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一種距離光線傳感器失效分析及整改

2021-02-09 13:13卞國任沈絢樺
電子產(chǎn)品世界 2021年4期
關(guān)鍵詞:回流焊

卞國任 沈絢樺

摘 要:文章結(jié)合一種距離、光線傳感器失效問題,進(jìn)行問題調(diào)查,發(fā)現(xiàn)主要原因為:傳感器的增高板存在回流焊后受到熱沖擊導(dǎo)致過孔沉銅拉裂出現(xiàn)似接觸非接觸不穩(wěn)定的故障;最終通過增大過孔及用環(huán)氧樹脂堵孔的方式進(jìn)行設(shè)計后,問題得到最終解決。

關(guān)鍵詞:傳感器;失效機(jī)理;回流焊;沉銅

0 引言

科技發(fā)展的時代,我們對于手機(jī)功能及用戶體驗方面要求更高,而傳感器就是手機(jī)獲取更多功能和更好體驗非常重要的一部分。手機(jī)集成的傳感器包括[1]:距離傳感器、光線傳感器、加速度傳感器、指紋傳感器、壓力傳感器、重力傳感器、電子羅盤傳感器等。距離傳感器工作原理[2]是通過紅外傳感接收由IR LED 發(fā)出穿過蓋板并從物體反射回來的光,經(jīng)過模/數(shù)轉(zhuǎn)換將數(shù)據(jù)提供到傳感器芯片,控制亮滅屏;而光線傳感器是常規(guī)兩路光電二極管作為接收,光轉(zhuǎn)為電信號,進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換,通過對環(huán)境光數(shù)據(jù)和紅外數(shù)據(jù)相減得到可見光的數(shù)據(jù),以此數(shù)據(jù)作為背光調(diào)節(jié)的依據(jù)。由于在使用過程中某廠家的距離、光線傳感器出現(xiàn)了失效,為了從根本上分析解決傳感器失效問題,本文將從傳感器失效機(jī)理、工藝設(shè)計、器件結(jié)構(gòu)等方面進(jìn)行分析,制定整改措施并通過實驗驗證其可靠性。

1 背景

在某型號手機(jī)生產(chǎn)測試過程中,功能測試崗位連續(xù)出現(xiàn)多單距離、光線傳感器失敗故障機(jī)下線,且該故障存在失效不穩(wěn)定現(xiàn)象,質(zhì)量不可控,生產(chǎn)測試不可控,極易流至售后,存在售后投訴隱患,嚴(yán)重影響手機(jī)產(chǎn)品質(zhì)量和用戶實際體驗,問題急需解決。

2 傳感器失效原因分析

手機(jī)生產(chǎn)過程中出現(xiàn)10%的距離、光感測試失效,對此我們對故障樹進(jìn)行原因分析[3]。共找到7個問題原因(圖1),其中根據(jù)異常主板SN號追溯SPI測試數(shù)據(jù)無異常,均為一次性測試通過,說明錫膏印刷過程無異常,失效原因為傳感器本體異常,此項排除;車間按照無塵標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行生產(chǎn),溫濕度按標(biāo)準(zhǔn)嚴(yán)格管控,生產(chǎn)環(huán)境問題可以排除;員工均持證上崗,按標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行作業(yè),經(jīng)驗豐富,且定期進(jìn)行考評,此項排除;對生產(chǎn)設(shè)備進(jìn)行檢查,發(fā)現(xiàn)廠家自動送料軌道存在偏移,此項為異常原因之一;剩余的IC功能、焊盤上錫異常、沉銅不良需要進(jìn)一步分析驗證。

2.1 傳感器失效分析

將故障品物料與正常品物料進(jìn)行驗證分析,發(fā)現(xiàn)故障品存在以下異常導(dǎo)致功能失效,傳感器實物如圖2所示。①將故障品與正常品的IC進(jìn)行對調(diào)測試功能,發(fā)現(xiàn)故障品與正常品結(jié)論不變,說明IC功能正常,所以鎖定墊高板為傳感器異常原因之一。②觀察墊高板底部焊盤,發(fā)現(xiàn)異常腳底部焊盤不上錫,對比正常腳錫量飽滿,如圖3所示。在放大鏡下觀察異常物料焊盤,發(fā)現(xiàn)有氧化、黑色油墨上焊盤現(xiàn)象,底部油墨偏多,局部堆高,導(dǎo)致物料腳與錫膏有高度差,焊接時無法與錫膏有效接觸,上錫異常導(dǎo)致功能失效,如圖4所示。③用萬用表測量墊高板兩端導(dǎo)通情況,發(fā)現(xiàn)故障品上下焊盤存在開路情況而正常品導(dǎo)通,如圖5所示。將故障傳感器墊高板做金相實驗,發(fā)現(xiàn)傳感器下面墊高板存在過孔不通,沉銅斷開,導(dǎo)致上下焊盤開路,使傳感器故障,如圖6所示。用砂紙磨開過孔位置有發(fā)現(xiàn)黑色物質(zhì),如圖7所示。分析為PCB在鉆孔過程鉆頭高速旋轉(zhuǎn)后,鉆頭發(fā)熱燒黑板材后殘留的粉塵,后道清洗工序沒有處理干凈所致。

2.2 廠家生產(chǎn)工藝分析

經(jīng)過對廠家生產(chǎn)工藝排查,發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)過程中存在如下諸多隱患點。

1)墊高板鉆孔完成后沉銅(過孔在傳感器焊盤上),過孔孔壁與焊盤交接處會形成電鍍銅與焊接基材覆銅焊接帶,然后再做阻焊,阻焊完成再做油墨填塞過孔,即在焊盤上過孔位置處灌塞油墨,存在油墨灌塞偏多導(dǎo)致上焊盤、過孔位置高于焊盤高度,造成傳感器接觸不良;

2)PCB在自動送料軌道夾持中固定不好或PCB工藝邊有異物造成夾持位置不平整,錫膏在印刷時超出焊盤外,形成不規(guī)律錫珠導(dǎo)致虛焊;

3)對PCB過孔時鉆頭高速旋轉(zhuǎn)發(fā)熱易燒黑板材,但后續(xù)清潔力度不夠,導(dǎo)致異物殘留,出現(xiàn)沉銅斷層現(xiàn)象。

3 傳感器失效整改措施

3.1 整改方案

通過長期生產(chǎn)數(shù)據(jù)分析,該廠家不同批次的物料存在不同類型的問題,異常問題不斷出現(xiàn),說明廠家沒從根本上解決。經(jīng)過對廠家的生產(chǎn)過程隱患點進(jìn)行排查,加以實驗驗證,從工藝流程、器件結(jié)構(gòu)、檢驗工序三個方面優(yōu)化并制定有效的解決方案。

1)工藝流程:從鋼網(wǎng)厚度、錫膏量等方面優(yōu)化工藝參數(shù),提高精度,將焊盤上過孔孔徑由0.35 mm擴(kuò)至0.45 mm,由原過孔塞油墨改為填塞樹脂工藝,版面看不到過孔,版面平整,傳感器與墊高板能良好導(dǎo)通;

2)檢驗工序:對自動送料軌道及PCB工藝邊全面檢查,用20倍鏡45°斜角顯微鏡對上錫量進(jìn)行全檢,并增加測試治具限位裝置,避免虛焊/假焊產(chǎn)品因測試壓力過大而造成誤判導(dǎo)致不良品流出;

3)器件結(jié)構(gòu):增加PCB鍍銅層厚度可減少斷層現(xiàn)象,在清洗工序增加超聲波和高壓沖洗工序,防止粉塵殘留。

3.2 整改效果評估

對整改后傳感器的性能結(jié)構(gòu)、產(chǎn)品可靠性進(jìn)行全面評估,檢查能否達(dá)到預(yù)期整改水平。

1)結(jié)構(gòu)分析:將整改前后的傳感器放入X-Ray進(jìn)行觀察,整改后的墊高板沉銅均勻,無過孔不通、斷層現(xiàn)象,對比如圖8所示。焊盤過孔由原先的油墨填塞工藝改為樹脂填塞工藝,更改后的焊盤版面完整,上錫正常,如圖9所示。根據(jù)公司《傳感器檢驗規(guī)范》文件,要求PCB墊高板過孔沉銅厚度平均值不小于20 μm,最小值不小于18 μm,孔角及孔壁銅層不均出現(xiàn)破損、缺損現(xiàn)象。對整改后的墊高板進(jìn)行金相切片,孔壁厚度符合標(biāo)準(zhǔn),沉銅均勻無異常,如圖10、圖11所示。

2)實驗分析:針對傳感器更改了多項生產(chǎn)工藝,安排實驗驗證其可靠性。對500 pcs整改前與整改后的傳感器過孔增加點環(huán)氧膠后回流焊高溫驗證,在-10±2 ℃、60±2 ℃環(huán)境下各保持30 min,循環(huán)20次,實驗結(jié)果如表1。

將傳感器組裝成整機(jī)進(jìn)行連續(xù)工作老化試驗48 h,分別在老化12 h、24 h、48 h試驗后進(jìn)行功能測試,實驗結(jié)果如表2。

對整改前后的樣品裝100臺整機(jī)進(jìn)行50 ℃高溫烘烤6 h之后,進(jìn)行隨機(jī)振動30 min,測試傳感器功能,實驗結(jié)果如表3。

可以看出,整改前傳感器在不同實驗環(huán)境下均存在失效現(xiàn)象,測試不可控,無法保證生產(chǎn)穩(wěn)定性,而整改后傳感器功能均無異常,產(chǎn)品可靠性強(qiáng),整改效果明顯。

4 傳感器失效整改總結(jié)

對整改后的傳感器進(jìn)行全面評估,整改后性能參數(shù)、結(jié)構(gòu)要求符合預(yù)期,從實驗結(jié)果來看,整改后傳感器可靠性強(qiáng),整改效果明顯。廠家整改之后,根據(jù)生產(chǎn)過程數(shù)據(jù)顯示無沉銅不良異常,整改效果明顯。本次通過傳感器物料在使用過程中的異常反饋,對實際出現(xiàn)的多種問題進(jìn)行分析整改,從器件結(jié)構(gòu)、制造工藝、檢驗工序進(jìn)行優(yōu)化改進(jìn),并加以實驗論證,從根本上有效改善了產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性,提高了生產(chǎn)效率。

參考文獻(xiàn):

[1] 裴春梅,楊秀清,王貴明.傳感器在智能手機(jī)中的應(yīng)用[J].湖南農(nóng)業(yè)大學(xué)學(xué)報:自然科學(xué)版,2009(10X):108-109.

[2] 孫晶.傳感器的原理與應(yīng)用研究[J].科技咨詢,2011(21):4.

[3] 戴俊夫,嚴(yán)明.電子元器件失效分析技術(shù)及方法[J].微機(jī)處理, 2015(4):1.

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