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CMOS數(shù)控振蕩器設計

2010-04-20 07:26:44周國飛鄔齊榮
電子與封裝 2010年8期
關鍵詞:鎖相環(huán)級數(shù)功耗

周國飛,龔 敏,鄔齊榮

(四川大學物理科學與技術學院微電子技術四川省重點實驗室,成都 610064)

1 引言

隨著數(shù)字信號處理越來越廣泛的應用,數(shù)字鎖相環(huán)DPLL(Digital Phase Lock Loop)在現(xiàn)代集成電路設計中也越來越普遍,特別是在數(shù)字信號處理器DSP和微處理器這類高性能數(shù)字電路應用中,數(shù)字鎖相環(huán)更是一種必不可少的電路。與傳統(tǒng)的模擬鎖相環(huán)(Analog Phase-Locked Loop)相比,由于數(shù)字鎖相環(huán)較少采用高阻值電阻、電容以及電感等非線性器件,可以采用與高速數(shù)字邏輯電路相兼容的制造工藝來設計和制造,也更加容易在數(shù)字系統(tǒng)中應用。

一個典型的數(shù)字鎖相環(huán)結構如圖1所示[1],數(shù)控振蕩器DCO(Digital-Controlled Oscillator)是其中最關鍵和核心的部分。數(shù)控振蕩器DCO輸出了可變頻率的振蕩波形,決定了整個鎖相環(huán)的噪聲性能和功耗。數(shù)字時間轉(zhuǎn)換器(Ti me-t o-D ig it al Converter)輸出了參考時鐘和反饋來的輸出時鐘之間的相位差,一個數(shù)字環(huán)形濾波器(Digital Loop Filter)代替了模擬環(huán)形濾波器來控制DCO,由與參考時鐘的相位差來控制DCO輸出或高或低的振蕩頻率,輸出振蕩信號由負反饋送到數(shù)字時間轉(zhuǎn)換器,使相位差減小,最終讓輸出信號頻率與參考時鐘頻率一致,即達到相位鎖定。整個DCO因此不再需要含有電容或電感,同時也減少漏電流和電源噪音的問題。

2 電路結構和原理

數(shù)控振蕩器有多種實現(xiàn)結構,本文設計了一種完全采用靜態(tài)CMOS邏輯電路的DCO結構,該DCO基于由CMOS反相器構成的環(huán)形振蕩器,其電路結構如圖2所示。

如圖2所示,每一級環(huán)形振蕩器均是5個CMOS反相器串聯(lián),并構成閉環(huán)負反饋回路,每個反相器的輸出也與下一級環(huán)形振蕩器對應的反相器輸出相連。根據(jù)巴克豪森準則:振蕩器要產(chǎn)生振蕩,那么環(huán)路增益必須大于等于一且總相移有360°。因此環(huán)路中進行反相的次數(shù)必須是奇數(shù),三個以上的奇數(shù)個CMOS反相器串聯(lián)閉環(huán)回路,在一個微小的激勵下都能夠產(chǎn)生振蕩。單級環(huán)形振蕩器的振蕩頻率由反相器個數(shù)和其本征延遲決定,用n表示反相器個數(shù),tr表示反相器上升沿延遲,tf表示反相器下降沿延遲,頻率可以用下式表示為[2]:

反相器下降延遲tf和上升延遲tr根據(jù)下列公式定義[2],式中Rn、Rp分別為圖2(b)中反相器PMOS管M0、M1和NMOS管M2、M3的等效電阻,Cout為反相器輸出電容。

設置電路中所有MOSFET的溝道長度都為90nm工藝設計規(guī)范的默認值0.1 μm。因為在常溫下N溝道中的電子遷移率大約是P溝道中的空穴遷移率的2~3倍,因此設置PMOS管的寬度Wp是NMOS管寬度Wn的2倍,使反相器中NMOS管和PMOS管的等效電阻近似相等,即Rn=Rp,也就使tr=tf。

下降延遲tr和上升延遲tf相等可以讓環(huán)形振蕩器產(chǎn)生對稱性比較好的波形,提高振蕩器的抗噪聲性能。

每一級的5個CMOS反相器由一個高電平有效的輸入信號控制,同時打開或者關閉,讓DCO中的環(huán)形振蕩器逐級打開或者逐級關閉。當打開的環(huán)形振蕩器級數(shù)越多,電路中的振蕩電流越強,電路輸出的振蕩頻率就越快。反之,當打開的環(huán)形振蕩器級數(shù)越少,電路中的振蕩電流減弱,但因為整個DCO中的環(huán)形振蕩器總級數(shù)是一定的,因此整個DCO中的等效電容并沒有減少,所以輸出的振蕩頻率就會下降。因此,該數(shù)控振蕩器是通過控制打開的環(huán)形振蕩器級數(shù),數(shù)字化地控制振蕩頻率,在DPLL中需要一個前置的數(shù)字環(huán)形濾波器提供輸入信號,控制各級振蕩器的打開或關閉。

當所有環(huán)形振蕩器都打開時,無論該DCO中總共有多少級環(huán)形振蕩器,DCO輸出的振蕩波形的最大頻率fmax都為式(1)表示的單個環(huán)形振蕩器振蕩頻率。輸出的最小頻率fmin也就是當只有一級環(huán)形振蕩器打開時的DCO輸出頻率。由此分析,DCO的增益可以如下式表示,式中N為電路中總的環(huán)形振蕩器級數(shù):

由上述分析可見,當該DCO中具有的總的環(huán)形振蕩器級數(shù)越多,可以輸出的fmin越小,KDCO也越小,也就是每一級環(huán)形振蕩器開關所控制的頻率增減也越小,振蕩器線性度也就越好。

3 仿真結果

本文基于STMicroelectronics的90nm CMOS混合信號工藝,采用Cadence Virtuoso設計軟件,使用Analog Environment中的Spectre仿真器進行仿真。由于電路完全與數(shù)字集成電路工藝兼容,因此也可以采用諸如硬件描述語言來設計電路。

由32級環(huán)形振蕩器構成的數(shù)控振蕩器DCO在Cadence Virtuoso中的仿真電路如圖3所示,在本文的仿真中,是使用直流電壓作為控制DCO各級環(huán)形振蕩器打開或者關閉的輸入信號。

電路中電源電壓VDD=1.2V,所有MOSFET均采用9 0 n m工藝庫中的標準電壓晶體管S V T(Standard Voltage Transistor),其閾值電壓為Vthn=0.3V,|Vthp|=0.3V。當32級環(huán)形振蕩器逐級打開,數(shù)控振蕩器輸出波形的振蕩頻率也逐級上升,整個數(shù)控振蕩器的頻率調(diào)節(jié)范圍如圖4所示。

當32級DCO中的18級環(huán)形振蕩器打開的時候,DCO的相位噪聲如圖5所示。相位噪聲由Spectre仿真器的pss分析和pnoise分析測得。

該32級數(shù)控振蕩器的相位噪聲和功耗如表1所示,隨著環(huán)形振蕩器逐級打開,相位噪聲和功耗都明顯上升,這是獲得高頻率輸出波形所付出的性能代價。先測得單個反相器的平均電流,測得各個打開的反相器平均電流均約為14 μA,由下式可以得到電路的總功耗,式中N為打開的環(huán)形振蕩器級數(shù)。

為了研究環(huán)形振蕩器級數(shù)對頻率調(diào)節(jié)范圍的影響,將數(shù)控振蕩器的級數(shù)減少至18級或12級,再分別測試其頻率調(diào)節(jié)范圍。三種不同級數(shù)數(shù)控振蕩器調(diào)節(jié)范圍的對比如圖6所示,不同級數(shù)的數(shù)控振蕩器fmax相等,但fmin隨著數(shù)控振蕩器的總級數(shù)增加而減小,且KDCO也變小,調(diào)節(jié)線性度更好。

進一步測試器件尺寸對數(shù)控振蕩器性能的影響,當器件寬度Wn和Wp增加,反相器中的平均電流增加,可以輸出更高的頻率并減小電路中器件噪聲導致的相位噪聲,這對高性能電路是有意義的,但電路功耗也隨之增加。對于18級數(shù)控振蕩器,保持電路中全部MOSFET的溝道長度不變,同時增大圖2(b)中的NMOS管M2、M3的Wn和PMOS管M0、M1的Wp至原尺寸的1.5倍后測得的頻率調(diào)節(jié)范圍如圖7所示,全部環(huán)形振蕩器共18級打開后的DCO功耗 及相位噪聲如表2所示。

4 結論

該數(shù)控振蕩器結構采用全靜態(tài)CMOS邏輯電路來設計,獲得了線性度較好的頻率調(diào)節(jié)范圍,在90nm混合信號工藝條件下全DCO電路功耗在3mV左右,10MHz處相位噪聲低于-110 dBc/Hz,性能相比傳統(tǒng)LC壓控振蕩器有過之而無不及,非常適合應用于高性能數(shù)字電路中。在用該數(shù)控振蕩器結構設計DPLL時,應進一步增加環(huán)形振蕩器級數(shù)以提供線性度更好的可調(diào)輸出頻率范圍,并需要前置數(shù)字環(huán)形濾波器提供相配合的控制信號。

[1]Robert Bogdan Staszewski.All-Digital Frequency Synthesizer in Deep-Submicron CMOS [M].A John Wiley & Sons,Inc, 2006.110-112.

[2]R.Jacob Baker.CMOS Circuit Design, Layout, and Simulation [M].Wiley, 2008.383.

[3]Jose A.Tierno, Alexander V.Rylyako, Daniel J.Friedman.A Wide Power Supply Range, Wide Tuning Range, All Static CMOS All Digital PLL in 65nm SOI [J].IEEE Journal of Soild-States Circuits, January 2008, 43(1): 42-51.

[4]Behzad Razavi.Design of Analog CMOS Integrated Circuits [M].McGraw-Hill Companies Inc, 2001.483-491.

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