廖 劍,黃 詰,戴邵武,梅 丹,楊 術(shù),馮 迪
(1.贛南師范大學(xué),江西贛州 341000;2.海軍航空大學(xué),山東煙臺(tái) 264001;3. 91899部隊(duì),遼寧葫蘆島 125000)
隨著模擬電路的廣泛應(yīng)用,模擬電路的故障診斷和性能評(píng)估成為研究人員關(guān)注的焦點(diǎn),學(xué)術(shù)界針對(duì)此問題展開了大量研究并取得了一系列成果。然而,相較于數(shù)字電路,模擬電路由于自身原因,其故障診斷主要存在以下問題:1)由于模擬元器件參數(shù)的連續(xù)性,故難以為其定義通用的故障模型;2)由于模擬元器件的容差效應(yīng),使模擬電路存在廣泛的非線性;3)實(shí)際被測(cè)電路的測(cè)試節(jié)點(diǎn)通常受限。傳統(tǒng)的模擬電路故障診斷方法,例如故障字典、參數(shù)識(shí)別方法已經(jīng)不能滿足實(shí)際需求。隨著人工智能技術(shù)的發(fā)展,神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)、支持向量機(jī)和深度學(xué)習(xí)等因其為模擬電路的故障診斷提供了可行的技術(shù)支持,已被廣泛應(yīng)用。這些方法中,特征提取不僅在性能診斷中發(fā)揮著重要作用,而且對(duì)故障診斷的結(jié)果也具有影響作用。
近年來,學(xué)者們提出了多種模擬電路故障的特征提取方法,包括時(shí)域特征、頻域特征和統(tǒng)計(jì)特征(范圍、均值、標(biāo)準(zhǔn)差、峰度和熵)等。采用從可及節(jié)點(diǎn)直接采集靜態(tài)電壓或電流來構(gòu)造故障特征集的方法,雖操作方便簡(jiǎn)單,但容易喪失電路狀態(tài)的動(dòng)態(tài)信息。針對(duì)特定電路構(gòu)造目標(biāo)函數(shù),提取電路最優(yōu)響應(yīng)頻率也是常用方法。文獻(xiàn)[13]采集電路頻率響應(yīng)曲線構(gòu)造概率密度函數(shù),在最大化特征辨識(shí)力的同時(shí),最小化特征間的冗余信息,提取最優(yōu)頻率作為特征值,方法極其復(fù)雜,且缺乏通用性。采用信號(hào)處理方法對(duì)電路響應(yīng)信號(hào)進(jìn)行分析,是當(dāng)前研究的重點(diǎn)。文獻(xiàn)[15]采集節(jié)點(diǎn)信號(hào)進(jìn)行傅里葉變換(Fourier Transform,F(xiàn)T),在頻域中進(jìn)行分析,無法提供信號(hào)的任何時(shí)域信息,且不能處理非平穩(wěn)信號(hào);文獻(xiàn)[16]選擇db2小波作為小波基函數(shù),對(duì)響應(yīng)信號(hào)進(jìn)行5 層多分辨率分解,得到6個(gè)分解系數(shù)序列構(gòu)造特征集,可能導(dǎo)致信號(hào)有效成分的損失;文獻(xiàn)[17]也采用小波變換(Wavelet Transform,WT)提取關(guān)鍵點(diǎn)響應(yīng)信號(hào)在低頻和高頻頻帶的能量構(gòu)造特征,但如何選取最優(yōu)小波函數(shù)仍是難點(diǎn)。
當(dāng)前,分?jǐn)?shù)階時(shí)頻變換方法受到越來越多研究者的重視,應(yīng)用領(lǐng)域不斷擴(kuò)大,如應(yīng)用于模擬電路的故障特征提取。與傳統(tǒng)時(shí)頻分析相比,分?jǐn)?shù)階時(shí)頻分析可以看作是1 種廣義時(shí)頻分析法,其具有無窮多個(gè)變換空間,能展現(xiàn)出更多的信號(hào)局部特征。Luo、Song 等基于分?jǐn)?shù)階傅里葉變換(Fractional Fourier Transform,F(xiàn)RFT),提出了基于最優(yōu)FRFT域的模擬電路故障特征提取方法。此類方法受FRFT的時(shí)頻平面旋轉(zhuǎn)原理啟發(fā),認(rèn)為在時(shí)頻平面上存在耦合的故障響應(yīng)信號(hào),在旋轉(zhuǎn)到合適的分?jǐn)?shù)階平面上時(shí)可以解耦,使得原本難以區(qū)分的信號(hào)在FRFT 域中變得相對(duì)容易。因此,文獻(xiàn)[14][21]都是將采集的原始時(shí)域數(shù)據(jù)映射到某一FRFT域空間中,試圖在合適的FRFT域中完成故障的分類,以類別可分性測(cè)度為目標(biāo),利用智能尋優(yōu)算法,搜索最優(yōu)的分?jǐn)?shù)階值,認(rèn)為在相應(yīng)的階FRFT 域空間中,各故障狀態(tài)下的響應(yīng)信號(hào)可分性最佳并驗(yàn)證了其可行性。基于FRFT的故障特征提取方法避免了小波基函數(shù)的選擇問題,同時(shí),算法中的值還增加了該方法的靈活性。
盡管基于最優(yōu)FRFT的模擬電路故障特征提取提供了1種新方法,然而,如何快速地確定FRFT的最優(yōu)值卻是個(gè)難點(diǎn),這需要經(jīng)過大量的計(jì)算。由于算法僅僅考慮了信號(hào)在1個(gè)最優(yōu)FRFT域的特征變換,而忽略了在其他FRFT 域中的信號(hào)特性,故提取的故障特征信息有限。文獻(xiàn)[18][20]分別利用FRFT 計(jì)算輸出節(jié)點(diǎn)的分形維數(shù)和的信息熵提取特征,但分形維數(shù)的計(jì)算復(fù)雜度高,信號(hào)的采集在實(shí)際中較難操作。因此,受FRFT 時(shí)頻旋轉(zhuǎn)變換特征提取信息理念的啟發(fā)并針對(duì)上述方法存在的不足,本文提出1 種在FRFT 全域空間中,將計(jì)算相應(yīng)時(shí)頻域的局部化特征作為故障特征的方法,通過把時(shí)域空間中的響應(yīng)信號(hào)映射到不同的FRFT域中,分別計(jì)算不同階FRFT域下原信號(hào)的能量譜峰值并將其作為故障特征。實(shí)驗(yàn)中,將本文方法與其他特征提取方法進(jìn)行比較,驗(yàn)證了本文方法能顯著增強(qiáng)不同故障特征的可分性,從而提高故障診斷準(zhǔn)確率,同時(shí),時(shí)間復(fù)雜度也有明顯改善。
1993 年,D.Mendlovic 和H.M.Ozaktas 提出FRFT,它是1 種在時(shí)頻域內(nèi)表示信號(hào)的新方法,克服了傳統(tǒng)FT 單一頻率變換的特點(diǎn),是1 種統(tǒng)一的時(shí)頻變換,具有時(shí)域和頻域的雙域特性。近幾年,F(xiàn)RFT引起相關(guān)研究人員的關(guān)注,使諸如信號(hào)分析、模式識(shí)別等得到了廣泛和成功的應(yīng)用。
通常FRFT 可以有若干種不同的定義方式,但每種定義彼此間都是等價(jià)的,其中,域的( )函數(shù)的階FRFT的1種定義形式為:
式(2)中,F(xiàn)RFT是以或?yàn)閰?shù)定義的,因此,域也稱為FRFT 域。階的FRFT 域是在()平面上按逆時(shí)針方向旋轉(zhuǎn)角度所產(chǎn)生的坐標(biāo)空間。式(1)的定義中,取值范圍較廣,但由FRFT 的性質(zhì)可知,一般只需在按逆時(shí)針方向旋轉(zhuǎn)的0 ~π 2 角度范圍內(nèi)分析即可。由于FRFT 的對(duì)稱性和周期性,其他角度的信號(hào)分析結(jié)果與0 ~π 2 的旋轉(zhuǎn)角度相一致,因此,分析時(shí),一般只需取0 ~1。當(dāng)=0 時(shí),F(xiàn)RFT 就是原函數(shù),=1 時(shí)是普通的傅里葉變換。從0變到1,信號(hào)平滑地從原時(shí)域變到頻域,F(xiàn)RFT以連續(xù)的參數(shù)內(nèi)插在原函數(shù)和其普通傅里葉變換之間,能表征出信號(hào)從時(shí)域逐步變化到頻域的所有特性。與WT 一樣具有良好的時(shí)頻局部化特性,很適合時(shí)變信號(hào)的處理和特征提取。
電路故障時(shí),其響應(yīng)信號(hào)常含有非平穩(wěn)信號(hào),其時(shí)頻域特征隨著時(shí)間變化,電路中某些元器件故障常引起響應(yīng)信號(hào)各頻率成分的能量變化。由于FRFT具有非平穩(wěn)信號(hào)的表示能力,且同一信號(hào)在不同的FRFT 域中可表現(xiàn)出不同的時(shí)頻局部能力,信號(hào)能量也表現(xiàn)出不同的時(shí)頻聚集性。因此,可以利用FRFT,使值從0連續(xù)變化到1,信號(hào)能量譜將呈現(xiàn)不同的時(shí)頻聚集性,從而刻畫出信號(hào)的局部細(xì)節(jié)變化情況。據(jù)此,本文提出1種基于FRFT域的能量譜峰值局部特征提取方法。
基本原理如下:電路發(fā)生故障時(shí),其響應(yīng)信號(hào)往往會(huì)發(fā)生變化,有時(shí)在時(shí)域或頻域中其可分性差、特征差異并不明顯,特別是當(dāng)電路發(fā)生“軟”故障且電路存在容差時(shí),其不同故障的特征信息重疊嚴(yán)重,更不易分辨。本文提出采用將各故障狀態(tài)下(以下如無特別說明均包含正常狀態(tài))的響應(yīng)信號(hào)映射到所有FRFT域中(值遍歷0到1),然后,取相應(yīng)FRFT域中的能量譜峰值作為信號(hào)局部化特征的反映。由FRFT的性質(zhì),信號(hào)在某一FRFT 域中必然存在相應(yīng)的能量峰值點(diǎn),而不同信號(hào)在同一FRFT 域中的能量譜峰值將會(huì)發(fā)生變化,因此,可以利用故障響應(yīng)信號(hào)在所有FRFT 域的能量譜峰值構(gòu)成故障特征,建立故障特征庫(kù),實(shí)現(xiàn)故障診斷。然而,在實(shí)際的計(jì)算中,不可能計(jì)算連續(xù)階FRFT域的所有能量譜峰值,但由FRFT的性質(zhì)可知,在軸上,值的微小變化僅引起S()的微小變化,因此,我們可以將∈[01] 均勻地劃分為若干個(gè)區(qū)段,計(jì)算相應(yīng)值下的FRFT能量譜峰值,構(gòu)成特征向量。為了兼顧特征提取精度和計(jì)算量,需要選取合適的劃分區(qū)段值。
基于FRFT 域的能量譜峰值故障特征提取算法,步驟如下。
特征提取流程圖,如圖1所示。
圖1 基于FRFT域的能量譜峰值特征提取流程圖Fig.1 Flow chart of feature extraction based on the peak of energy spectrum in FRFT domain
本文算法的時(shí)間復(fù)雜度主要由1.2節(jié)中的步驟2)決定。由文獻(xiàn)[23]可知,單個(gè)信號(hào)的1次FRFT的時(shí)間復(fù)雜度為(log),為樣本的維度。于是可得單個(gè)信號(hào)的區(qū)段全部FRFT 的時(shí)間復(fù)雜度為(log)。因此,對(duì)于樣本個(gè)數(shù)為的數(shù)據(jù)集,本文算法的時(shí)間復(fù)雜度為(log)。通常情況下,對(duì)FRFT域變換的值在[01] 之間的分段相對(duì)于樣本維度和樣本個(gè)數(shù)都較小,所以,本文算法的時(shí)間復(fù)雜度可近似為(log)。
文獻(xiàn)[18][20]在某一FRFT 域中計(jì)算分形維數(shù)和信息熵都可采用“盒子法”,它們的時(shí)間復(fù)雜度最小為(log),因此,文獻(xiàn)[18][20]的總時(shí)間復(fù)雜度為((+1)log),亦近似為(log)。而文獻(xiàn)[14]基于類內(nèi)和類間距離,利用遺傳算法搜索最優(yōu)FRFT 的故障特征提取方法的單次搜索時(shí)間復(fù)雜度為(log+),其中,(log)代表FRFT 的時(shí)間復(fù)雜度,()是計(jì)算數(shù)據(jù)集中任意2 個(gè)樣本之間歐氏距離的時(shí)間復(fù)雜度。對(duì)于種群個(gè)數(shù)為,最大遺傳代數(shù)為的搜索過程,考慮在最壞情況下,文獻(xiàn)[14]的算法時(shí)間復(fù)雜度為((log+))。由此可見,本文算法時(shí)間復(fù)雜度最小,文獻(xiàn)[18][20]次之,都低于文獻(xiàn)[14]或[21]算法的時(shí)間復(fù)雜度。
以兩級(jí)四運(yùn)放低通濾波器電路(two-stage fouroperational-amplifier biquad low-pass filter,TSLPF)
為例進(jìn)行分析驗(yàn)證。該電路原理圖及其標(biāo)稱值,如圖2 所示。圖中,電阻單位為Ω,電容單位為F,輸入為,輸出為。仿真過程中,設(shè)定電路中電容正常容差為10%,電阻正常容差為5%。參照文獻(xiàn)[8],假設(shè)電路中的典型故障元件為~,、,~、~、、和,15種“軟”故障的詳細(xì)情況,如表1所示。
表1 TSLPF“軟”故障模式Tab.1 Soft fault modes in TSLPF circuit
圖2 TSLPF電路Fig.2 TSLPF circuit
根據(jù)表1,分別對(duì)電路的各種故障狀態(tài)進(jìn)行仿真,實(shí)驗(yàn)中每次只設(shè)置1個(gè)故障值(Monte-Carlo隨機(jī)),其余元器件在其容差范圍內(nèi)變化。給電路施加電壓為5 V、寬度為10 μs的脈沖激勵(lì),對(duì)電路進(jìn)行瞬態(tài)分析,設(shè)置PSpice 運(yùn)行時(shí)間為400 μs,采樣率為500 K/s,每種故障狀態(tài)進(jìn)行50 次Monte-Carlo 分析,采樣800 組數(shù)據(jù),每組數(shù)據(jù)201 個(gè)采樣點(diǎn)。各種故障狀態(tài)下的部分輸出波形,如圖3所示。上述各種故障狀態(tài)下,5個(gè)樣本利用本文方法提取的電路歸一化能量譜峰值特征(對(duì)∈[0,1]進(jìn)行了21區(qū)段劃分),如圖4所示。
圖3 TSLPF電路各種故障狀態(tài)下的脈沖響應(yīng)Fig.3 Impulse response of TSLPF circuit under different fault status
圖4 TSLPF電路各種故障狀態(tài)下的歸一化能量譜峰值Fig.4 Normalized peak of energy spectrum of TSLPF circuit under different fault status
特征向量的好壞主要看其用于故障分類時(shí)取得的診斷精度,因此,本文采用最近鄰分類器對(duì)每種方法提取的故障診斷特征進(jìn)行分類測(cè)試對(duì)比。實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)采用隨機(jī)抽取的方法,其中,30 組數(shù)據(jù)用于訓(xùn)練分類器,20 組數(shù)據(jù)用于測(cè)試分類器,且每次實(shí)驗(yàn)均重復(fù)10次,計(jì)算其平均分類精度。表2記錄了文獻(xiàn)[14][18][20]和本文方法提取的特征向量取得的分類精度。須要指出的是,由于文獻(xiàn)[14][18][20]中已經(jīng)給出基于FRFT的故障特征提取方法與時(shí)域、頻域、傳統(tǒng)時(shí)頻域特征提取方法的比較結(jié)果,并一致驗(yàn)證了其特征提取的結(jié)果要優(yōu)于上述相關(guān)算法,因此,本文只作FRFT方法的比較。
表2 各種算法TSLPF電路的故障診斷精度Tab.2 Fault diagnosis accuracies of TSLPF circuit based on different feature extraction algorithms
表3同時(shí)還給出了本文方法對(duì)上述800組數(shù)據(jù)進(jìn)行特征提取的平均運(yùn)行時(shí)間并與文獻(xiàn)[14][18][20]算法進(jìn)行了比較。
表3 各算法的平均運(yùn)行時(shí)間Tab.3 Average run-time of different algorithms單位:s
實(shí)驗(yàn)中,將文獻(xiàn)[14]算法中遺傳算法初始種群個(gè)數(shù)設(shè)置為10,最大遺傳代數(shù)設(shè)置為20,在0 ~1之間進(jìn)行搜索。所有特征提取算法均使用MATLAB 2014b進(jìn)行編程,程序運(yùn)行在處理器為Intel(R)Core(TM)i7-6700 CPU@3.40 GHz、內(nèi)存為8 G的計(jì)算機(jī)上,操作系統(tǒng)為Windows 7。
通過圖3、4和表2、3可以得到以下結(jié)論。
1)與直接采樣原始數(shù)據(jù)相比,本文方法提取的故障特征向量使相同故障模式之間的聚集性更好,而不同故障模式之間仍然保持了一定的可分度(如圖3 和圖4)。
2)大部分故障模式的分類診斷實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,與文獻(xiàn)[14]算法相比,本文方法不僅可行,還能有效改善故障特征的可分性,提高故障診斷精度。例如,對(duì)于電路中最難診斷的↑、↓和↑故障,使用本文方法均取得了91%以上的診斷率(見表2),遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于文獻(xiàn)[14]算法,與文獻(xiàn)[18][20]算法取得結(jié)果相當(dāng),甚至在某些故障模式下更優(yōu)。因此,驗(yàn)證了本文方法的有效性。
3)通過表3可以看出,本文方法與文獻(xiàn)[18][20]算法都可以通過靈活調(diào)節(jié)值的細(xì)分程度來調(diào)節(jié)特征的維度,而文獻(xiàn)[14]算法取得的原始特征維數(shù)只能是固定的,即為采樣點(diǎn)數(shù);本文方法只在21 維的情況下就取得了優(yōu)于文獻(xiàn)[14]算法的201維特征。
4)對(duì)于算法的執(zhí)行效率,從表3 可以看出,其運(yùn)行時(shí)間與1.3 節(jié)的理論分析結(jié)果基本一致,在所有的特征提取維數(shù)和不同算法中,本文方法效率都是最好的,明顯優(yōu)于文獻(xiàn)[14]算法。同時(shí),在保證診斷率的情況下,運(yùn)行時(shí)間要比文獻(xiàn)[18][20]算法更少,這對(duì)大規(guī)模電路故障特征提取來說是非常重要的。但同時(shí),也應(yīng)該注意到,隨著特征提取維度的增加,本文方法與文獻(xiàn)[18][20]算法的運(yùn)行時(shí)間也相應(yīng)地成倍增加,這些結(jié)論均與1.3節(jié)的理論分析相一致。
現(xiàn)采用實(shí)際物理電路對(duì)本文方法進(jìn)行驗(yàn)證,實(shí)驗(yàn)采用Sallen-Key 帶通濾波器電路,它是1 個(gè)被眾多文獻(xiàn)以相關(guān)方法驗(yàn)證過的標(biāo)準(zhǔn)電路之一,其電路拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)及元件標(biāo)稱值,如圖5 所示。制作的面包板實(shí)驗(yàn)板,如圖6所示。
圖5 Sallen-Key原理電路圖Fig.5 Schematic diagram of Sallen-Key circuit
圖6 Sallen-Key電路的面包板實(shí)驗(yàn)圖Fig.6 Breadboard experiment diagram of Sallen-Key circuit
在仿真環(huán)境中,PSpice 能夠在元件的正常容差范圍內(nèi)隨意改變其標(biāo)稱值,但對(duì)于實(shí)際的物理電路來說,因?yàn)樾枰粩嗟靥鎿Q元件或在元件的容差范圍內(nèi)手動(dòng)調(diào)整參數(shù)值,倘若仿照仿真程序采集所有條件下的故障數(shù)據(jù),其工作量將是非常巨大的。另外,受實(shí)驗(yàn)條件所限,對(duì)于實(shí)際電路,本文僅使用3個(gè)可調(diào)電阻來考察元件容差的影響,且電路中5 nF 電容以4.7 nF電容代替,故障時(shí)2.5 nF 電容以2.7 nF 電容代替。正常狀態(tài)下的元件值被隨機(jī)地設(shè)置在容差范圍內(nèi)。電路故障模式與文獻(xiàn)[8]一致,如表4所示。
表4 實(shí)際Sallen-Key電路故障模式Tab.4 Fault modes of actual Sallen-Key circuit
實(shí)際電路數(shù)據(jù)采集時(shí),測(cè)試激勵(lì)為5 V、10 μs 的方波脈沖信號(hào),采用Tektronix公司的任意函數(shù)發(fā)生器(AFG3102)產(chǎn)生,測(cè)試輸入為。利用北京科瑞興業(yè)科技有限公司的KPCI-1817卡采集節(jié)點(diǎn)的輸出電壓信號(hào)并進(jìn)行保存,設(shè)置為單次采樣,且采樣率為500 K/s,采用半滿中斷,每次采樣1 024 個(gè)點(diǎn),并根據(jù)實(shí)際情況取前181個(gè)點(diǎn)作故障分析。由于在采樣的過程中,板卡和函數(shù)發(fā)生器之間不同步,需要在采集的數(shù)據(jù)中手動(dòng)選取數(shù)據(jù)起始點(diǎn),因此,考慮到工作量,本文對(duì)每類故障模式只采集10個(gè)樣本,實(shí)際電路采集的故障波形,如圖7所示(每種故障狀態(tài)隨機(jī)選擇3個(gè)樣本進(jìn)行顯示)。
圖7 實(shí)際Sallen-Key電路各種故障狀態(tài)的脈沖響應(yīng)Fig.7 Impulse response of actual Sallen-Key circuit under different fault status
采用本文方法對(duì)上述采集數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,圖8為采用本文方法對(duì)各故障狀態(tài)進(jìn)行歸一化FRFT域能量譜峰值特征處理得到的部分結(jié)果,實(shí)驗(yàn)中將FRFT值均分為11個(gè)區(qū)段。
圖8 實(shí)際Sallen-Key電路各種故障狀態(tài)下的歸一化能量譜峰值Fig.8 Normalized peak of energy spectrum of actual Sallen-Key circuit under different fault status
為了更加客觀地評(píng)價(jià)不同特征提取方法的診斷性能,同樣,采用最近鄰分類器對(duì)上述取得的特征進(jìn)行診斷,診斷結(jié)果,如表5 所示。仿真實(shí)驗(yàn)已表明,文獻(xiàn)[18][20]算法與本文算法診斷精度相當(dāng),差別在于算法運(yùn)行時(shí)間,但實(shí)際試驗(yàn)中樣本量太少,運(yùn)行時(shí)發(fā)現(xiàn)基本無異,所以沒有列出各種算法的運(yùn)行時(shí)間,同時(shí)也并未在表5中列出其他算法的診斷精度。因樣本有限,在分類診斷過程中,所有的樣本既用于訓(xùn)練分類器也用于測(cè)試分類器。
表5 各種算法的電路故障診斷精度Tab.5 Fault diagnosis accuracies based on different feature extraction algorithms
從圖7、8和表5中可以看出:
1)對(duì)于實(shí)際的電路故障診斷,由于其容差設(shè)置的限制,實(shí)際采集的數(shù)據(jù)受容差的影響有限,數(shù)據(jù)變化都較為集中,相同故障的特征有更好的聚集性,將更有利于分類;
2)特別的,對(duì)于↓故障,從原始采集的數(shù)據(jù)來看,由于此時(shí)電路構(gòu)成的線性系統(tǒng)已處于發(fā)散狀態(tài),如圖7i),微小的容差變化導(dǎo)致電路的脈沖響應(yīng)變化差異較大,但本文方法取得的故障特征卻相對(duì)比較集中,如圖8i),究其原因可以認(rèn)為,對(duì)于↓故障,其造成的FRFT域能量變化規(guī)律是一致的,因此,其取得特征的一致性也較好;
3)本文方法對(duì)于所有故障的診斷均取得了100%的正確率,與文獻(xiàn)[24]的最好診斷結(jié)果一致,但文獻(xiàn)[14]算法卻在↑和↓故障上出現(xiàn)了“誤診”,其故障診斷率只有99%,因此,使用本文方法得到的特征樣本確實(shí)能有效提高模擬電路的故障診斷率。
針對(duì)模擬電路的故障診斷問題,為提高故障特征的可診性,本文提出1種基于FRFT域能量譜峰值的特征提取方法。該方法是基于不同信號(hào)在不同F(xiàn)RFT域的時(shí)頻聚集性將發(fā)生變化,通過提取不同F(xiàn)RFT 域的局部信息來區(qū)分故障的。采用仿真和物理電路驗(yàn)證了該方法的有效性,并與其他相關(guān)方法進(jìn)行了性能對(duì)比。結(jié)果表明,本文方法能夠在所有FRFT 域中更全面地獲取不同故障響應(yīng)信號(hào)的細(xì)微差異,有利于提高故障特征的可分性,同時(shí),算法時(shí)間復(fù)雜度也有明顯改善。雖然本文方法提高了特征的可分性,但隨之而來的問題卻是值的細(xì)分程度問題,同時(shí),如何對(duì)特征維度進(jìn)行優(yōu)化也是1個(gè)有待研究的問題。