陳奕,李森林
(廣東道氏技術(shù)股份有限公司,佛山 528000)
近年來,由于陶瓷全拋釉質(zhì)磚釉面光滑亮潔、時(shí)尚典雅、色彩絢麗等特點(diǎn),取得積極的市場反饋并被廣泛應(yīng)用于陶瓷產(chǎn)品的生產(chǎn)中[1]。但全拋釉在生產(chǎn)過程中需經(jīng)過淋釉、燒成、拋光等工藝處理,坯、釉、窯爐需相互配合,否則易出現(xiàn)痱子、凹釉、毛孔等釉面缺陷。因此,合理的釉料配方對(duì)全拋釉系列產(chǎn)品的穩(wěn)定生產(chǎn)至關(guān)重要。本文研究全拋釉配方體系,探索一種不需要或較少依賴于陶瓷生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)的配方研究方法,重點(diǎn)考察拋釉磚的釉面缺陷、防污等性能,通過多次連續(xù)正交試驗(yàn),逐步優(yōu)化原材料的種類及加入量,最終確定其最佳因素水平組合,從而實(shí)現(xiàn)新配方的研制。因此,本文為陶瓷釉料配方的研制提供了一種簡便研究方法。
本文選取釉料常用的鉀長石、鈉長石、白云石、石灰石、硅灰石、燒滑石、燒鋅、碳酸鍶、碳酸鋇、石英、煅燒氧化鋁、熔塊高嶺土13 種原材料,將其加入量和配比作為因素對(duì)釉面進(jìn)行考察。采用正交表L27(313),表頭設(shè)計(jì)如表1 所示[2-3]。熔塊成分見表2。
表1 L27(313)表頭設(shè)計(jì)
表2 熔塊成分表(%)
將表頭展開,計(jì)算各試驗(yàn)號(hào)的配方,如表3 所示。按配方稱取原材料,球磨7 min,在淋完底釉經(jīng)過噴墨機(jī)打圖后的600mm×600mm 磚坯上刮拋釉,烘干后經(jīng)輥道窯燒制40 min(Ferro 測溫環(huán),環(huán)溫1155 ℃),記錄釉面缺陷數(shù)量,拋光后檢測釉面防污性能。
表3 正交試驗(yàn)方案
測試釉面耐污染參考國標(biāo)GBT 3810.14-2006《陶瓷磚試驗(yàn)方法第14 部分耐污染性的測定》,采用英雄藍(lán)色墨水、黑藍(lán)紅三色記號(hào)筆為污染源,檢測釉面耐污染程度,將防污檢測按1~5 級(jí)進(jìn)行評(píng)測;采用觀測法記錄釉面缺陷數(shù)目;WGG60-E4 光澤度計(jì)測試釉面光澤度;采用SX2-4-16 智能管式梯度爐測試釉料溫度梯度。
本文重點(diǎn)考察的指標(biāo)是瓷磚的釉面缺陷和拋光后的防污性能,光澤度等性能作為參考因素,測試正交試驗(yàn)釉面的性能,結(jié)果如表4 所示。
表4 正交試驗(yàn)測試結(jié)果
根據(jù)表4,采用正交試驗(yàn)分析法分別計(jì)算各性能指標(biāo)對(duì)應(yīng)的平均值K 值和極差R 值,再以因素的水平作橫坐標(biāo),指標(biāo)的平均值K 值作縱坐標(biāo),畫出因素與指標(biāo)的關(guān)系圖[4],如圖1 所示。
圖1 因素與指標(biāo)關(guān)系圖
從圖1 中可以看出,根據(jù)極差R 值的大小排列出各因素的主次序列:對(duì)釉面缺陷影響因素由主到次分別是J、G、I、C、A、B、F、D、H、L、K、E;對(duì)防污性能影響因素由主到次分別是K、C、H、I、B、J、D、F、E、A、G、L。
綜合考慮釉面缺陷少、防污性能好的因素水平,選取最佳因素水平組合A2、B3、C2、D1、E2、F1、G1、H1、I1、J1、K1、L1。另外,雖然K3 的釉面缺陷少,但K 因素防污性能優(yōu)先級(jí)更高,因此綜合考慮下,取K1 水平。故確定K 因素為熔塊Ⅰ。現(xiàn)以上述最佳因素水平為中心展開新一輪L27(313)正交試驗(yàn),表頭設(shè)計(jì)如表5 所示。
表5 第二輪L27(313)表頭設(shè)計(jì)
將L27(313)正交試驗(yàn)表頭展開,考察指標(biāo)不變,釉面性能數(shù)據(jù)分析參照第一輪正交試驗(yàn),作因素與指標(biāo)關(guān)系圖,如圖2 所示。
圖2 第二輪因素與指標(biāo)關(guān)系圖
從圖2 中可以直觀反應(yīng)各因素水平對(duì)應(yīng)的釉面性能。根據(jù)圖2,綜合考慮釉面缺陷少、防污性能好的因素水平,選取最優(yōu)因素水平組合A3、B2、C3、D2、E2、F2、G3、H3、I3、J2、K1、L2。
根據(jù)測試結(jié)果,計(jì)算指標(biāo)對(duì)應(yīng)K、R 值,根據(jù)R 值大小排列各因素主次序列:
對(duì)釉面缺陷影響因素由主到次分別是A、B、L、D、H、I、J、E、G、F、C;
對(duì)防污性能影響因素由主到次分別是F、D、C、I、J、G、E、A、H、B、L。
經(jīng)過兩輪正交實(shí)驗(yàn),綜合考量對(duì)釉面缺陷和防污性能影響較大的因素,選取極差R 值較大的A、D、I、J 因素進(jìn)行L9(34)正交試驗(yàn),其他優(yōu)先級(jí)較后因素以最優(yōu)水平B2、C3、E2、F2、G3、H3、K1、L2 帶入配方。另對(duì)A、D、I、J因素展開試驗(yàn),表頭設(shè)計(jì)如表6 所示。
表6 第三輪L9(34)正交試驗(yàn)表表頭
將L9(34)正交試驗(yàn)表頭展開,考察指標(biāo)不變,釉面性能數(shù)據(jù)分析參照第一輪正交試驗(yàn),作因素與指標(biāo)關(guān)系圖,如圖3 所示。
圖3 第三輪正交試驗(yàn)因素與指標(biāo)關(guān)系圖
從圖3 中可以看出,對(duì)釉面缺陷影響因素由主到次分別是A、J、D、I;對(duì)防污性能影響因素由主到次分別是J、A、D、I。綜合考慮釉面缺陷、防污等性能,選取最佳因素水平組合A2、D2、I3、J3。
最后經(jīng)過L9(34)正交,最終確立了各原材料的最佳因素與水平,從而得出最優(yōu)配方I,按質(zhì)量百分比依次為鉀長石11.0、鈉長石32.9、石灰石11.7、白云石3.9、硅灰石8.8、燒滑石2.9、燒鋅2.3、碳酸鋇1.2、碳酸鍶2.3、石英8.2、氧化鋁3.5、熔塊Ⅰ3.9、高嶺土7.4。其成分見表7。
表7 配方I 成分表(%)
該配方I 經(jīng)過小試、中試、生產(chǎn)驗(yàn)證,生產(chǎn)的全拋釉瓷磚釉面缺陷少、防污性能好、發(fā)色和透感良好,基本滿足生產(chǎn)要求,各項(xiàng)性能指標(biāo)如表8 所示。
表8 配方I 釉料性能
綜上分析,本文經(jīng)多次連續(xù)正交試驗(yàn)設(shè)計(jì)的全拋釉最佳配方I 基本滿足要求。
本文通過連續(xù)正交試驗(yàn),逐步縮減所選原材料的水平范圍,最后設(shè)計(jì)出了一種性能較好的全拋釉配方。
(1)本文選擇了較大范圍的常用原材料、設(shè)計(jì)了較寬的因素水平,從全拋釉入手,重點(diǎn)考察釉面缺陷和防污的相關(guān)性能,通過連續(xù)正交試驗(yàn)法篩選,逐步確立了最優(yōu)的因素與水平的組合,最終篩選出一個(gè)最佳配方。該方法大大降低了配方研究對(duì)陶瓷生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)的依賴性。同時(shí),該方法對(duì)拋釉以外其他配方體系的研究也具有一定的指導(dǎo)意義。
(2)本方法得出的最優(yōu)配方,經(jīng)過生產(chǎn)檢驗(yàn),所生產(chǎn)陶瓷磚的釉面缺陷少、防污性能好、發(fā)色良好和透感較佳,各項(xiàng)性能指標(biāo)基本滿足生產(chǎn)要求。因此,本文所用方法在傳統(tǒng)陶瓷釉料配方的研制方面是切實(shí)可行的,為配方體系的研究提供了一種對(duì)陶瓷生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)要求相對(duì)較低的簡便方法。