林雨辰,董 航,葉 新,費(fèi)義艷,張程睿,方 偉,衣小龍
(1.中國(guó)科學(xué)院 長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所,吉林 長(zhǎng)春 130033;2.中國(guó)科學(xué)院大學(xué),北京 100049;3.復(fù)旦大學(xué) 信息科學(xué)與工程學(xué)院 光科學(xué)與工程系,上海 200433)
太陽(yáng)是地球唯一外部能量輸入源,是生態(tài)系統(tǒng)形成、發(fā)展及變化的驅(qū)動(dòng)力[1]。太陽(yáng)總輻射照度(total solar irradiance,TSI)是地球氣候模型的關(guān)鍵參量之一,長(zhǎng)期精準(zhǔn)監(jiān)測(cè)空間TSI 可為氣候變化預(yù)測(cè)、環(huán)保政策制定提供科學(xué)依據(jù)[2]。地球輻射能量不平衡真值是揭開(kāi)氣候變暖諸多因素的內(nèi)在關(guān)系和量化預(yù)測(cè)氣候變化趨勢(shì)至關(guān)重要的因素。為了地球輻射能量不平衡真值,世界各國(guó)科學(xué)家開(kāi)展了大量的理論和數(shù)據(jù)分析得到不平衡量約0.6 W·m-2,因此太陽(yáng)輻射測(cè)量不確定度必須優(yōu)于0.03%,才能滿足地球能量不平衡真值的掌握預(yù)測(cè),量化研究影響氣候變化的諸多因素[3]。
歐美及我國(guó)自1978 年開(kāi)展空間TSI 觀測(cè)實(shí)驗(yàn),建立40 余年空間TSI 觀測(cè)序列,不僅獲得了太陽(yáng)常數(shù),也揭示了不同時(shí)間尺度的 TSI 變化規(guī)律,測(cè)量數(shù)據(jù)一致性達(dá)到0.3%[4],但依然無(wú)法滿足氣候變化研究領(lǐng)域的精度需求。
為實(shí)現(xiàn)高精度TSI 測(cè)量,一方面要提升儀器研制水平,另一方面要提升TSI 定標(biāo)精度[5]。目前我國(guó)TSI 定標(biāo)采用的是外場(chǎng)定標(biāo)方法,受世界輻射基準(zhǔn)不確定度、地基太陽(yáng)輻射穩(wěn)定性、真空空氣不等效性等影響,定標(biāo)不確定度難以突破0.2%。因此我國(guó)開(kāi)展了溯源至低溫輻射計(jì)的TSI 定標(biāo)技術(shù)研究[6],將TSI 定標(biāo)不確定度改善至0.03%。低溫輻射計(jì)是世界公認(rèn)的光輻射計(jì)量初級(jí)標(biāo)準(zhǔn)[7],以低溫輻射計(jì)為基準(zhǔn)源,可以解決傳統(tǒng)定標(biāo)方法中基準(zhǔn)源絕對(duì)精度低的問(wèn)題[8]。在真空環(huán)境下,通過(guò)Y 型共光路測(cè)量裝置[9],低溫輻射計(jì)與太陽(yáng)輻射計(jì)利用一維位移分時(shí)測(cè)量同一輻照度定標(biāo)光源,可以縮短定標(biāo)鏈路,消除真空空氣不等效、窗口透過(guò)率等影響。輻照度定標(biāo)光源應(yīng)分別覆蓋低溫輻射計(jì)和太陽(yáng)輻射計(jì)入瞳,輻照度需達(dá)到一個(gè)太陽(yáng)常數(shù),穩(wěn)定性需優(yōu)于0.02%,空間均勻性優(yōu)于±1%,實(shí)驗(yàn)室現(xiàn)有光源難以達(dá)到以上指標(biāo)。單色激光光源具備方向性好、功率穩(wěn)定、亮度高等優(yōu)點(diǎn),廣泛應(yīng)用于輻射定標(biāo)領(lǐng)域[10-11]。但激光截面振幅分布遵守高斯函數(shù),簡(jiǎn)單通過(guò)擴(kuò)束獲得的面光源空間均勻性差,因此亟需研究一種可實(shí)現(xiàn)高均勻性、高穩(wěn)定性輻照度定標(biāo)光源的獲取方法[12]。
本文提出了通過(guò)振鏡掃描的方式來(lái)獲取高均勻、高穩(wěn)定的面光源方案,建立基于激光快速掃描的光源模擬仿真模型,設(shè)計(jì)以快速掃描振鏡和準(zhǔn)直鏡頭為核心的光學(xué)系統(tǒng),建立空間均勻、功率穩(wěn)定的輻照度定標(biāo)光源;設(shè)計(jì)輻照度定標(biāo)光源空間均勻性、穩(wěn)定性檢測(cè)方法,開(kāi)展檢測(cè)實(shí)驗(yàn)。
輻照度定標(biāo)光源為面光源,并覆蓋輻射計(jì)入瞳。假設(shè)激光沿 +z方向傳播,由激光器發(fā)出的光束,其振幅分布函數(shù)是1 個(gè)高斯函數(shù),如圖1 所示。z位 置截面內(nèi)的振幅分布A可以通過(guò)式(1)計(jì)算:
式中:ω(z)為z位置的光斑半徑;ω0為束腰半徑;A0為最大振幅;x和y為截面內(nèi)位置坐標(biāo)。擴(kuò)束的激光振幅依然屬于高斯分布,空間均勻性差,不能作為輻照度定標(biāo)光源。
激光掃描面積為S的區(qū)域,通過(guò)高斯光束疊加將激光擴(kuò)展為面光源,可以同時(shí)滿足穩(wěn)定性和空間均勻性要求。對(duì)高斯函數(shù)在x、y方向上以固定間距進(jìn)行疊加,仿真效果圖如圖2 所示??梢?jiàn)在高斯函數(shù)的疊加中心區(qū)域?qū)⑿纬? 個(gè)均勻區(qū)域。面光源的輻照度IS可以通過(guò)振幅分布的積分得到:
圖2 高斯光束疊加圖Fig.2 Superposition diagram of Gaussian beam
為獲取均勻的面光源,理論上可通過(guò)組合疊加完全相同的高斯激光束實(shí)現(xiàn),但實(shí)際上即使選用參數(shù)相同的激光器,其出射的高斯光束也是不盡相同的。此外,以較小間距疊加上百臺(tái)激光器成本較高,在工程上也難以實(shí)現(xiàn)。
由于實(shí)際因素的影響,本文選用快速掃描振鏡以獲取輻照度定標(biāo)光源。快速掃描振鏡采用光機(jī)掃描方式,通過(guò)機(jī)械裝置帶動(dòng)反射光束的偏轉(zhuǎn),實(shí)現(xiàn)激光光束在工作范圍內(nèi)移動(dòng)。其機(jī)械部分是由X、Y共2 個(gè)掃描頭組成的光束偏轉(zhuǎn)器,光束偏轉(zhuǎn)器安裝微小反射鏡片,通過(guò)打標(biāo)程序控制改變反射角度,使光束在工作范圍內(nèi)快速移動(dòng),并通過(guò)準(zhǔn)直鏡調(diào)整發(fā)散角。鑒于掃描速度高、掃描方式可控、掃描分辨率高等優(yōu)勢(shì),伴隨驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)、打標(biāo)算法、圖形校正等技術(shù)發(fā)展,快速掃描振鏡廣泛應(yīng)用于光學(xué)檢測(cè)、雷達(dá)探測(cè)、激光加工等領(lǐng)域。激光步進(jìn)距離為 Δx和 Δy,掃描示意圖如圖3 所示??焖賿呙枵耒R可實(shí)現(xiàn)對(duì)單束激光高斯光束的多次疊加,形成大面積的均勻光源,因此本文將基于激光快速掃描的方式,建立輻照度定標(biāo)光源。
圖3 快速掃描振鏡掃描示意圖Fig.3 Scanning schematic diagram of fast scanning galvanometer
首先使激光光源通過(guò)振鏡系統(tǒng),通過(guò)二維掃描實(shí)現(xiàn)高斯光束疊加,形成均勻輻照度場(chǎng)。依次經(jīng)過(guò)x振鏡與y振鏡掃描后變?yōu)榘l(fā)散的面光源,再由準(zhǔn)直系統(tǒng)進(jìn)行準(zhǔn)直輸出,得到輻射光源。為使振鏡系統(tǒng)可用于不同譜段的輻射定標(biāo),得到探測(cè)器在不同波長(zhǎng)下的響應(yīng)度,準(zhǔn)直系統(tǒng)選用離軸拋面鏡以消除色差的影響。理論上,振鏡輸出的全部光線通過(guò)離軸拋面鏡的焦點(diǎn)才能形成互相平行的光束,但由于二維掃描振鏡無(wú)法做到定心掃描,有一部分光無(wú)法通過(guò)焦點(diǎn),不能做到完全平行。因此需對(duì)光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行分析,以確保發(fā)散角滿足參數(shù)需求。
在x面內(nèi),如圖4 所示,假設(shè)y振鏡不動(dòng),x振鏡轉(zhuǎn)動(dòng),使激光掃描一維區(qū)域,y振鏡上的反射點(diǎn)構(gòu)成1 條直線,在離軸拋面鏡上的反射點(diǎn)也構(gòu)成1 條直線。激光通過(guò)x振鏡的偏折,光束上邊緣與下邊緣的反向延長(zhǎng)線匯聚于點(diǎn)X′(x振鏡反射位置的鏡像點(diǎn))。因此,對(duì)于x振鏡,最小空間通光口徑的位置在X′處。
圖4 x面內(nèi)光路圖Fig.4 x-sided optical path diagram
在y面內(nèi),如圖5 所示,x振鏡的一維反射光在y振鏡面上的反射點(diǎn)等效于1 個(gè)新的線光源,線光源的兩個(gè)端點(diǎn)不需要y振鏡轉(zhuǎn)動(dòng)。在線光源中心點(diǎn)位置,y振鏡的擺動(dòng)角度最大,從而保證掃描到面光源邊緣,光束左邊緣與右邊緣的反向延長(zhǎng)線是發(fā)散的[13-14]。該反向發(fā)散延長(zhǎng)線與反向匯聚延長(zhǎng)線構(gòu)成最小的空間尺寸,當(dāng)最小通光口徑位于離軸拋面反射鏡焦點(diǎn)處時(shí),即可獲取發(fā)散角最小的輸出光束[15]。
圖5 y面內(nèi)光路圖Fig.5 y-sided optical path diagram
采用常規(guī)振鏡,其基本結(jié)構(gòu)如圖6 所示,振鏡有效通光口徑為10 mm,x、y振鏡間距為12.57 mm,光斑直徑取c=3 mm,計(jì)算x、y振鏡合適的轉(zhuǎn)角范圍。
圖6 振鏡幾何結(jié)構(gòu)圖Fig.6 Geometric structure diagram of galvanometer
首先對(duì)于x振鏡,如圖7 所示,振鏡有效通光口徑為10 mm,激光在x振 鏡上的照射長(zhǎng)度d可通過(guò)式(3)計(jì)算:
圖7 x振鏡結(jié)構(gòu)圖Fig.7 Structure diagram of x galvanometer
假設(shè) γ的初始角度為45°,d0=4.24 mm。使x振鏡留取0.5 mm 的余量,則d的最大值為4.5 mm,γ的最小值為42°,因此,x振鏡的轉(zhuǎn)動(dòng)角度范圍為±3°,即最大可以提供±3°的光束偏轉(zhuǎn)。同樣,y振鏡的最大轉(zhuǎn)動(dòng)角度也是±3°。
再考慮y振鏡,如圖8 所示,由于x振鏡和y振鏡的間距為12.57 mm,x振 鏡最大轉(zhuǎn)動(dòng)角度 θ的反射光線在y振鏡的投影距離為
圖8 y振鏡結(jié)構(gòu)圖Fig.8 Structure diagram of y galvanometer
根據(jù)(4)式可求得e=1.32 mm,對(duì)應(yīng)y振鏡上的實(shí)際距離t為1.862 mm??紤]光束直徑,y振鏡上的掃描范圍為4.862 mm,小于振鏡的尺寸,滿足設(shè)計(jì)需求。
由于振鏡掃描的輸出光源為發(fā)散的,因此在振鏡后邊加入離軸拋面鏡作為準(zhǔn)直系統(tǒng)來(lái)約束發(fā)散角[16-17]。令振鏡出射光在離軸拋面鏡上的入射角為30°,因此需要離軸角度30°。焦距、焦點(diǎn)位置的計(jì)算如下。
如圖9 所示,在x面內(nèi),通過(guò)前面的計(jì)算,得到最大偏轉(zhuǎn)角為θ=±3°。由于y振鏡與離軸拋面鏡的距離更近,y振鏡的偏轉(zhuǎn)角度 φ 應(yīng)大于θ。假設(shè)離軸拋面鏡的焦距為f,最小通光尺寸位于距離x振鏡的m處。當(dāng)θ=3°時(shí),取離軸拋面鏡處光源直徑為a,在離軸拋面鏡上的入射角為 β,則離軸拋面鏡上的反射長(zhǎng)度b為
圖9 x、y振鏡最大偏角示意圖Fig.9 Schematic diagram of maximum deflection angle of x and y galvanometer
離軸拋面鏡與x振鏡的間距可通過(guò)式(6)計(jì)算:
由幾何關(guān)系可知:
焦點(diǎn)位置m可由式(8)計(jì)算得到:
計(jì)算得到焦點(diǎn)位置m的值,進(jìn)而得到離軸拋面鏡焦距f,再計(jì)算最小通光尺寸:
根據(jù)這2 個(gè)參數(shù),可得到發(fā)散角為
根據(jù)上述計(jì)算方法,可通過(guò)x振 鏡偏轉(zhuǎn)角θ、光源直徑、x和y振鏡間距、離軸拋面鏡偏離角 β,計(jì)算離軸拋面鏡焦距f、焦點(diǎn)位置m、y振鏡偏轉(zhuǎn)角度 φ、發(fā)散角 α等參數(shù)。設(shè)置一系列x振鏡的偏轉(zhuǎn)角度,得到相應(yīng)的參數(shù)如圖10 所示。
圖10 各參數(shù)與x 振鏡偏轉(zhuǎn)角度的關(guān)系Fig.10 Relationship between each parameter and deflection angle of x galvanometer
由圖10 可知,當(dāng)0.5°<θ<3.0°、且 β=30°時(shí),y振鏡偏轉(zhuǎn)角度0.5°<φ<3.26°,離軸拋面鏡焦距125.7 mm<f<787.84 mm,焦點(diǎn)位置6.54 mm<m<6.32 mm,發(fā)散角0.004 015°<α<0.156 300°。
根據(jù)現(xiàn)有產(chǎn)品,最終確定輻照度定標(biāo)光源采用的振鏡以及離軸拋面鏡參數(shù)如下:
1)標(biāo)準(zhǔn)振鏡,通光口徑10 mm,間距12.57 mm,x振 鏡偏轉(zhuǎn)角度θ=±1.192°,y振鏡偏轉(zhuǎn)角度 φ=±1.23°;
2)離軸拋面鏡,離軸角30°,焦距326.69 mm,口徑76 mm。
依照上文所述選取合適的光學(xué)元件,搭建振鏡光源的光學(xué)系統(tǒng),整體實(shí)物圖如圖11 所示。
圖11 太陽(yáng)輻照度模擬光源實(shí)物圖Fig.11 Physical drawing of solar irradiance simulation light source
激光進(jìn)入振鏡系統(tǒng)前,需對(duì)光源的穩(wěn)定性進(jìn)行測(cè)試,采用經(jīng)國(guó)家計(jì)量院低溫輻射基準(zhǔn)定標(biāo)的陷阱探測(cè)器對(duì)入射光的穩(wěn)定性進(jìn)行監(jiān)視。光源1 h內(nèi)信號(hào)值如圖12 所示。
圖12 1 h 內(nèi)激光穩(wěn)定性Fig.12 Laser stability within 1 hour
以電壓信號(hào)的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)差評(píng)估光源穩(wěn)定性,計(jì)算得到參考光1 h 內(nèi)不穩(wěn)定性為0.012%,可知激光光源自身穩(wěn)定性良好。
振鏡系統(tǒng)采用3 種掃描路徑,分別為同心圓掃描、螺旋線掃描與蛇形掃描方式。掃描界面如圖13所示。
圖13 軟件界面Fig.13 Interface of software
通過(guò)CCD 相機(jī)獲取3 種振鏡輸出的掃描面光源,比較3 種掃描方式后選取最優(yōu)掃描方式進(jìn)行實(shí)驗(yàn)。
1)同心圓掃描
同心圓掃描是從最中心點(diǎn)開(kāi)始,每次向外推進(jìn)1 個(gè)圓環(huán),直到掃描完最大半徑的圓,其掃描圖樣為圓形。CCD 相機(jī)拍攝圖樣如圖14 所示。
圖14 同心圓形狀的掃描圖樣Fig.14 Scanning pattern in shape of concentric circle
通過(guò)圖14 可以清晰看到,振鏡以同心圓方式進(jìn)行掃描時(shí),由于工作過(guò)程中的高速振動(dòng),會(huì)導(dǎo)致圓心部分呈現(xiàn)一個(gè)突出的亮斑,嚴(yán)重影響了光斑整體均勻性。
2)螺旋線掃描
螺旋線掃描同樣是從中心點(diǎn)開(kāi)始,以中心點(diǎn)為圓心,每個(gè)點(diǎn)的半徑依次向外推進(jìn)直到整幅圖掃描完畢,螺旋線掃描圖樣同樣為圓形[18]。CCD 相機(jī)拍攝圖樣如圖15 所示。
圖15 螺旋線掃描圖樣Fig.15 Scanning pattern in shape of helix
可見(jiàn)螺旋線掃描方式下光斑的中心處與同心圓掃描時(shí)類似,中心由于振鏡的高速振動(dòng)掃描出不規(guī)則的形狀,使光斑均勻性降低。
3)蛇形掃描
蛇形掃描是從左上向右掃描1 行,掃描完1行后以蛇形進(jìn)行下1 行的掃描,以此類推直到這幅圖掃描完,掃描得到的光斑形狀為方形。選擇合適的曝光時(shí)間,CCD 相機(jī)獲取的圖像如圖16所示。
圖16 蛇形掃描圖樣Fig.16 Scanning pattern in shape of serpentine
根據(jù)拍攝的圖片以及蛇形掃描方式可知,當(dāng)1 副圖掃描完成后,光斑會(huì)從掃描的最后1 點(diǎn)返回左上角重新開(kāi)始第2 次掃描,這將導(dǎo)致振鏡在高頻率下連續(xù)振動(dòng)時(shí),由于慣性的存在產(chǎn)生一定量的超調(diào),在光斑邊緣處產(chǎn)生不規(guī)則形狀。雖然蛇形掃描方式使邊緣位置不規(guī)則,但實(shí)際操作通常選擇中心光斑區(qū)域進(jìn)行實(shí)驗(yàn)。比較3 種掃描方式可知,蛇形掃描方式由于是同心圓掃描與螺旋線掃描,因此本文采取蛇形掃描方式進(jìn)行實(shí)驗(yàn)。
1)均勻性評(píng)估
太陽(yáng)輻射計(jì)的主光闌尺寸為5 mm,CCD 相機(jī)尺寸為10 mm×12.5 mm,振鏡掃描出射的方形光斑邊長(zhǎng)為20 mm,可完全覆蓋CCD 的接收面以及輻射計(jì)的主光闌,對(duì)圖16(b)中圖樣進(jìn)行均勻性評(píng)估。如圖17 所示,將CCD 獲取圖樣進(jìn)行9 等分[19],對(duì)各區(qū)域的灰度值加和作為該區(qū)域總照度值,并通過(guò)(11)式對(duì)其不均勻性進(jìn)行評(píng)估:
圖17 不均勻性評(píng)估方法Fig.17 Nonuniformity assessment methods
計(jì)算得到9 個(gè)區(qū)域的信號(hào)值如表1 所示。最終測(cè)得輸出光斑的不均勻性為±0.87%,可認(rèn)為在Ф10 mm 內(nèi)光斑不均勻性優(yōu)于±1%。
表1 光斑不均勻性測(cè)試數(shù)據(jù)Table 1 Test data of spot nonuniformity
2)發(fā)散角測(cè)試
通過(guò)CCD 相機(jī)在不同位置拍攝光斑圖像,再由Matlab 編寫(xiě)程序來(lái)計(jì)算每幅圖像亮點(diǎn)的像素個(gè)數(shù)N,乘以每個(gè)像元面積s即為光斑面積S。利用矩形面積公式可得到移動(dòng)CCD 前后光斑邊長(zhǎng)變化。
設(shè)CCD 相機(jī)移動(dòng)間距為d,則發(fā)散角為
式中:a1為初始位置矩形光斑的邊長(zhǎng);a2為移動(dòng)后矩形光斑的邊長(zhǎng);Δa為單個(gè)像元的尺寸。將CCD 相機(jī)前后移動(dòng)200 mm,測(cè)得初始光斑邊長(zhǎng)為7.44 mm,移動(dòng)后光斑邊長(zhǎng)為7.38 mm,所選CCD 像元尺寸為4.54 μm,計(jì)算得到發(fā)散角為0.017°±0.000 023°。
3)輻照度測(cè)試
振鏡進(jìn)行蛇形掃描時(shí),掃描完成一幅圖的時(shí)間約為0.07 s,遠(yuǎn)小于太陽(yáng)輻射計(jì)的熱電平衡時(shí)間,因此振鏡掃描光源可用于輻射計(jì)的照度測(cè)試。
振鏡掃描光源的輻照度和穩(wěn)定性指標(biāo)采用太陽(yáng)輻照度絕對(duì)輻射計(jì)(SIAR-5a)檢測(cè)。SIAR-5a 通過(guò)外場(chǎng)定標(biāo),溯源至世界輻射基準(zhǔn)(WRR)[20],與SIAR-2c[21]的相對(duì)偏差小于0.1%,如圖18 所示。
圖18 外場(chǎng)比對(duì)定標(biāo)裝置Fig.18 Field comparison for calibration device
將振鏡掃描光源入射到太陽(yáng)輻射計(jì)中,太陽(yáng)輻射計(jì)測(cè)得照度值如表2 所示。
表2 太陽(yáng)輻射計(jì)照度測(cè)試數(shù)據(jù)Table 2 Test data of solar radiometer illuminance
可見(jiàn)測(cè)量結(jié)果具有良好的重復(fù)性且接近一個(gè)太陽(yáng)常數(shù),進(jìn)一步驗(yàn)證了通過(guò)振鏡掃描獲取的面光源可用于照度測(cè)試。由于真空共光路Y 字型比對(duì)系統(tǒng)的轉(zhuǎn)角誤差小于0.01°,根據(jù)真空窗口尺寸可計(jì)算出兩次測(cè)量時(shí)入瞳位置重疊面積占比為99.861%,±1%的均勻性將引入0.000 14%不確定度。因此基于激光掃描振鏡得到穩(wěn)定性優(yōu)于0.02%、空間均勻性優(yōu)于±1%的輻照度定標(biāo)光源,可實(shí)現(xiàn)0.03%的照度定標(biāo)需求。但本文中光源為單色激光,為實(shí)現(xiàn)太陽(yáng)輻射計(jì)由外場(chǎng)定標(biāo)至實(shí)驗(yàn)室定標(biāo)的轉(zhuǎn)變,仍需進(jìn)行不同譜段下的照度測(cè)試,并基于太陽(yáng)光譜輻射分布設(shè)計(jì)多光譜定標(biāo)擬合校正算法。
本文根據(jù)實(shí)驗(yàn)室難以獲取高均勻、高穩(wěn)定的面光源的問(wèn)題,提出了1 種基于振鏡掃描下的輻照度定標(biāo)光源。通過(guò)對(duì)初始參數(shù)設(shè)計(jì)、優(yōu)化,建立了整體光學(xué)系統(tǒng),令1 束穩(wěn)定的激光光源通過(guò)振鏡掃描系統(tǒng)。通過(guò)對(duì)比3 種不同掃描方式,最終選用蛇形掃描方式獲取面光源,并通過(guò)CCD 相機(jī)評(píng)估了輸出面光源的均勻性、發(fā)散角,驗(yàn)證發(fā)現(xiàn)輸出光斑的均勻性在Ф10 mm 范圍內(nèi)優(yōu)于±1%,發(fā)散角小于±0.26°。最后通過(guò)太陽(yáng)輻射計(jì)測(cè)試振鏡系統(tǒng)輸出的面光源照度值,測(cè)量結(jié)果達(dá)到一個(gè)太陽(yáng)常數(shù),穩(wěn)定性優(yōu)于0.02%。基于激光振鏡的高穩(wěn)定輻照度定標(biāo)光源的建立,滿足低溫輻射計(jì)定標(biāo)光源的參數(shù)需求,為我國(guó)實(shí)現(xiàn)高精度TSI 測(cè)量奠定關(guān)鍵技術(shù)基礎(chǔ)。