黃滟波 王若韞
(華南理工大學(xué)制漿造紙工程國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,廣東廣州,510640)
掃描電鏡(SEM)是常見的微區(qū)分析儀器,具有分辨率高、放大倍率寬、圖像三維效果好、樣品適用面廣等特點(diǎn),常用于材料形貌表征,在制漿造紙學(xué)科有廣泛的應(yīng)用。
自然界中纖維的種類多樣,形態(tài)各異,纖維表面形貌與其成紙性能密切相關(guān)。在制漿造紙研究領(lǐng)域,常需優(yōu)化加工條件或?qū)w維進(jìn)行處理,以提高成紙品質(zhì)。曾健等[1]探索了不同打漿條件對(duì)纖維形態(tài)的影響,通過掃描電鏡觀察可以直接發(fā)現(xiàn)不同打漿條件對(duì)纖維的分絲帚化有顯著影響。徐柏森等[2]利用掃描電鏡觀察纖維橫截面來反映纖維內(nèi)部結(jié)構(gòu)的開裂情況,可用于提高纖維再生功能的研究。陳維娜等[3]利用掃描電鏡-電子能譜儀實(shí)現(xiàn)了對(duì)靜電復(fù)印紙的快速鑒別。林友鋒等[4]利用掃描電鏡表征尾葉桉纖維風(fēng)干前后的孔隙結(jié)構(gòu)變化。Lyu等[5]研究了微纖化纖維素用于碳酸鈣改性加填,通過掃描電鏡發(fā)現(xiàn)改性后微纖化纖維素和重質(zhì)碳酸鈣形成了橋梁結(jié)構(gòu),絮聚明顯,導(dǎo)致微纖化纖維素比表面積下降。掃描電鏡操作簡單、分析快速,可對(duì)紙張及纖維內(nèi)部細(xì)微結(jié)構(gòu)進(jìn)行清晰準(zhǔn)確的觀察,是制漿造紙研究的一種重要手段。
本課題介紹了制漿造紙研究領(lǐng)域掃描電鏡的樣品制備方法,并對(duì)常見問題進(jìn)行分析,以期為制漿造紙研究提供技術(shù)參考。
桉木漿板及未漂白硫酸鹽桉木漿購自廣州造紙股份有限公司;碳酸鈣購自廣東亞太森博漿紙有限公司;得力A4打印紙購自本地(廣州)超市;納米纖維素膜為本實(shí)驗(yàn)室采用TEMPO氧化法制備;碳導(dǎo)電膠條、銀導(dǎo)電膠液及硅片購于美國Ted Pella公司。
掃描電鏡(EVO 18,德國Zeiss);離子濺射儀(Cressington 108 Auto,美國Ted Pella);離子束切割儀(EM TIC 3X,德國Leica)。
1.3.1 樣品制備
本實(shí)驗(yàn)室掃描電鏡標(biāo)配樣品臺(tái)為九孔圓形樣品臺(tái),1次能載入9個(gè)樣品。因測試量較大,本實(shí)驗(yàn)室自制了鋁基樣品臺(tái),1次能載入小體積樣品50個(gè)以上,可減少開關(guān)樣品倉次數(shù),提高測試效率。
制漿造紙學(xué)科常見樣品包括紙張、漿板、漿料、粉末樣品(造紙?zhí)盍霞爸鷦┑龋?、膜類樣品及橫截面樣品等。這些樣品大部分為非導(dǎo)電材料,測試前需進(jìn)行噴金處理。樣品制備情況與掃描電鏡成像效果密切相關(guān),對(duì)于不同類型的樣品,有不同的制樣方式和技巧,以下將分別進(jìn)行討論。
1.3.1.1 紙樣制備
對(duì)于紙張和漿板樣品,可直接裁剪成合適大小,用碳導(dǎo)電膠條粘貼于樣品臺(tái)上,噴金后進(jìn)行觀察(見圖1(a))。但是對(duì)于某些結(jié)構(gòu)蓬松、多孔的紙張或漿板樣品,常規(guī)制樣方法會(huì)導(dǎo)致樣品導(dǎo)電性較差,影響成像質(zhì)量。因此,若要增強(qiáng)樣品表面導(dǎo)電效果,可在不遮擋成像區(qū)域的前提下,裁切碳導(dǎo)電膠細(xì)條貼于樣品表面,在樣品表面與鋁制樣品臺(tái)之間形成導(dǎo)電通道(見圖1(b));也可以適當(dāng)延長鍍膜時(shí)間,增大樣品表面導(dǎo)電性;或兩種方法同時(shí)使用,有利于導(dǎo)電性較差的樣品成像。
1.3.1.2 纖維樣品制備
實(shí)際測試過程中,有時(shí)出于統(tǒng)計(jì)分析或與其他儀器聯(lián)合表征需要,研究者會(huì)對(duì)單根纖維表面形貌進(jìn)行觀測[6-7]。纖維抄紙后互相纏繞,難以表征單根纖維全貌。制樣時(shí),可將漿板或紙樣疏解,配制為一定濃度的纖維懸浮液;然后吸取一定量纖維懸浮液滴于基材上,干燥后噴金再進(jìn)行拍攝(見圖1(c))?;谋砻嬉笄鍧崱⑵秸?、大小適中,可使用鋁箔、云母片、硅片等。
1.3.1.3 粉末樣品制備
對(duì)于粉末樣品(如碳酸鈣等),可直接取一定量粉末貼于碳導(dǎo)電膠條表面(見圖1(d))。粘貼時(shí)需要注意樣品層厚度,盡量將粉末鋪為薄層,以提高樣品表面導(dǎo)電性。同時(shí),由于掃描電鏡樣品倉內(nèi)為高真空環(huán)境,樣品倉內(nèi)污染會(huì)嚴(yán)重影響成像效果,因此,粉末樣品制樣需格外注意樣品固定??墒褂酶蓛舻姆Q量紙?jiān)诜勰┍砻孑p壓,盡量使其固定,然后采用洗耳球輕輕吹去表面未貼牢固的粉末。
1.3.1.4 不規(guī)則樣品制備
圖1 不同類型樣品的掃描電鏡制樣方法
對(duì)于不規(guī)則厚度的不導(dǎo)電樣品,常規(guī)方法制樣的導(dǎo)電性差,影響成像效果。要解決這一問題,一方面可參考蓬松紙樣的制備方法,裁切碳導(dǎo)電膠細(xì)條貼于樣品表面,在樣品表面與鋁制樣品臺(tái)之間形成導(dǎo)電通道;另一方面,也可在樣品側(cè)面覆蓋一層銀導(dǎo)電膠液,提高樣品側(cè)面導(dǎo)電性,待銀導(dǎo)電膠液中溶劑揮發(fā)后鍍膜,再進(jìn)行觀察(見圖1(e))。
1.3.1.5 橫截面樣品制備
除了對(duì)紙張、纖維表面進(jìn)行表征,研究者也常常需要觀察樣品橫截面的形貌結(jié)構(gòu)。利用本實(shí)驗(yàn)室自制鋁制樣品臺(tái),可將紙張或纖維垂直貼于樣品臺(tái)側(cè)面,暴露出橫截面,鍍膜進(jìn)行掃描電鏡觀測(見圖1(f))。一般采用機(jī)械切割、包埋切割(石蠟或樹脂)及液氮淬斷等方法制備紙張及纖維的橫截面。
近年來,離子束切割等新技術(shù)也用于橫截面制備。與傳統(tǒng)的橫截面制備方法相比,離子束切割使用高壓電離惰性氣體產(chǎn)生離子束,對(duì)橫截面進(jìn)行轟擊,以剝離橫截面表層。傳統(tǒng)刀片切割與離子束切割方法制備的紙張橫截面的掃描電鏡圖如圖2所示。從圖2可以看出,刀片切割的紙張橫截面中,纖維隨著刀片劃過的方向有明顯的“倒伏”現(xiàn)象。表層的纖維覆蓋了內(nèi)側(cè)橫截面使其形貌無法被觀察到。而采用離子束切割制備的紙張橫截面樣品,轟擊過程無應(yīng)力損傷,纖維未發(fā)生明顯形變,橫截面表面平整,紙張內(nèi)部的孔隙等細(xì)微結(jié)構(gòu)清楚可見。離子束切割是制備橫截面的先進(jìn)技術(shù),在制漿造紙研究中應(yīng)用前景廣闊。
1.3.2 離子束切割制備橫截面
將市售A4打印紙裁剪為合適大小,用碳導(dǎo)電膠條垂直貼于離子束切割儀樣品臺(tái),暴露橫截面。高純氬氣在工作電壓4 kV時(shí)電離形成離子束,轟擊樣品橫截面,轟擊時(shí)間為2 h,以形成一個(gè)更小范圍的離子束切割橫截面。
1.3.3 掃描電鏡觀察
取少量干燥后樣品,用碳導(dǎo)電膠條粘貼于樣品臺(tái),根據(jù)樣品特性,適當(dāng)采用銀導(dǎo)電膠液等輔助材料,經(jīng)離子濺射儀噴金后,利用掃描電鏡對(duì)樣品進(jìn)行形貌表征。
在利用掃描電鏡進(jìn)行樣品形貌表征的過程中常常會(huì)產(chǎn)生圖像明暗失調(diào)、扭曲晃動(dòng)、邊緣位置異常發(fā)亮及成像模糊等問題。造成這些問題的原因主要有荷電效應(yīng)、邊緣效應(yīng)、像散及樣品自然襯度低等,本課題組對(duì)這些問題、產(chǎn)生原因及解決辦法進(jìn)行了探討。
荷電效應(yīng)是指掃描電鏡成像過程中產(chǎn)生的局部充電現(xiàn)象,是影響掃描電鏡成像質(zhì)量最常見的問題。掃描電鏡成像過程中,高能電子束入射樣品表面時(shí),使樣品核外電子電離產(chǎn)生二次電子。入射電子數(shù)量與二次電子數(shù)量相等時(shí),樣品不帶電。然而實(shí)際測試過程中,入射電子數(shù)量與二次電子數(shù)量不同,樣品則會(huì)帶電。如果樣品是導(dǎo)體,多余的電荷可通過設(shè)備導(dǎo)走。當(dāng)樣品不導(dǎo)電或?qū)щ娦圆患褧r(shí),多余的電荷無法導(dǎo)走,并在樣品表面積累,從而產(chǎn)生局部充電形成荷電效應(yīng)。
本課題組將未進(jìn)行鍍膜處理的纖維樣品直接用于掃描電鏡觀測;結(jié)果顯示,荷電效應(yīng)可造成圖像局部發(fā)亮,明暗失調(diào)(見圖3(a)),也可造成圖像扭曲、晃動(dòng)(見圖3(b)),嚴(yán)重影響掃描電鏡成像效果。
圖2 紙張橫截面掃描電鏡圖
圖3 荷電效應(yīng)掃描電鏡圖
解決荷電效應(yīng)的關(guān)鍵是解決樣品表面電荷積累的問題。一方面,可通過延長鍍膜時(shí)間、增大鍍膜電流以提高樣品表面鍍金膜厚度,從而提高樣品導(dǎo)電性使得多余電荷通過設(shè)備導(dǎo)走,降低樣品表面電荷積累;另一方面,可通過降低加速電壓、減少入射電子數(shù)量來減少樣品表面的多余電荷。本課題中,分別在10 kV和5 kV的加速電壓下,對(duì)干燥后桉木漿進(jìn)行掃描電鏡成像(見圖3(c)和圖3(d))。從圖3(c)和圖3(d)可以看出,該樣品中有一條纖維中部懸空,只有頭尾部與樣品基底相連,導(dǎo)致該部位導(dǎo)電性較差。在10 kV加速電壓下,纖維懸空部分表面電荷積累,掃描電鏡圖像發(fā)白,無法看清細(xì)節(jié)。在其他掃描電鏡參數(shù)相同的條件下,下調(diào)加速電壓為5 kV時(shí),由于入射電子束減少,荷電效應(yīng)明顯改善,原來發(fā)白的區(qū)域亮度趨于正常,細(xì)節(jié)清晰可見。筆者在前期研究[8]中發(fā)現(xiàn),使用低真空模式對(duì)未進(jìn)行鍍膜的纖維樣品進(jìn)行直接掃描電鏡觀察,也可有效降低荷電效應(yīng),提高掃描電鏡成像質(zhì)量。
邊緣效應(yīng)是指在樣品表面起伏變化大的邊緣位置圖像異常發(fā)亮的現(xiàn)象[9],邊緣效應(yīng)的產(chǎn)生原理如圖4(a)所示。
在樣品邊緣或凸起的尖端位置,二次電子與樣品表面作用面積增大,導(dǎo)致二次電子逃逸到樣品表面的途徑也增多,使該區(qū)域二次電子發(fā)射異常增加,進(jìn)而引起掃描電鏡圖像上該位置亮度異常高(見圖4(b))。
邊緣效應(yīng)由異常增加的二次電子引起,因此,可通過減少邊緣區(qū)域的二次電子發(fā)射量來解決邊緣效應(yīng)問題;而降低加速電壓,可以減少入射電子,進(jìn)而減少二次電子發(fā)射量。在10 kV加速電壓下,樣品孔隙邊緣褶皺處圖像有異常發(fā)白的現(xiàn)象(見圖4(c));當(dāng)加速電壓降低至5 kV時(shí),樣品孔隙邊緣褶皺處可正常成像(見圖4(d))。此外,當(dāng)入射電子束強(qiáng)度一定時(shí),二次電子信號(hào)強(qiáng)度隨樣品傾斜角的減小而減小。因此,可適當(dāng)調(diào)整樣品臺(tái)的傾斜角度,減小樣品邊緣、尖端處的傾斜角度,進(jìn)而減小二次電子信號(hào)強(qiáng)度,以解決樣品掃描電鏡成像的邊緣效應(yīng)問題。
在掃描電鏡儀器加工過程中,由于不可避免的加工誤差導(dǎo)致掃描電鏡的透鏡磁場不對(duì)稱,使得透鏡電流變化時(shí),電子束被聚焦在相互垂直的焦面不能匯聚成點(diǎn),造成掃描電鏡成像分辨率下降的情況稱為像散[10]。
在實(shí)際測試過程中,在對(duì)樣品成像調(diào)焦時(shí),發(fā)現(xiàn)圖像被拉長、在過焦和欠焦位置出現(xiàn)相互垂直的圖像及正焦位置成像模糊,則可認(rèn)定為掃描電鏡圖存在像散(見圖5(a))。如果物鏡存在像散,會(huì)嚴(yán)重影響高倍圖像的分辨率,需進(jìn)行手動(dòng)消像散。具體操作為,可在樣品中選擇圓形或球形的部位,在正焦位置進(jìn)行觀察;交替調(diào)節(jié)消像散器的X和Y方向,再進(jìn)行對(duì)焦觀察,直到圖像變得清晰(見圖5(b))。
襯度是指當(dāng)電子束與樣品相互作用時(shí),由于樣品微區(qū)特征的差異(形貌、原子序數(shù)或化學(xué)成分等)產(chǎn)生的信號(hào)強(qiáng)度不同,導(dǎo)致掃描電鏡圖像中出現(xiàn)不同亮度。
圖4 邊緣效應(yīng)產(chǎn)生原因示意圖和掃描電鏡圖
圖5 像散對(duì)掃描電鏡成像的影響
植物纖維素成膜性能優(yōu)異,在包裝材料、光電材料領(lǐng)域有良好的應(yīng)用前景。本實(shí)驗(yàn)室經(jīng)常對(duì)纖維素、半纖維素及納米纖維素膜類樣品進(jìn)行表征。此類樣品表面光滑平坦、自然襯度低,利用掃描電鏡表征時(shí),常常難以得到滿意圖像。
膜類樣品成像時(shí),首先要確保對(duì)焦準(zhǔn)確。由于膜類樣品本身光滑、平坦,無明顯參照物,對(duì)焦時(shí)易出現(xiàn)偏差,使得成像模糊不清。因此,可以通過在特征處對(duì)焦、中間拍攝的方法解決這個(gè)問題。具體操作為,首先,將膜的邊緣或其他有明顯形貌特征的位置移到掃描電鏡視野下,對(duì)焦完成后,再將需要表征的位置移到視野下進(jìn)行表征。此外,也可通過適當(dāng)傾斜樣品臺(tái),使更多的二次電子逃逸至樣品表面,增加二次電子信號(hào)強(qiáng)度來突出膜類樣品表面微小信號(hào)強(qiáng)度的差別。圖6為納米纖維素膜掃描電鏡成像圖。由圖6(a)可知,當(dāng)樣品臺(tái)處于水平位置時(shí),由于樣品本身自然襯度低,掃描電鏡成像效果不理想;將樣品臺(tái)傾斜10°后進(jìn)行掃描電鏡成像,圖像襯度有一定程度的改善(見圖6(b))。
納米纖維素膜或其他某些聚合物類樣品表現(xiàn)為熱敏感。當(dāng)高能電子束入射樣品表面時(shí),常常會(huì)導(dǎo)致該位置溫度升高;尤其是在高倍成像時(shí),或者利用“Reduce”模式進(jìn)行對(duì)焦時(shí),溫度升高常常導(dǎo)致這一類熱敏材料產(chǎn)生形變,甚至損傷結(jié)構(gòu),稱為電子束損傷或熱損傷。
圖6 納米纖維素膜的掃描電鏡圖
表征這類樣品時(shí),一方面可適當(dāng)延長鍍金膜的時(shí)間,使樣品表面沉積更厚的金膜,在樣品表面形成支撐保護(hù);另一方面可以提高樣品表面導(dǎo)熱性能,減少熱量積累。設(shè)置掃描電鏡參數(shù)時(shí),可適當(dāng)降低加速電壓,減少入射電子數(shù)量。圖7(a)為10 kV加速電壓下,熱敏樣品的電子束損傷掃描電鏡圖。從圖7(a)可以看出,電子束聚集的熱效應(yīng)使熱敏樣品表面發(fā)生形變,產(chǎn)生裂紋(箭頭標(biāo)注位置)。當(dāng)加速電壓降至5 kV時(shí),可解決該熱敏樣品表面的電子束損傷問題(見圖7(b))。此外表征樣品時(shí),在滿足測試需要的前提下,盡量選擇低倍快速成像,減少單位面積樣品上的入射電子數(shù)量,降低電子束在樣品表面的停留時(shí)間,以減少電子束損傷問題。
圖7 熱敏樣品的電子束損傷掃描電鏡圖
基于筆者在掃描電鏡(SEM)表面形貌分析工作中積累的經(jīng)驗(yàn),本課題分別介紹了造紙學(xué)科紙張、紙漿、粉末(造紙?zhí)盍霞爸鷦⒛さ炔煌愋蜆悠返膾呙桦婄R制樣技術(shù)。采用粘貼碳導(dǎo)電膠條、使用銀導(dǎo)電膠液等方法可增加樣品表面的導(dǎo)電性。對(duì)于橫截面樣品,利用離子束切割技術(shù)可以有效避免機(jī)械切割引起的樣品形變。本課題組同時(shí)對(duì)掃描電鏡成像過程中的常見問題進(jìn)行探討,證實(shí)通過優(yōu)化鍍膜時(shí)間、加速電壓等電鏡參數(shù)可顯著改善由荷電效應(yīng)、邊緣效應(yīng)及電子束損傷等引起的掃描電鏡成像異常。
值得注意的是,降低加速電壓在一定程度上可以改善由荷電效應(yīng)、邊緣效應(yīng)及電子束損傷等引起的掃描電鏡成像問題。然而,加速電壓與圖像分辨率密切相關(guān),降低加速電壓會(huì)降低信號(hào)電子產(chǎn)率,導(dǎo)致圖像信噪比降低,從而降低圖像分辨率。因此,實(shí)際操作中,需根據(jù)樣品的具體性質(zhì),協(xié)同使用各種手段,優(yōu)化測試參數(shù)以達(dá)到最好的掃描電鏡成像效果。