孫斌,李云玲,卜雄洙
(1.南京理工大學(xué)機(jī)械工程學(xué)院,江蘇南京210094;2.內(nèi)蒙古北方重工業(yè)集團(tuán)有限公司,內(nèi)蒙古包頭014033)
轉(zhuǎn)臺(tái)常常作為高精度的角度位置產(chǎn)生的基礎(chǔ)平臺(tái)。轉(zhuǎn)臺(tái)的位置輸出精度直接影響整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的校準(zhǔn)或測(cè)量精度,因此需要經(jīng)常對(duì)轉(zhuǎn)臺(tái)的角度系統(tǒng)進(jìn)行誤差測(cè)量,為調(diào)校轉(zhuǎn)臺(tái)設(shè)備提供依據(jù)。傳統(tǒng)的機(jī)械測(cè)角法有多面體棱鏡法、分度臺(tái)法等;近些年來(lái)又研究出較多的光學(xué)測(cè)角法,如圓光柵法、衍射法、以及激光干涉法等[2]。機(jī)械方法自動(dòng)化程度低、操作繁復(fù)且多只能用于靜態(tài)測(cè)量。光學(xué)法雖然操作簡(jiǎn)便、自動(dòng)化程度高,但實(shí)驗(yàn)設(shè)備復(fù)雜、昂貴,設(shè)備通用性差,對(duì)環(huán)境要求嚴(yán)苛[3]。在存在振動(dòng)等干擾的環(huán)境中,無(wú)論是傳統(tǒng)的機(jī)械測(cè)角法還是高精度的光學(xué)測(cè)角法都很難實(shí)施,即使條件允許,測(cè)量過(guò)程往往過(guò)于繁復(fù)。因此,研究具有較強(qiáng)環(huán)境適應(yīng)性的快速測(cè)量方法很有必要。自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀是最常用的光學(xué)測(cè)角儀器之一,具有自動(dòng)補(bǔ)償機(jī)構(gòu),能很好地適應(yīng)不同的應(yīng)用環(huán)境,常用于大地觀測(cè)、微小角度測(cè)量等領(lǐng)域。本文以單軸俯仰轉(zhuǎn)臺(tái)為例,針對(duì)傳統(tǒng)角度誤差檢測(cè)設(shè)備難以對(duì)轉(zhuǎn)臺(tái)角度誤差進(jìn)行快速測(cè)量的問(wèn)題,提出一種適合于現(xiàn)場(chǎng)快速應(yīng)用的自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀對(duì)準(zhǔn)靜態(tài)誤差測(cè)量方法,并建立其誤差測(cè)量模型,推導(dǎo)模型解算的方法,最后對(duì)其測(cè)量不確定度進(jìn)行評(píng)定。
利用自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀測(cè)量轉(zhuǎn)臺(tái)角度誤差的原理如圖1所示,反射面做以轉(zhuǎn)臺(tái)水平軸中心O 為旋轉(zhuǎn)中心的同軸轉(zhuǎn)動(dòng)。測(cè)量時(shí),先轉(zhuǎn)動(dòng)轉(zhuǎn)臺(tái)水平軸至預(yù)設(shè)角度誤差測(cè)量位置θ,反射面跟隨其同步轉(zhuǎn)動(dòng),調(diào)整自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀,使其發(fā)出的光線經(jīng)反射面垂直反射后成自準(zhǔn)直像,即返回的十字像落在固定分劃線的雙十字刻線中心,然后讀取經(jīng)緯儀上垂直角φ,根據(jù)光路可知,θ=φ-90°,結(jié)合轉(zhuǎn)臺(tái)自身角度輸出θ’,就可以得到該位置下轉(zhuǎn)臺(tái)的角度誤差,記錄結(jié)果并開(kāi)始下一次測(cè)量,按照此步驟依次完成各個(gè)預(yù)設(shè)角度位置的誤差測(cè)量。
圖1 角度誤差測(cè)量原理圖
采用自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀對(duì)準(zhǔn)法進(jìn)行靜態(tài)誤差測(cè)量的裝置如圖2所示,該套測(cè)量裝置主要由自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀、反射棱鏡和上位機(jī)等組成。自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀因其測(cè)量精度高、操作簡(jiǎn)單及可靠性好等特點(diǎn)在高精度安裝和方向基準(zhǔn)建立中得到廣泛應(yīng)用。一般電子經(jīng)緯儀的測(cè)角精度能達(dá)到秒級(jí)[4],對(duì)于一般轉(zhuǎn)臺(tái)的角度誤差測(cè)量而言已足夠。反射棱鏡是由圓柱體棱鏡在其側(cè)面加工出一個(gè)鍍膜反射面,如圖2 中面A所示,鍍膜的目的是提高反射率。安裝時(shí),首先用分度值為0.0002 mm 的測(cè)微表來(lái)找正,調(diào)整定位夾具的芯軸與被測(cè)轉(zhuǎn)軸中心重合。在此基礎(chǔ)上,在轉(zhuǎn)臺(tái)處于水平時(shí),用高精度光電準(zhǔn)直儀水平將反射面的中心法線調(diào)整至水平,即反射面處于鉛垂,至此反射棱鏡安裝完畢,之后的測(cè)量過(guò)程中無(wú)需再調(diào)整。上位機(jī)主要完成測(cè)量控制、數(shù)據(jù)采集處理及結(jié)果顯示的工作,數(shù)據(jù)包括轉(zhuǎn)臺(tái)自身的轉(zhuǎn)動(dòng)角度輸出以及自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀的角度輸出。該套設(shè)備構(gòu)成簡(jiǎn)單,實(shí)用性強(qiáng)。針對(duì)不同的轉(zhuǎn)軸,只要加工相應(yīng)的工裝使得反射棱鏡能夠同軸安裝即可,通用性明顯優(yōu)于其他一些光學(xué)方法。
圖2 自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀測(cè)量轉(zhuǎn)臺(tái)誤差裝置示意圖
轉(zhuǎn)臺(tái)轉(zhuǎn)角誤差測(cè)量的反射模型如圖3所示。為了更準(zhǔn)確地描述測(cè)量過(guò)程,選取參考坐標(biāo)系OXYZ,矢量A,A'和N 分別為反射平面的入射光矢、反射光矢和反射面法線的單位矢量。圖3 中,φ 角為反射平面的入射光線A 與Z 軸的夾角,即自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀的垂直角輸出;α 角是入射光線A 在XY 平面投影Axy與Y 軸的偏移角;θ 是反射棱鏡反射面中心法線N 與水平線的夾角,測(cè)量過(guò)程中以轉(zhuǎn)臺(tái)自身的角度輸出近似表示;β角是反射面法線N 在XZ 平面投影Nxz與Z 軸的偏移角。理想情況,φ,θ 處于YZ 平面且滿足θ=φ-90°,此時(shí)有α=β=0°,問(wèn)題簡(jiǎn)化為二維模型。但是實(shí)際測(cè)量時(shí),由于安裝誤差、儀器誤差、人員誤差等的存在,α,β 均不為0 且兩者間不存在明顯的數(shù)學(xué)關(guān)系,此時(shí)φ,θ 不再滿足θ=φ-90°的關(guān)系。所以絕大多數(shù)情況下,簡(jiǎn)化的二維模型不能反映實(shí)際測(cè)量中存在的許多誤差來(lái)源,即二維模型只能用于定性說(shuō)明測(cè)量原理,無(wú)法用于實(shí)際測(cè)量。
圖3 空間反射測(cè)量示意圖
為了解決上述問(wèn)題,需要研究建立三維空間反射測(cè)量模型。結(jié)合光線的矢量性,采用矢量分析方法[5]建立的模型關(guān)系式為
在圖3所示坐標(biāo)系下可得
測(cè)量時(shí),調(diào)整自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀使其成自準(zhǔn)直像,即光線是原路返回,則
結(jié)合式(1),(3)可得
將式(2)代入式(4)并化簡(jiǎn)可得
式(5)說(shuō)明此時(shí)φ,θ 為非線性關(guān)系,且與偏移角α,β 大小有關(guān),α,β 的地位對(duì)等。圖4 是角α,β 存在下θ 與理論真值的誤差。
圖4 偏移角α,β 對(duì)測(cè)量結(jié)果的誤差
從圖4 可知,當(dāng)cosα,cosβ 的值都接近1,即α,β接近0 時(shí),偏差很小,這時(shí)可以進(jìn)一步化簡(jiǎn)式(5)可得
從式(6)得到了與二維平面分析一致的表達(dá)式。所以,當(dāng)測(cè)量裝置安裝調(diào)校比較好的情況下,如果要求的測(cè)量精度不是很高,可以采用式(6)作為測(cè)量的反射模型。否則,采用式(5)更為合適,但是需要額外的增加對(duì)偏移角α,β 的測(cè)量,增加了實(shí)驗(yàn)操作難度。
實(shí)驗(yàn)被測(cè)對(duì)象為一臺(tái)A1-ST14A-JX-00 單軸電動(dòng)俯仰轉(zhuǎn)臺(tái),其位置誤差指標(biāo)在15″以內(nèi),自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀采用的是DT202C 電子經(jīng)緯儀,垂直角測(cè)角誤差為2″,滿足測(cè)量不確定度之比在1/4 ~1/10 的條件[6],所以選擇式(6)作為角度誤差測(cè)量的反射模型。在該條件下,角度誤差可以表示為
式(7)中φ 與θ'相互獨(dú)立,故由不確定度傳播律得合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度的平方為
式中:cφ,cθ’為靈敏系數(shù),。
3.2.1 自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀讀數(shù)φ 相關(guān)誤差引入的不確定度
1)測(cè)量重復(fù)性引入的不確定度
實(shí)驗(yàn)預(yù)設(shè)測(cè)量位置為-10° ~+20°,間隔2°,一共16 個(gè)測(cè)量點(diǎn)。設(shè)備安裝調(diào)節(jié)完后,通過(guò)各6 次盤左、盤右對(duì)預(yù)設(shè)角度位置進(jìn)行重復(fù)測(cè)量,單次測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)不確定度s(x)=2.06″。故測(cè)量重復(fù)性引入的標(biāo)準(zhǔn)不確定度為
自由度ν1=n-1=5。
2)自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀引入不確定度
自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀引入誤差包含儀器誤差和對(duì)準(zhǔn)誤差兩部分。儀器誤差通過(guò)查產(chǎn)品合格證書:U=1″,k=2,可得不確定度分量
u2=1/2=0.5″
相對(duì)不確定度為90%,則自由度ν2=50。
對(duì)準(zhǔn)誤差主要是由人眼的分辨力限制造成的。實(shí)驗(yàn)所用自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀望遠(yuǎn)鏡放大率為30,對(duì)準(zhǔn)方式為壓線對(duì)準(zhǔn)和夾線對(duì)準(zhǔn)相結(jié)合,其人眼分辨誤差約為δ=15″[7],所以其對(duì)準(zhǔn)誤差的不確定度分量為
u3=15″/30=0.5″
相對(duì)不確定度為80%,自由度ν3=12。
3)反射棱鏡引入不確定度
反射棱鏡引入誤差包括反射棱鏡反射面的面形誤差及其安裝誤差。反射平面并不是絕對(duì)的平面,因此其法線方向會(huì)有微小的變化。實(shí)驗(yàn)所用反射棱鏡的鍍膜反射面面形誤差為高光圈N=1,所以由其造成的角度測(cè)量不確定度分量[8]為
式中:λ 為光波波長(zhǎng),取λ=5×10-4mm;l 為反射面的長(zhǎng)度,l=100 mm。將弧度轉(zhuǎn)為角秒得
相對(duì)不確定度為80%,自由度ν4=12。
反射棱鏡采用光電自準(zhǔn)直法[9]安裝至轉(zhuǎn)臺(tái)軸上,轉(zhuǎn)臺(tái)的零位調(diào)校也是用光電自準(zhǔn)直儀法。所采用的準(zhǔn)直光管誤差為±1″,反射面法線與轉(zhuǎn)臺(tái)零位線之間的安裝誤差最大值為2″,其分布按均勻分布[10],則由安裝誤差引入的不確定度為
相對(duì)不確定度為75%,則自由度為ν5=8。
以上引入各不確定度分量的因素互不相關(guān),所以由這些分量得到與φ 相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)不確定度分量為
3.2.2 轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)角系統(tǒng)輸出角度θ'誤差引入的不確定度
采用多面體棱鏡法測(cè)量得到轉(zhuǎn)臺(tái)自身輸出角度存在誤差[11],由其引入的不確定度為
式中:σmax和σmin分別為用多面體棱鏡法測(cè)得的最大和最小偏差。實(shí)驗(yàn)所用多面體棱鏡為二十三面體[12],自由度為ν6=m-1=22。
3.2.3 合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度及擴(kuò)展不確定度
將uφ,uθ'的值代入公式(8),可得系統(tǒng)的合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度為
有效自由度[13]為
取置信概率為95%,查t 分布表得t95(32)=2.04,則擴(kuò)展不確定度為
本文介紹了一種利用自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀快速測(cè)量轉(zhuǎn)臺(tái)轉(zhuǎn)角誤差的方法——自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀對(duì)準(zhǔn)法,通過(guò)深入分析該方法所采用的空間反射模型,給出了精確表達(dá)式,為以后進(jìn)一步提高該方法精度提供了理論依據(jù)。對(duì)測(cè)量裝置的不確定度評(píng)定結(jié)果表明,擴(kuò)展不確定度在10″以內(nèi),能夠滿足轉(zhuǎn)臺(tái)小角度范圍測(cè)量誤差的精度要求。該方法與傳統(tǒng)方法相比具有操作簡(jiǎn)便、成本低、抗環(huán)境干擾強(qiáng)的優(yōu)點(diǎn),具有工程應(yīng)用價(jià)值。
[1]曾鳴,王錦賀,張健,等.轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)角系統(tǒng)標(biāo)定方法的研究[J].中國(guó)慣性技術(shù)學(xué)報(bào),1998,6(4):84-88.
[2]黃仙錦,卜雄洙,楊波,等.自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀測(cè)角系統(tǒng)及不確定度分析[J].計(jì)量技術(shù),2013(8):13-16.
[3]孫安斌,馬驪群,曹鐵澤,等.室內(nèi)GPS 發(fā)射器角度校準(zhǔn)裝置的設(shè)計(jì)與分析[J].計(jì)測(cè)技術(shù),2013,33(6):35-39.
[4]劉凱.新型光電自準(zhǔn)直經(jīng)緯儀關(guān)鍵技術(shù)研究[D].北京:北京交通大學(xué),2012.
[5]樊春麗,崔瑩.六面體轉(zhuǎn)鼓分度和塔差的檢測(cè)方法及測(cè)量結(jié)果不確定度的評(píng)定[J].紅外與激光工程,2008,37(增刊):337-339.
[6]韓素超,高雪,李紅菊,等.專用分度頭校準(zhǔn)方法探討[J].計(jì)測(cè)技術(shù),2015,35(S0):32-33.
[7]楊雙燕.光束的矢量性表征及其應(yīng)用[D].上海:上海大學(xué),2014.
[8]馬峰,周駿.角度塊角度偏差測(cè)量值的不確定度評(píng)定[J].計(jì)量與測(cè)試技術(shù),2015(1):44-45.
[9]何海霞.基于光電自準(zhǔn)直的二維小角度測(cè)量技術(shù)研究[D].武漢:湖北工業(yè)大學(xué),2009.
[10]國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局.JJF 1210-2008 低轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)臺(tái)校準(zhǔn)規(guī)范[S].北京:中國(guó)計(jì)量出版社,2008.
[11]Liang W Y,Dong J W,Wang H Z.Directional emitter and beam splitter based on self-collimation effect[J].OPTICS EXPRESS,2007,15(3):1234-1239.
[12]Cheng Fang,F(xiàn)an Kuangchao.Linear diffraction grating interferometer with high alignment toleranceand high accuracy[J].APPLIED OPTICS,2011,50(22):4551-4556.
[13]Zhao Lirong,Zhu Wei,Zhang Yaoyu,et a1.The Method of the System Error Modification of Photoelectric Theodolite of T Type[C]//2012 International Conference on Optoelectronies and Mieroeleetronics.Changchun.Jilin:IEEE,2012:384-387.