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Rietveld全圖擬合法定量分析伊利石礦的精確度及誤差來源

2022-05-06 01:34:22陳愛清張立雪李強朱建喜李尚穎何宏平
巖礦測試 2022年2期
關鍵詞:鈉長石礦樣伊利石

陳愛清, 張立雪, 李強, 朱建喜, 李尚穎, 何宏平*

(1.三峽大學分析測試中心, 湖北 宜昌 443002;2.中國地質(zhì)調(diào)查局廣州海洋地質(zhì)調(diào)查局, 廣東 廣州 510075;3.中國科學研究院廣州地球化學研究所, 廣東 廣州 510640;4.南方科技大學環(huán)境科學與工程學院, 廣東 深圳 518055)

伊利石是土壤、泥巖以及熱液蝕變中常見的礦物,當伊利石富集到一定程度便形成有價值的礦床。目前伊利石被廣泛應用于陶瓷、涂料、填料、鉀肥制造等行業(yè)[1-3]。自然界產(chǎn)出的伊利石常與石英、長石、高嶺石和方解石等礦物共(伴)生,準確獲取伊利石礦各組分含量對其礦產(chǎn)勘查、工業(yè)應用以及實驗室研究都具有重要的意義。

X射線衍射(XRD)是一種常用的礦物定量分析方法,包括:內(nèi)標法、增量法、基體清洗法、外標法、絕熱法和Rietveld全圖擬合法等[4-5]。其中,內(nèi)標法、增量法、基體清洗法需要加入內(nèi)標,增加了衍射線重疊幾率;內(nèi)標法、增量法和外標法都需要繪制標準工作曲線。然而地質(zhì)樣品由于組分復雜,難以獲得純樣,前四種方法的應用因而受到限制。絕熱法簡單快速,目前應用廣泛,但常受到峰疊加和擇優(yōu)取向的影響。例如,伊利石強峰(d006=0.334nm)和(d114=0.319nm)分別與石英最強峰(d101=0.334nm)和鈉長石最強峰(d006=0.319nm)嚴重疊加。

Rietveld全圖擬合法是一種基于結(jié)構(gòu)信息而進行物相定量的方法[6]。該方法無需標樣和繪制標準曲線,使用了整個衍射圖,因而減弱了峰疊加、微吸收和擇優(yōu)取向等因素的影響,從而獲得較高的精確度[7]。例如,人工配制的簡單二元、三元以及四元無機混合物定量分析中,絕對誤差小于1%[8]。近年來已有較多的文獻報道了采用該方法對土壤、泥頁巖和砂巖等地質(zhì)樣品開展探索性研究[9-10]。然而,由于某些礦物難以獲得純地質(zhì)樣品,尤其是純黏土礦物,因此少有文獻報道該方法的精確度。少部分研究采用X射線熒光光譜法(XRF)分析結(jié)果進行間接的交叉驗證[11],或者采用細粒的白云母代替伊利石進行精確度評價[12]。與白云母對比,伊利石層間鉀離子含量明顯偏少,粒徑為微米級,擇優(yōu)取向的影響程度可能不同,因此兩者間仍存在一定的差異。極少的文獻中添加了伊利石純樣模擬地質(zhì)產(chǎn)物(例如:凝灰?guī)r),但這類研究中伊利石并非重點研究對象,添加的伊利石量較低(約5%)[13]。因此,目前對Rietveld定量分析伊利石礦樣的精確度以及誤差來源仍未清楚。

本課題組對中國伊利石進行了系統(tǒng)性的礦物學調(diào)查,發(fā)現(xiàn)浙江某伊利石樣品純度很高,部分樣品純度達到了100%,有利于開展精確度評價工作。本文根據(jù)伊利石礦中常見的伴生組合關系,配制了不同比例的二元、三元和多元混合樣品,探討了Rietveld全圖擬合法分析伊利石礦樣的精確度和誤差來源。同時采用XRF分析了不同成因和組合的天然伊利石礦樣,驗證了Rietveld全圖擬合法的實用性和有效性。

1 實驗部分

1.1 樣品和主要試劑

本文采集的浙江伊利石在偏光顯微鏡下為細小鱗片狀結(jié)構(gòu),粒徑小于2μm,未發(fā)現(xiàn)雜質(zhì)礦物(圖1a)。該伊利石為2M1型,XRD圖中清晰顯示出2M1型的5個特征衍射峰:d023=0.378nm、d-114=0.351nm、d114=0.325nm、d025=0.301nm和d-116=0.279nm(圖1b)[14]。XRF分析本文采集樣品的成分為:SiO247.95%,Al2O337.85%, Fe2O30.14%, MgO 0.06%, CaO 0.19%, Na2O 0.30%, K2O 9.02%, TiO20.02%,P2O50.15%, 燒失量(LOI) 4.95%。

圖1 浙江伊利石顯微照片和衍射譜圖(a—正交偏光顯微照片; b—XRD譜圖, ?—2M1云母特征衍射峰)Fig.1 Microphotographs and XRD spectrum of illite from Zhejiang Province (a. Microphotographs under cross-polarized light; b. The XRD pattern, ?. Charact-eristic reflections of 2M1 micas)

根據(jù)伊利石礦中常見的共(伴)生關系配制二元(樣品編號IQ-1至IQ-4,表1)、三元(樣品編號IQA-1至IQA-4,表2)及多元(樣品編號C-1至C-4,表3)混合物試樣。鈉長石為國家標準物質(zhì)(GBW03134),方解石、石英為分析純,購自天津市大茂化學試劑廠。高嶺石采自廣東茂名,提純至XRD檢查無雜相。采用分析天平稱重,精確至0.0001g,試樣質(zhì)量為1g。3個典型的伊利石礦樣分別采自湖南岳陽某礦山、吉林安圖伊利石礦以及購自石家莊市行唐縣鑫磊礦物粉體廠。岳陽樣品為塊狀構(gòu)造,隱晶質(zhì)結(jié)構(gòu),熱液成因。吉林和鑫磊樣品皆為粉體,沉積成因。

表1 伊利石-石英二元混合物Rietveld定量分析結(jié)果

表2 伊利石-石英-鈉長石三元混合物Rietveld定量分析結(jié)果

1.2 樣品分析測試

為了減弱擇優(yōu)取向,采用側(cè)裝法制備XRD分析試樣。采用理學Rigaku D/max2500衍射儀進行測試,測試條件為:Cu Kα射線,Ni濾波片,管壓40kV,管流250mA,掃描范圍為3°~70°,步長0.02°,掃描速度2°/min。Rietveld定量分析采用GSAS軟件[15]。物相含量與結(jié)構(gòu)精修中的標度因子S有關,計算公式如下:

式中:W、S、ρ和V分別是某物相的含量、標度因子、密度和晶胞體積[16]。精修的參數(shù)包括標度因子S、峰形參數(shù)、背景函數(shù)、晶胞參數(shù)以及伊利石的K原子占位等。

X射線熒光光譜(XRF)分析:在1050℃高溫使樣品熔融,獲得玻璃碟片試樣,采用PANalytical Axios PW404 儀器進行分析。燒失量(LOI)是將樣品105℃烘干后稱重,然后放入馬弗爐中1000℃保溫2h,冷卻后再稱重,加熱前后質(zhì)量差即為燒失量。

2 結(jié)果與討論

2.1 Rietveld定量分析的準確度和精密度評價

2.1.1準確度評價

傳統(tǒng)觀點認為XRD只能達到半定量。經(jīng)統(tǒng)計分析,XRD分析結(jié)果的絕對誤差小于3%,相對誤差小于10%,認為是高精度[17]。對于含黏土礦物樣品,主要成分的相對誤差在±10%以內(nèi),含量少于20%物相的相對誤差在±20%,屬于結(jié)果較好[18]。

表1測試結(jié)果表明,伊利石-石英二元混合物

中伊利石和石英的絕對誤差都存在正負值,隨著石英含量增加,兩者的絕對誤差沒有出現(xiàn)太大的變化,范圍為-0.9%~0.9%(表1)。伊利石的相對誤差值較小,為-0.7%~1.8%。石英的相對誤差范圍為-23.3%~6.0%,并隨著石英含量減少而急劇增大。這是由于XRD分析的絕對誤差較小(-0.5%~0.9%),而石英含量卻急劇減少所造成。

表2測試結(jié)果表明,伊利石-石英-鈉長石三元混合物中伊利石和石英的絕對誤差存在正負值,而鈉長石都為正值,主要由于鈉長石產(chǎn)生了擇優(yōu)取向(見2.2節(jié))。4組樣品的絕對誤差范圍為-1.9%~1.6%。伊利石的相對誤差較小,為-3.8%~0.4%;石英和鈉長石的相對誤差分別為-13.0%~7.0%和1.3%~8.0%;兩者的相對誤差都出現(xiàn)隨著其含量減少而增大的現(xiàn)象,原因是誤差變化不大而含量減少所造成。

表3測試結(jié)果表明,伊利石-石英-鈉長石-方解石-高嶺石多元混合物中各礦物絕對誤差都存在正負值,絕對誤差范圍為-2.3%~1.6%。伊利石和鈉長石的相對誤差值較小,分別為-5.5%~1.6%和-4.0%~6.0%;方解石和高嶺石含量低,相對誤差都較大,分別為-14.0%~14.0%和-5.3%~5.3%;石英的相對誤差值隨著其含量減小而明顯增大,為-8.0%~10.7%,原因與上述二元和三元混合物的情況相似。

表3 伊利石-石英-鈉長石-方解石-高嶺石多元混合物Rietveld定量分析結(jié)果

本文配制的樣品的絕對誤差均小于±3%;相對誤差除了IQ-1中由于石英含量只有3%而造成較大的相對誤差(-23.3%),其他試樣中各物相的相對誤差接近或者小于±10%,表明Rietveld定量分析伊利石礦可以獲得較高的準確度。這與前人采用Rietveld定量方法可以獲得較高的精確度相一致。例如,Hillier[19]分析高嶺石-綠泥石-白云母-石英-方解石-白云石-鈉長石模擬配制的砂巖,絕對誤差小于3%。付偉等[20]配制了石英-高嶺石、石英-高嶺石-蒙脫石兩個黏土樣品,絕對誤差分別是1.46%和1.03%。

2.1.2精密度評價

精密度是評價檢測方法有效性的另一個重要指標。以C-3樣品為例,10次Rietveld定量分析結(jié)果(表4)顯示各礦物的平均含量分別是:伊利石59.30%,石英16.35%,鈉長石14.64%,方解石5.03%和高嶺石4.68%,均接近樣品的理論值。10次分析結(jié)果的標準偏差范圍為0.20%~0.35%,低于前人所認可的5%標準偏差值。較小的標準偏差表明多次分析結(jié)果的一致性程度高,復現(xiàn)性好[18]。

表4 C-3樣品10次Rietveld定量分析結(jié)果

2.2 Rietveld定量分析誤差來源

2.2.1結(jié)構(gòu)模型的影響

Rietveld定量分析結(jié)果在很大程度上取決于精修效果,可采用Rwp參數(shù)進行評價。一般認為Rwp<15%,精修結(jié)果可以接受;Rwp<10%,精修結(jié)果較好[21]。采用GSAS軟件進行Rietveld定量分析時,發(fā)現(xiàn)結(jié)構(gòu)模型、原子熱振動以及擇優(yōu)取向是影響誤差的主要因素。

石英、方解石、高嶺石和鈉長石等礦物成分簡單,容易選擇出合適的晶體結(jié)構(gòu)模型。伊利石由于晶體細小,因此發(fā)表的結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)較少。查詢只獲得4個2M1型伊利石結(jié)構(gòu),分別是0012865(American Mineralogist Crystal Structure Database)、9009665(Crystal Open Datasets)、90144 (ICSD數(shù)據(jù)庫)和00-026-0911(ICDD數(shù)據(jù)庫)。前三個數(shù)據(jù)庫收錄的伊利石結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)實為同一個結(jié)構(gòu)[13],與之對應的PDF卡片為70-3754(圖1b)。伊利石采用該結(jié)構(gòu)進行Rietveld精修獲得Rwp值接近20%。較大的Rwp值主要是由于精修過程中,-115衍射峰(2θ=28.5°)計算模擬強度明顯大于實測強度,而且很難收斂(圖1b)。伊利石使用00-026-0911結(jié)構(gòu)作為初始模型進行Rietveld精修,Rwp值范圍為15%~20%。因此,這兩個2M1型伊利石結(jié)構(gòu)模型都不合適。嘗試采用白云母結(jié)構(gòu)作為伊利石的初始結(jié)構(gòu)(例如:ICSD-17049),精修獲得所有組合樣品的Rwp值均小于15%。以IQ-3、IQA-1和C-3樣品為例,Rwp值分別為0.1215、0.1310和0.1188,實測圖和計算圖吻合較好,差值曲線接近于一條直線(圖2),表明采用白云母作為伊利石初始結(jié)構(gòu)模型可以獲得較好的精修結(jié)果。

圖2 二元、三元和多元混合物Rietveld精修圖Fig.2 Rietveld refinement patterns of binary, ternary and multiple mixtures

2.2.2原子熱振動的影響

原子熱振動參數(shù)Uiso對標度因子S的影響明顯,從而影響礦物含量,但Uiso值的合理性經(jīng)常被忽略。較小的Uiso值會降低組分含量,較大的Uiso值會增加組分含量。例如,ICSD-17049白云母的各原子缺失Uiso值,在導入GSAS軟件時所有原子的Uiso值被賦予0.00032?2,明顯小于云母實際Uiso值,例如鉀原子的Uiso約為0.025?2[22]。精修過程中發(fā)現(xiàn)伊利石始終比理論值低2%~3%。這表明較低的Uiso值降低了礦物含量,這與前人研究結(jié)果一致。查閱文獻將伊利石中K原子、Si(Al)原子和O原子的Uiso值分別設定為0.025?2、0.01?2和0.015?2,計算獲得的含量接近理論值(表1~表3)。因此,建議查閱相關文獻檢查Uiso的合理性。

2.2.3擇優(yōu)取向的影響

擇優(yōu)取向會促使某些晶面衍射強度異常增強,歪曲了相對強度比值從而引起誤差[23]。伊利石、鈉長石、方解石和高嶺石解理發(fā)育,容易產(chǎn)生擇優(yōu)取向,因此本文在制樣時采用側(cè)裝法,一定程度上減弱了擇優(yōu)取向。但仍可以觀察到伊利石的002、004和006等00l晶面的實測峰強度仍略大于計算強度,表明擇優(yōu)取向仍存在(圖2)。另外,三元混合物中,鈉長石的0.319nm衍射峰對應的是002解理面也存在優(yōu)取向(圖2b),促使鈉長石含量常高于理論值(表2)。盡管GSAS軟件中可以進行擇優(yōu)取向校正,但這種校正只是近似的粗略校正,只能在一定程度上減弱擇優(yōu)取向的影響,但很難消除[24]。因此,建議在樣品制備和測試過程中應盡力減弱擇優(yōu)取向。

2.3 方法有效性驗證

Rietveld定量分析獲得岳陽樣品Rwp值為0.1396,鑫磊樣品Rwp值為0.1190,吉林樣品Rwp值為0.1255,差值曲線基本為一條平滑的直線,表明精修效果較好(圖3)。岳陽樣品中伊利石和石英含量分別為44.4%和55.6%;鑫磊樣品中的伊利石、石英、鈉長石和高嶺石含量分別為38.4%、55.8%、5.3%和0.5%;吉林樣品中的伊利石、石英、鈉長石、方解石和高嶺石含量分別為28.6%、51.1%、16.8%、2.2%和1.3%(表5)。

圖3 伊利石礦樣Rietveld精修圖Fig.3 Rietveld refinement patterns of illite ore samples

表5 天然伊利石礦樣Rietveld定量分析結(jié)果

XRF分析結(jié)果常用于交叉驗證XRD分析結(jié)果的準確性。通常將XRD獲得的物相含量與各物相中元素的百分含量進行聯(lián)合計算而獲得整個樣品的化學組成[25]。由于不同試樣中伊利石層間鉀離子含量不同,因此伊利石化學組成采用精修獲得的晶體化學式。其他礦物由于化學成分簡單以及含量較少,采用理論化學式。

岳陽礦樣中伊利石精修獲得的晶體化學式為K0.92Al2(Si3Al1)O10(OH)2,聯(lián)合礦物含量計算出SiO275.89%、Al2O317.18%和K2O 4.75%,接近XRF實測結(jié)果(SiO274.77%、Al2O315.89%和K2O 4.68%,見表6)。相似地,取至石家莊鑫磊樣品中伊利石晶體化學式為K0.98Al2(Si3Al1)O10(OH)2,據(jù)此計算出化學組成為SiO277.76%、Al2O315.54%、K2O 4.35%和Na2O 0.58%,接近XRF分析結(jié)果(SiO277.53%、Al2O313.84%、K2O 3.92%和Na2O 0.38%,見表6)。吉林樣品中伊利石的晶體化學式為K0.89Al2(Si3Al1)O10(OH)2,計算出化學成分為SiO276.35%、Al2O314.79%、K2O3.03%、Na2O 2.03%和CaO 1.47%,接近XRF分析結(jié)果(SiO274.40%、Al2O312.42%、K2O 2.80%、Na2O 1.92%和CaO 1.80%,見表6)。

表6 天然伊利石礦樣化學組成

圖4更直觀地展示了計算成分與實測成分之間的關系。除了計算的Al2O3含量略高于對應的XRF分析值,其他元素都表現(xiàn)出很好的一致性。成分計算過程中將八面體全部認為由Al占據(jù),然而天然的伊利石八面體中的Al常被少量的Mg、Fe和Ti等元素類質(zhì)同象替代[26]。因此Rietveld計算的Al2O3含量略高于對應的XRF分析值,差值范圍為1.29%~2.37%。較小的誤差表明Rietveld定量分析天然伊利石礦樣可以獲得較高的精確度,應用效果好。

圖4 Rietveld計算獲得的化學成分與XRF實測的化學成分對比圖Fig.4 Comparison of the chemical compositions between the values calculated by the Rietveld method and the XRF measurement

3 結(jié)論

人工配制混合樣品以及天然樣品都證實了Rietveld全圖擬合法在定量分析伊利石礦樣中可以獲得較高的精確度,絕對誤差均小于±3%。影響定量分析的誤差來源主要為伊利石結(jié)構(gòu)模型、各物相中原子熱振動參數(shù)Uiso值以及樣品擇優(yōu)取向。為了獲得較高的精確度,建議在XRD實驗過程中,首先應仔細進行樣品前處理,采用合適的方法制備試樣,以及優(yōu)化測試條件以盡可能減弱擇優(yōu)取向。其次,在Rietveld結(jié)構(gòu)精修時則應選擇匹配度高的伊利石晶體結(jié)構(gòu)作為初始模型,同時應合理地設置各個物相的原子熱振動Uiso值。研究也表明,Rietveld全圖擬合法將在伊利石礦石質(zhì)量評價、工業(yè)提純加工以及實驗研究方面具有廣泛的應用前景。

致謝:感謝中國科學院廣州地球化學研究所王迎亞博士提供伊利石樣品。

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