/ 上海市計(jì)量測試技術(shù)研究院
α、β表面污染儀是常見的輻射防護(hù)儀器,主要用于開放性工作場所設(shè)施表面、工作人員皮膚及衣物表面的α、β污染的監(jiān)測。核電站、醫(yī)院放療室、各級輻射防護(hù)與環(huán)境監(jiān)測部門均有配備,其性能對監(jiān)測結(jié)果的可靠性有直接影響[1]。目前,α、β表面污染儀主要采用閃爍體探測器和GM計(jì)數(shù)管探測器,國家計(jì)量檢定規(guī)程 JJG 478-2016《α、β表面污染儀》規(guī)定了此類儀器的檢定項(xiàng)目、檢定方法和技術(shù)要求[2]。
日常使用α、β表面污染儀進(jìn)行放射性污染測量時(shí),需要準(zhǔn)確控制α、β表面污染儀探測器窗表面與待測平面之間的距離。根據(jù)JJG 478-2016的要求,測量α表面污染時(shí),α、β表面污染儀探測器窗表面與待測平面之間的距離為5 mm;測量β表面污染時(shí),α、β表面污染儀探測器窗表面與待測平面之間的距離為10 mm。測量數(shù)據(jù)會(huì)隨著距離的變化呈現(xiàn)二次多項(xiàng)式關(guān)系,影響最終結(jié)果的準(zhǔn)確性[3]。
同時(shí),待測區(qū)域面積與α、β表面污染儀探測器窗面積間的差距同樣會(huì)對測量結(jié)果產(chǎn)生影響。原則上來說,α、β表面污染儀探測器窗面積應(yīng)與待測區(qū)域面積保持一致,當(dāng)待測區(qū)域面積大于或小于探測器窗面積時(shí),由于幾何立體角的變化,測量結(jié)果會(huì)偏大[4]。當(dāng)待測區(qū)域面積小于探測器窗面積時(shí),應(yīng)盡可能地讓待測區(qū)域處于探測窗中心的正下方。當(dāng)待測區(qū)域面積大于探測器窗面積時(shí),測量采用五點(diǎn)法,即在待測區(qū)域選擇五個(gè)點(diǎn)位進(jìn)行定點(diǎn)測量。若采用五點(diǎn)法能覆蓋整個(gè)待測區(qū)域,則將探測器置于待測區(qū)域中心進(jìn)行測量;若探頭過小,采用五點(diǎn)法仍無法覆蓋待測區(qū)域,則取五個(gè)點(diǎn)位測得值的平均值作為測量結(jié)果,以確保量值的準(zhǔn)確性[5]。
根據(jù)JJG 478-2016,檢定α、β表面污染儀的計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)為α、β標(biāo)準(zhǔn)平面源,其量值為表面發(fā)射率,溯源至粒子表面發(fā)射率國家基準(zhǔn)。α、β表面污染儀的檢定結(jié)果給出其表面發(fā)射率響應(yīng)。而放射性表面污染監(jiān)測結(jié)果通常以單位面積的放射性活度表示(Bq/cm2),由此需由表面發(fā)射率響應(yīng)Rq計(jì)算表面活度響應(yīng)Ra:
式中:Ra—— α、β表面污染儀的表面活度響應(yīng),s-1Bq-1cm2;
Rq—— α、β表面污染儀的表面發(fā)射率響應(yīng);
s—— α、β表面污染儀探測器窗面積,cm2;
ε—— 測量表面發(fā)射率響應(yīng)所用標(biāo)準(zhǔn)平面源的效率,s·Bq-1
標(biāo)準(zhǔn)平面源效率ε與粒子類型、標(biāo)準(zhǔn)平面源基材、標(biāo)準(zhǔn)平面源的制作方法等眾多因素相關(guān),其準(zhǔn)確值需要通過實(shí)驗(yàn)方法獲得。通常情況下,標(biāo)準(zhǔn)平面源效率ε常用的推薦值為:
對于α標(biāo)準(zhǔn)平面源,ε(α)= 0.51;對于β標(biāo)準(zhǔn)平面源,ε(β)= 0.62。
用α、β表面污染儀做表面污染監(jiān)測時(shí),測量條件應(yīng)盡可能與檢定測量條件一致,按式(2)計(jì)算被測對象單位面積活度As:
式中:As—— 被測對象單位面積的活度,Bq·cm-2;
—— α、β表面污染儀對被測對象的計(jì)數(shù)率,s-1;
—— α、β表面污染儀的本底計(jì)數(shù)率,s-1;
Ra—— α、β表面污染儀的表面活度響應(yīng),s-1Bq-1cm2
選擇五種常見型號α、β表面污染儀在2013、2016、2019年度的檢定結(jié)果作為樣本,其中,Inspector、CoMo170與LB124為進(jìn)口儀器,JB4100和FJ-2207為國產(chǎn)儀器;Inspector采用GM計(jì)數(shù)管探測器,并可做X、γ輻射劑量(率)測量,其余四種型號均采用閃爍體探測器??紤]α、β表面污染儀送檢數(shù)量的差別,進(jìn)口儀器每種型號每年度選擇50個(gè)樣本,國產(chǎn)儀器每種型號每年度選擇30個(gè)樣本。按樣本數(shù)計(jì)算各參數(shù)的平均值進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析,其中α、β表面污染儀的相對固有誤差按其絕對值計(jì)算平均值。
表征α、β表面污染儀主要計(jì)量性能的指標(biāo)有:表面發(fā)射率響應(yīng)、重復(fù)性以及相對固有誤差。表面發(fā)射率響應(yīng)主要反映了α、β表面污染儀對α、β粒子的響應(yīng)能力(或探測效率);相對固有誤差由對同一核素不同表面發(fā)射率時(shí)測量的非線性表示;重復(fù)性則體現(xiàn)出α、β表面污染儀測量時(shí)計(jì)數(shù)的穩(wěn)定情況。上述參數(shù)是α、β表面污染儀的固有特性,是影響其測量結(jié)果準(zhǔn)確性的主要因素。
1)表面發(fā)射率響應(yīng)
五種型號的α、β表面污染儀的α、β表面發(fā)射率響應(yīng)歷年間的變化情況如圖1、圖2所示。
圖1 α、β表面污染儀α表面發(fā)射率響應(yīng)歷年變化
圖2 α、β表面污染儀β表面發(fā)射率響應(yīng)歷年變化
對于同一種探測器,加載的電壓值與電子學(xué)放大系數(shù)是影響表面發(fā)射率響應(yīng)的主要因素。一方面較高的響應(yīng)有利于更低的探測下限;另一方面偏壓越高、放大系數(shù)越大則電子學(xué)噪聲也越大,抬高了α、β表面污染儀的探測下限,并且高計(jì)數(shù)測量時(shí),死時(shí)間也會(huì)增大,縮小了α、β表面污染儀的有效測量范圍。圖1顯示國產(chǎn)型號JB4100的α表面發(fā)射率響應(yīng)經(jīng)歷了一個(gè)比較明顯的變化過程,由高至低與其他型號趨于一致;圖2顯示進(jìn)口型號CoMo170的β表面發(fā)射率響應(yīng)有較明顯的提高??傮w上,分析樣本中五種型號α、β表面污染儀的α表面發(fā)射率響應(yīng)平均值在0.23~0.37的范圍內(nèi),差異呈明顯縮小趨勢,國產(chǎn)型號FJ-2207的β表面發(fā)射率響應(yīng)相對較低,其余四種型號的β表面發(fā)射率響應(yīng)都在0.4~0.5的范圍內(nèi)。
2)相對固有誤差
五種型號儀器的相對固有誤差歷年間的變化情況如圖3、圖4所示。
圖3 α、β表面污染儀對α放射性的相對固有誤差歷年變化
圖4 α、β表面污染儀對β放射性的相對固有誤差歷年變化
相對固有誤差反映了α、β表面污染儀響應(yīng)的非線性,由圖3、圖4可以看出,2013年至今GM計(jì)數(shù)管探測器α、β表面污染儀的相對固有誤差稍有改善,目前約為10%;閃爍體探測器α、β表面污染儀中,進(jìn)口儀器對α放射性測量的相對固有誤差無較大變化,對β放射性測量的相對固有誤差則有了較明顯的改善,國產(chǎn)儀器的相對固有誤差則有大幅度的下降。至2019年度,分析樣本中,國產(chǎn)和進(jìn)口的閃爍體探測器α、β表面污染儀相對固有誤差平均值接近,采用閃爍體探測器的四款α、β表面污染儀的相對固有誤差都在5%左右。
源于發(fā)光晶體、光電倍增管性能的改善以及光電子計(jì)數(shù)模型的更新,閃爍體探測器α、β表面污染儀的相對固有誤差得到顯著的優(yōu)化,國產(chǎn)與進(jìn)口儀器間響應(yīng)的非線性已處于同樣的水平。
3)重復(fù)性
五種型號α、β表面污染儀的重復(fù)性歷年間的變化情況如圖5、圖6所示。
圖5 α、β表面污染儀α測量重復(fù)性歷年變化
圖6 α、β表面污染儀β測量重復(fù)性歷年變化
弱放射性測量存在較大的統(tǒng)計(jì)漲落,重復(fù)性是反映α、β表面污染儀計(jì)量性能的重要參數(shù),與探測器類型相關(guān),通常采用電子學(xué)處理技術(shù)加以優(yōu)化,圖5、圖6顯示,分析樣本中進(jìn)口閃爍體探測器α、β表面污染儀的測量重復(fù)性平均值在2%左右,同類國產(chǎn)α、β表面污染儀則在6%以上,進(jìn)口儀器對α、β放射性的測量重復(fù)性明顯好于國產(chǎn)儀器。
簡要介紹了α、β表面污染儀的主要計(jì)量性能參數(shù)、日常使用方法要點(diǎn)和表面污染測量數(shù)據(jù)處理中涉及的計(jì)量單位轉(zhuǎn)換。分析總結(jié)了2013、2016、2019三年間五種型號共630臺(tái)α、β表面污染儀計(jì)量檢定數(shù)據(jù),結(jié)果顯示:總體上國產(chǎn)α、β表面污染儀的計(jì)量性能有了較大的進(jìn)步,目前在表面發(fā)射率響應(yīng)和相對固有誤差兩項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)上,國產(chǎn)儀器的性能已接近進(jìn)口儀器,而在測量重復(fù)性方面,則還存在著一定差距。