA 處理軔致輻射散射問題的可靠性。
氣體軔致輻射散射模擬計(jì)算使用的幾何模型綜合考慮了圖2 所示的準(zhǔn)直器、狹縫、單色器以及BS等主要設(shè)備,F(xiàn)OE的一側(cè)利用鋸齒墻屏蔽輻射,另一側(cè)為25 mm厚鉛墻。將直線節(jié)中產(chǎn)生的氣體軔致輻射光子向線站下游輸運(yùn),直線節(jié)的中心距離FOE的入口31.5 m,經(jīng)過一系列設(shè)備截止于BS上。然后使用FLUKA 的USRBIN 選項(xiàng)卡記錄FOE 內(nèi)的劑量當(dāng)量,然后通過AUXSCOR選項(xiàng)的AMB74轉(zhuǎn)換系數(shù)將結(jié)果轉(zhuǎn)換為周圍劑量當(dāng)量。
圖4(a)是FOE 束流平面(距地面1.2 m)的光子劑量率分布,氣體軔致輻射光子在準(zhǔn)直器后狹縫處產(chǎn)生前向性的散射,氣體軔致輻射的中心截止于BS,光子劑量率最大值發(fā)生在氣體軔致輻射的截止點(diǎn),為6.4×104μSv·h-1,在經(jīng)過空氣和25 mm的棚屋鉛墻衰減之后,光子劑量率最大值衰減為0.17 μSv·h-1。圖4(b)是束流平面中子的劑量率分布,中子主要產(chǎn)生在準(zhǔn)直器、狹縫和BS處,中子劑量率最大值同樣發(fā)生在氣體軔致輻射的截止點(diǎn),為9.1×103μSv·h-1,中子的劑量以BS 為熱點(diǎn)向四周衰減,但是可以看到,棚屋鉛墻對(duì)中子幾乎沒有起到屏蔽作用,棚屋鉛墻外的中子劑量率最大值仍然有2.80 μSv·h-1。由于FOE 的側(cè)墻外是同步輻射的用戶和工作人員可以活動(dòng)的場(chǎng)所,HEPS 對(duì)FOE 外的輻射安全限值是希望劑量率控制在2.5 μSv·h-1以下,而僅靠鉛墻很難對(duì)中子進(jìn)行有效的屏蔽,所以屏蔽措施還需進(jìn)一步優(yōu)化。
使用射線追跡方法初步確定BS 的尺寸為250 mm×250 mm×300 mm 的鉛塊。使用FLUKA 的USRTRACK 選項(xiàng)統(tǒng)計(jì)不同角度內(nèi)的光子和中子能譜,粒子統(tǒng)計(jì)區(qū)域?yàn)榄h(huán)繞著BS 的環(huán)形區(qū)域,如圖5所示。
圖4 第一光學(xué)棚屋內(nèi)劑量率分布 (a)光子,(b)中子Fig.4 Distribution of dose equivalent rate in the FOE(a)Photon,(b)Neutron
圖5 FLUKA統(tǒng)計(jì)散射粒子能譜的區(qū)域(a)正視圖,(b)側(cè)視圖Fig.5 Spectrum scoring area of scattered particles in FLUKA simulation (a)Front view,(b)Side view
圖6(a)統(tǒng)計(jì)了0°~150°的散射光子能譜(150°~180°內(nèi)會(huì)統(tǒng)計(jì)到入射的軔致輻射光子),0°~90°內(nèi)的散射光子通量?jī)H占17.8%,BS 很好地屏蔽了氣體軔致輻射產(chǎn)生的前向和側(cè)向的散射光子,但同時(shí)也產(chǎn)生了光核反應(yīng)中子。圖6(b)是0°~180°的中子的能譜,可以看出光核反應(yīng)中子以巨共振中子(0.1~5 MeV能量區(qū)間的中子)為主,占散射中子總通量的91%,由于BS本身有300 mm的厚度,入射方向(0°~90°)的中子部分沉積在鉛體內(nèi),通量遠(yuǎn)小于側(cè)向及反射方向(90°~180°)的中子。
如果在FOE棚屋鉛墻處對(duì)中子進(jìn)行屏蔽,需要屏蔽較大的面積。從圖4(b)可以看出,中子熱點(diǎn)主要產(chǎn)生在BS 處,如果在源頭上加以優(yōu)化,在中子未向外傳播時(shí)將其屏蔽,可以大大減少FOE的屏蔽代價(jià)。含硼聚乙烯是在工業(yè)上被廣泛應(yīng)用的中子屏蔽材料,聚乙烯是分子式為[C2H4]n的高含氫量的碳?xì)浠衔?,?dāng)氫原子與快中子發(fā)生彈性碰撞時(shí),通過(n,γ)反應(yīng)將快中子慢化為慢中子,硼元素(10B)具有較高的慢中子吸收截面,可以通過(n,α)反應(yīng)吸收慢化的中子。物質(zhì)在慢化快中子和吸收慢中子后往往會(huì)伴隨著二次γ 輻射,氫原子慢化快中子反應(yīng)產(chǎn)生的二次γ 輻射能量為2.23 MeV,硼吸收慢中子產(chǎn)生能量為0.478 MeV 的γ 輻射以及容易被材料本身吸收的α 粒子。通過含硼聚乙烯的局部屏蔽,可以將中子的輻射轉(zhuǎn)化為很容易被棚屋的鉛墻屏蔽低能γ輻射。
圖6 不同角度的散射光子能譜(a)和中子能譜(b)Fig.6 Scattering photon(a)and neutron(b)spectrum at different angles
設(shè)計(jì)圖7 所示的含硼聚乙烯和鉛的屏蔽結(jié)構(gòu),使用正面10 cm厚、側(cè)面7 cm厚含硼聚乙烯包在BS上,計(jì)算中使用的含硼聚乙烯的成分為92%的聚乙烯和8%的B4C。
圖7 含硼聚乙烯和鉛的組合屏蔽示意圖Fig.7 Schematic of the combined structure of boroncontaining polyethylene and lead
使用含硼聚乙烯和鉛組合屏蔽的BS后,第一光學(xué)棚屋束流平面的光子和中子劑量率分布如圖8所示,經(jīng)過含硼聚乙烯后中子劑量有明顯的衰減,F(xiàn)OE內(nèi)外的中子劑量均有降低,F(xiàn)OE 側(cè)墻外中子劑量率最大值下降到0.4 μSv·h-1,而屏蔽前后的光子輻射場(chǎng)變化從劑量率分布圖中看并不明顯。為了研究含硼聚乙烯對(duì)光核反應(yīng)中子吸收以及二次的γ 輻射,使用FLUKA 的USRTRACK 選項(xiàng)統(tǒng)計(jì)了屏蔽之后BS 吸收氣體軔致輻射厚在不同角度的光子和中子能譜,統(tǒng)計(jì)結(jié)果如圖9 所示。由于硼俘獲熱中子伴隨的0.478 MeV 的 γ 輻射,0.4~0.5 MeV 能量區(qū)間的光子通量有明顯的升高,是屏蔽前的296%,而0.5~5 MeV 之間的光子通量卻降低了30%,更高能量段的光子通量則變化不大。含硼聚乙烯對(duì)快中子有著明顯的慢化吸收作用,0.1~5 MeV 能量區(qū)間的巨共振中子通量比屏蔽前降低了96%,更高能量段的中子通量變化較小。
圖9 屏蔽后不同角度的光子能譜(a)和中子能譜(b)Fig.9 Photon(a)and neutron(b)spectrum at different angles after shielding
圖8 使用局部屏蔽后第一光學(xué)棚屋內(nèi)劑量當(dāng)量率分布(a)光子,(b)中子Fig.8 Distribution of dose equivalent rate in the FOE after using partial shielding (a)Photon,(b)Neutron
圖10 對(duì)比了氣體軔致輻射照射屏蔽前后兩種結(jié)構(gòu)的BS后光學(xué)棚屋(25 mm鉛墻)外的總劑量率,圖上數(shù)據(jù)點(diǎn)為FOE側(cè)墻外表面距地面1.2 m(束流平面)處的中子劑量率加上光子劑量率。BS 未屏蔽時(shí),側(cè)墻外表面的最高點(diǎn)劑量率為2.8 μSv·h-1,當(dāng)使用含硼聚乙烯局部屏蔽后,對(duì)應(yīng)點(diǎn)的劑量率下降到0.4 μSv·h-1,達(dá)到了HEPS的輻射劑量率安全標(biāo)準(zhǔn)。
本文使用蒙特卡羅軟件FLUKA 對(duì)高能同步輻射光源光束線站前端區(qū)、第一光學(xué)棚屋以及線站主要設(shè)備建立計(jì)算模型,模擬計(jì)算了高能同步輻射光源正常運(yùn)行工況下,直線節(jié)上產(chǎn)生的氣體軔致輻射能譜,氣體軔致輻射在照射到第一光學(xué)棚屋的器件上產(chǎn)生散射。傳統(tǒng)的軔致輻射吸收器是鉛塊或鎢塊,氣體軔致輻射照射后會(huì)產(chǎn)生光核反應(yīng)中子,模擬計(jì)算表明:在高能同步輻射光源上光核反應(yīng)中子引起的輻射劑量不可忽略。根據(jù)軔致輻射光子和光核反應(yīng)中子的角分布設(shè)計(jì)鉛和含硼聚乙烯組合屏蔽,大大降低了第一光學(xué)棚屋內(nèi)外的中子劑量率,達(dá)到HEPS的輻射劑量率安全標(biāo)準(zhǔn),為國(guó)內(nèi)外類似高能同步輻射裝置提供參考。