謝 蕓 王 斌 黃家昕 鄭聯(lián)慧 郝 亮
在前牙美學(xué)修復(fù)中,瓷貼面是一種牙體預(yù)備量少,生物相容性好,能恢復(fù)牙列美觀和重建解剖外形的修復(fù)方法[1]。修復(fù)體的美觀性主要是由材料的顏色和半透性決定的[2]。為了實(shí)現(xiàn)理想的美學(xué)效果,修復(fù)材料的光學(xué)性能必須和天然牙的光學(xué)性能相似[3]。全瓷半透性使臨床上實(shí)現(xiàn)修復(fù)體與天然牙顏色相匹配變得很復(fù)雜[4]。瓷材料類型、顏色、厚度、基牙的顏色和厚度,粘結(jié)劑顏色都會對最終修復(fù)的顏色效果產(chǎn)生影響[5]。IPS e.max 材料具有完美的天然牙外觀[6],良好的半透性和機(jī)械性能[7],不僅是前牙美學(xué)瓷貼面修復(fù)的重要材料之一[8],也是后牙牙合貼面的重要修復(fù)材料之一[9]。試色糊劑對修復(fù)體試戴時(shí)的顏色有明顯影響,對修復(fù)體粘結(jié)劑顏色選擇有重要指導(dǎo)意義[10],材料的半透性越高,其遮色力越差[11],更需要慎重考慮各個(gè)因素的影響。因此本研究對四種厚度的IPS e.max 全瓷貼面應(yīng)用三種試色糊劑的透射率進(jìn)行研究分析。
1. 儀器和設(shè)備:USB2000 光譜儀(海洋光學(xué))、LS-1 光源(海洋光學(xué))、準(zhǔn)直透鏡、會聚透鏡、手動調(diào)節(jié)光闌、SpectraSuite 軟件(海洋光學(xué))、固定光纖探頭支架、自制測試樣品支架、EP3000 烤瓷爐、德國EVE 樹脂拋光套裝
2.實(shí)驗(yàn)材料:聚四氟乙烯管、鑄造蠟、LT A2 色I(xiàn)PS e.max Press 瓷塊、卡瑞斯瑪A2 色樹脂、酒精燈、雕刻刀、硅橡膠、VarioLinkVeneer(義獲嘉,列支敦士登)試色糊劑 LV-3、MV0、HV+3。
3.實(shí)驗(yàn)方法
(1)制作背景樹脂基底:使用內(nèi)徑10mm 內(nèi)壁1mm 厚的聚四氟乙烯管,內(nèi)部邊緣涂分離劑,制作厚度為0.5mm 的模具,將模具固定在光滑玻璃板表面,將A2 色卡瑞斯瑪樹脂材料分層填入模具中壓實(shí),在表面使用玻璃片壓平,光固化60s,制作成80個(gè)直徑10mm、厚度0.5mm 的圓形樹脂試件。EVE樹脂拋光套裝兩步拋光,獲得均勻的、光滑的表面,然后用酒精棉球清洗并用流水沖洗,蒸餾水中超聲清洗1min,氣槍吹干備用。
(2)制作瓷貼面:①首先在直徑10mm 的圓柱形,超硬石膏上制作直徑10mm,厚度分別為0.3mm,0.5mm,0.8mm,1.0mm 的蠟型,卡尺測量三點(diǎn)厚度。硅橡膠翻制四個(gè)標(biāo)準(zhǔn)模型,以此為參考依次制作瓷貼面;②專用包埋料包埋鑄造;③小心打磨鑄道,反復(fù)測量厚度,上釉,不需內(nèi)外染色,由同一技工制作完成;④所有樣品制作完成后放入75%的乙醇清洗5min,取出吹干。
(3)測量方法:海洋光學(xué)USB2000 光譜儀,LS-1光源,工作波段為400~760nm,間隔0.4nm 采集光譜數(shù)據(jù),照度為3500LX,通過光學(xué)透鏡組合匯聚光斑的直徑為2.0mm。光纖探頭探測到透過被測樣品的光量,通過光譜儀將數(shù)據(jù)傳輸?shù)絊pectraSuite 軟件。工作環(huán)境溫度18~25℃,相對濕度50~60%。為了避免周圍環(huán)境光源的影響,除了LS-1 光源外,測量在暗室中進(jìn)行。
將80 個(gè)樹脂基底標(biāo)準(zhǔn)試件按隨機(jī)數(shù)字表的方法隨機(jī)分成4 組,每組20 個(gè)。實(shí)驗(yàn)根據(jù)瓷貼面的厚度不同分為四組,分別是0.3mm 組、0.5mm 組、0.8mm組、1.0mm 組(n=20)。分別將每組 20 個(gè)瓷貼面按隨機(jī)數(shù)字表的方法又隨機(jī)分成4 組,每組5 個(gè)。每個(gè)組又分為對照組和實(shí)驗(yàn)組,其中對照組(n=5)為瓷片和樹脂薄片間不使用糊劑,將其固定于自制測量臺上,測量三次取平均值。實(shí)驗(yàn)組分為三組(n=5):LV-3,MV0 和HV+3,每組瓷片和樹脂薄片間分別加入一種試色糊劑,食指均勻壓力,探針清理多余糊劑,表面酒棉輕拭,測量三次取平均值;四組厚度依次測量。每次測量前校正其參考光譜,確保實(shí)驗(yàn)的條件的一致性。全部測量操作過程由同一人完成,數(shù)據(jù)采集由另一人負(fù)責(zé)。
采用IBM SPSS25 軟件對各組厚度下的對照組和實(shí)驗(yàn)組透射率值進(jìn)行雙因素方差分析和LSD 檢驗(yàn),檢驗(yàn)水準(zhǔn)為α=0.05。
表1 雙因素方差分析結(jié)果顯示瓷貼面厚度,試色糊劑,以及瓷貼面厚度和試色糊劑的交互作用都會對透射率有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P<0.05)。
表1 雙因素方差分析
表2 對不同瓷貼面厚度下的透射率進(jìn)LSD 法事后檢驗(yàn),各組間的透射率平均值差值的P<0.05,有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義,且根據(jù)差值的分布觀察發(fā)現(xiàn)在瓷貼面厚度0.3mm~1.0mm 之間時(shí),隨厚度增加,透射率降低。
表2 瓷貼面厚度LSD 法
表3 對不同情況下試色糊劑的透射率進(jìn)行LSD法事后檢驗(yàn),發(fā)現(xiàn)對照組和MV0 組平均值差值的P值為 0.336>0.05,差異不顯著,LV-3 和 HV+3 平均值差值的P值為0.709>0.05,差異不顯著,沒有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義。但是LV-3 和HV+3 分別與MV0 和對照組之間的透射率均值差值的P<0.05,差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義。根據(jù)差值的正負(fù)我們發(fā)現(xiàn)LV-3 和HV+3 的透射率均低于MV0 和對照組。
表3 試色糊劑LSD 法
瓷貼面厚度直接影響其材料的半透性,而半透性是影響瓷貼面最終顏色修復(fù)效果的重要因素[12]。目前研究中,瓷貼面的厚度在0.5~1mm 之間[13],超薄瓷貼面最薄可達(dá)0.3mm[14]。Barizon[15]等研究認(rèn)為硅酸鋰全瓷的半透性主要受材料顏色和厚度因素影響。隨著磷酸鋰和硅酸鋅鋰的納米晶體數(shù)量增加,晶體與玻璃基體之間的光折射率變高,導(dǎo)致晶體與基體界面處的光散射增加,不透明性增強(qiáng)。在基牙沒有變色的情況下,半透性高的材料可以用于制作薄的瓷貼面,恢復(fù)牙列自然外觀代替牙釉質(zhì)或牙本質(zhì)。為了更精確地研究瓷貼面厚度與半透性的關(guān)系,排除其他顏色的干擾,本實(shí)驗(yàn)采用A2 色樹脂塊模擬瓷貼面下方基牙,但體外實(shí)驗(yàn)又不能完全模擬口腔的復(fù)雜環(huán)境和天然牙的紋理特征,因此,實(shí)驗(yàn)有一定局限性。本實(shí)驗(yàn)采用直接法測量透射率T 值,統(tǒng)計(jì)研究發(fā)現(xiàn)IPSe.max 材料在0.3~1.0mm 之間時(shí),瓷貼面半透性隨厚度增加而降低。
瓷貼面樹脂粘接劑均配有試色糊劑(try-in paste)。試色糊劑是一種水溶性的糊劑[16],其主要成分為甘油和色素。本實(shí)驗(yàn)中選擇了偏白色低透光度HV+3,高透光度MV0,偏黃色低透光度LV-3,對兩個(gè)極端色號和一個(gè)中間色號比較,得出了VarioLink Veneer試色糊劑透射率的范圍,這與廠商透明度的分類結(jié)果相一致,預(yù)測了粘結(jié)后相對應(yīng)半透性變化的上限和下限,也給臨床醫(yī)生提供了參考。