王姍姍,吳艷青,蔣可志,張麗君
(1.杭州師范大學(xué)有機(jī)硅化學(xué)及材料技術(shù)教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,浙江 杭州311121;2.浙江農(nóng)林大學(xué)浙江省林業(yè)生物質(zhì)化學(xué)利用重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,浙江 臨安311300)
Si69產(chǎn)品是一類以雙-(γ-三乙氧基硅基丙基)四硫化物(結(jié)構(gòu)見圖1)為主要成分的含硫硅烷偶聯(lián)劑,是目前輪胎工業(yè)中用量最大的含硫硅烷偶聯(lián)劑.在合成橡膠過程中添加少量的Si69可以有效提高產(chǎn)品的耐磨、抗熱、抗老化等性能[1-3].已有多篇文獻(xiàn)報(bào)道了有關(guān)Si69成分的分析,特別是其含硫量的測(cè)定[4-8].本課題組曾以C8柱為液相分離柱,只使用簡(jiǎn)單的流動(dòng)相體系(甲醇-水)實(shí)現(xiàn)了Si69中各個(gè)組分的完全分離.同時(shí),結(jié)合電噴霧質(zhì)譜技術(shù)對(duì)Si69的各個(gè)組分進(jìn)行逐一鑒定,并實(shí)現(xiàn)了單質(zhì)硫和化合態(tài)硫的各自含量的簡(jiǎn)便測(cè)定.實(shí)驗(yàn)結(jié)果發(fā)現(xiàn),Si69的各組分不容易進(jìn)行質(zhì)子化電離,但容易進(jìn)行加銨電離.為繼續(xù)上述研究,本文對(duì)Si69各組分的質(zhì)譜碎裂做詳盡的考察.
Si69產(chǎn)品來自本實(shí)驗(yàn)室,根據(jù)本課題組前期研究測(cè)定Si69產(chǎn)品的主要組成成分如圖1所示,其中:S3質(zhì)量分?jǐn)?shù)為18.48%,S4為30.75%,S5為26.18%,S6為16.60%[7].
實(shí)驗(yàn)所用的甲醇為色譜純,購自Sigma-Aldrich公司.氯化鋰為分析純?cè)噭徸試幖瘓F(tuán)化學(xué)試劑有限公司.
電噴霧串聯(lián)質(zhì)譜實(shí)驗(yàn)是在LCQ advantage mass Spectrometer(美國賽默飛世爾公司)質(zhì)譜儀上完成的,儀器配備有電噴霧離子源和離子阱質(zhì)量分析器,數(shù)據(jù)通過Xcalibur軟件(1.4版本)進(jìn)行處理.樣品用甲醇溶解后,加入10μL氯化鋰水溶液,進(jìn)樣濃度為10μg/mL.稀溶液以5μL/min的速度進(jìn)入離子源中,實(shí)驗(yàn)在正離子模式下進(jìn)行.
圖1 Si69產(chǎn)品中主要組分的結(jié)構(gòu)式Fig.1 Structures of the main components in Si69
圖2 [S3+Li]+、[S4+Li]+、[S5+Li]+和[S6+Li]+的CID-MS譜圖(由上至下)Fig.2 The CID-MS spectra of[S3+Li]+,[S4+Li]+,[S5+Li]+and[S6+Li]+(from upto down)
儀器參數(shù)設(shè)置如下:鞘氣(N2,99%)設(shè)定為25au.噴霧針電壓設(shè)定為-4.5kV,對(duì)于離子導(dǎo)入,加熱離子傳熱管(250 ℃)設(shè)定為+55V.離子阱壓力由渦輪泵維持在大約2×10-5Torr,高純氦氣(99.999%)作為碰撞氣,對(duì)所選擇的母離子進(jìn)行碰撞來獲得碰撞誘導(dǎo)解離(CID)圖譜,歸一化碰撞能量為28%.每一張質(zhì)譜圖都是超過50次掃描的平均圖.
量化計(jì)算采用半經(jīng)驗(yàn)方法PM3Gaussian03程序(Revision B.03)進(jìn)行結(jié)構(gòu)優(yōu)化.在結(jié)構(gòu)優(yōu)化的過程中不采用對(duì)稱限制.優(yōu)化結(jié)構(gòu)由Gauss View 軟件(version 3.09)顯示.
在正離子模式下,Si69的各個(gè)組分容易進(jìn)行加銨電離,但其加銨離子在二級(jí)質(zhì)譜中只是Si69各個(gè)組分與銨離子的簡(jiǎn)單分離,難以產(chǎn)生具有結(jié)構(gòu)特征的碎片離子.將添有氯化鋰的Si69稀溶液進(jìn)入質(zhì)譜分析后,在譜圖中能觀察到所有組分都有豐度很強(qiáng)的鋰離子加合峰[M+Li]+.對(duì)這些[M+Li]+進(jìn)行碰撞誘導(dǎo)碎裂(CID),產(chǎn)生了豐富的具有結(jié)構(gòu)特征的碎片離子(圖2).在二級(jí)質(zhì)譜中,加合鋰離子的4種化合物有著相似的裂解途徑,表1總結(jié)了圖2中二級(jí)碎片離子及其豐度.
以S4為例子進(jìn)行[S4+Li]+(m/z545)的氣相裂解機(jī)理研究.量化計(jì)算結(jié)果表明,Li+與S4的2個(gè)O原子和1個(gè)S原子相作用,所對(duì)應(yīng)的原子間距離分別為2.036?、2.102? 和2.573?(圖3),所以Li+不大容易發(fā)生遷移.受Li+的極化作用,所對(duì)應(yīng)S—S 鍵能被弱化,對(duì)應(yīng)的鍵長(zhǎng)有所延長(zhǎng)(S4—S5鍵長(zhǎng)為1.966?,而S6—S7鍵長(zhǎng)為1.908?).在二級(jí)質(zhì)譜實(shí)驗(yàn)中,[S4+Li]+比較容易在作用力比較弱的價(jià)鍵(如S—S、C—S等)上發(fā)生碎裂反應(yīng),見圖4,其碎片離子的化學(xué)式得到高分辨質(zhì)譜精確分子量測(cè)試的驗(yàn)證(表2).
圖中豐度最大的離子m/z276為[S4+Li]+發(fā)生S5—S6鍵的均裂反應(yīng)(path-1)后產(chǎn)生的γ-三乙氧基硅基丙連二硫自由基的鋰離子加合物(P1).碎片離子m/z243為γ-三乙氧基硅基丙硫醛的鋰離子加合物(P2),其形成過程(path-2)可推測(cè)為[S4+Li]+結(jié)構(gòu)中C3上的一個(gè)氫原子經(jīng)過1,3-H 遷移到S5上,并伴隨著S4—S5鍵的斷裂和C3=S4雙鍵的形成.碎片離子m/z211為烯丙基三乙氧基硅烷的鋰離子加合物(P3),其形成途徑(path-3)可推測(cè)為[S4+Li]+結(jié)構(gòu)中C2上的一個(gè)氫原子經(jīng)過1,3-H 遷移到S4上,并伴隨著C3—S4鍵的斷裂和C2=C3雙鍵的形成.同時(shí),在譜圖中還觀察到豐度很低的γ-三乙氧基硅基丙連二硫醇的鋰離子加合物(P4),P4的生成途徑涉及S6—S7鍵斷裂并伴隨C8上H 原子1,3-遷移到S6上.
表1 S3、S4、S5和S6的鋰離子加合物的二級(jí)質(zhì)譜數(shù)據(jù)Tab.1 The MS/MS data of[S3+Li]+,[S4+Li]+,[S5+Li]+and[S6+Li]+
表2 [S4+Li]+離子的高分辨質(zhì)譜數(shù)據(jù)Tab.2 Accurate masses of product ions for[S4+Li]+
此外,在譜圖中還觀察到上述碎片離子水合物,P1+H2O(m/z294)、P2+H2O(m/z261)和P3+H2O(m/z229).如表1所示,水合離子的質(zhì)量數(shù)與相應(yīng)的碎片離子相差不到18Da,如P1 的質(zhì)荷比為m/z275.9,而P1+H2O 的質(zhì)荷比為m/z293.4.這種質(zhì)量漂移現(xiàn)象是由水合離子中水分子與金屬離子的弱締合作用以及離子阱質(zhì)譜儀獨(dú)特的質(zhì)量掃描方式所造成的[9].值得注意的是,與P3不同,P1和P2中的Li+除了與兩個(gè)乙氧基上O原子之間存在靜電作用之外,還與硫自由基或者硫醛基存在靜電作用(圖3).因此,P3很容易發(fā)生水合反應(yīng)(其水合離子的豐度遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于P3),而P1和P2則相對(duì)較難發(fā)生水合反應(yīng).
[S3+Li]+結(jié)構(gòu)只有3個(gè)S原子相連,斷裂的S5—S6鍵與C7相連.因而,在其碎裂過程中,S5—S6鍵的直接均裂(path-1)不大容易發(fā)生;而S5—S6鍵的碎裂伴隨著C7上H 回遷到S5(path-4),所產(chǎn)生的γ-三乙氧基硅基丙連二硫醇的鋰離子加合物為基峰(m/z277).
圖3 [S3+Li]+、[S4+Li]+、[S5+Li]+、P1、P2和P3的PM3優(yōu)化結(jié)構(gòu)Fig.3 The PM3optimized structures of[S3+Li]+,[S4+Li]+,[S5+Li]+,P1,P2and P3
圖4 [S4+Li]+的可能碎裂途徑Fig.4 The proposed fragmentation pathways of[S4+Li]+
對(duì)于S5和S6這兩個(gè)化合物,其結(jié)構(gòu)中相連的S原子分別為5個(gè)和6個(gè),所以[M+Li]+的S—S均裂的位置可以在S5—S6和S6—S7鍵上,分別產(chǎn)生碎片離子m/z276和m/z308.同時(shí),其主要碎裂途徑為丟失中性碎片S2(64Da)的碎裂反應(yīng).如圖3所示,[S5+Li]+結(jié)構(gòu)中S4和S5都與Li+相作用,同時(shí)S4—S5鍵的延長(zhǎng)(2.036 ?).由于S4和S5與Li+都相互作用,[S5+Li]+在S4—S5鍵經(jīng)活化斷裂后產(chǎn)生的2個(gè)碎片不會(huì)直接丟失,而是發(fā)生S4—S7鍵的形成,從而導(dǎo)致丟失中性碎片S2,形成碎片離子m/z513(圖5).
圖5 [S5+Li]+丟失S2 單質(zhì)的碎裂途徑Fig.5 The loss of S2from[S5+Li]+
Si69產(chǎn)品中的主要組分S3、S4、S5和S6在電噴霧質(zhì)譜中不容易質(zhì)子化電離,而是在鋰鹽的存在情況下容易進(jìn)行加合鋰離子電離.鋰離子加合物容易發(fā)生S—S鍵、C—S鍵的斷裂反應(yīng),并在條件允許情況下伴隨亞甲基碳上氫的遷移反應(yīng);同時(shí)所形成的離子容易發(fā)生水合反應(yīng).此外,[S5+Li]+和[S6+Li]+則容易發(fā)生丟失中性碎片S2(64Da)的碎裂反應(yīng).上述結(jié)果解析該類化合物加鋰離子的氣相碎裂模式,也為類似結(jié)構(gòu)化合物的質(zhì)譜分析提供了參考.
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