謝順紅

（廣州市白云區(qū)婦幼保健院，廣東 廣州 510000）

0 引言

驚厥為臨床上十分常見的兒科急癥，高熱則是導(dǎo)致小兒驚厥發(fā)生的重要因素。相關(guān)調(diào)查研究發(fā)現(xiàn)，在5歲以下兒童中，高熱驚厥的發(fā)生率達(dá)到了3%[1]。高熱驚厥患兒一般臨床癥狀有意識(shí)障礙、口吐白沫、肌群不自主收縮等，如果沒有采取及時(shí)有效地治療，可能會(huì)導(dǎo)致窒息、腦損傷等的發(fā)生，對患兒生命健康安全造成威脅[2]。高熱驚厥有著復(fù)雜的發(fā)病機(jī)制，可能是因?yàn)樾旱纳窠?jīng)系統(tǒng)還沒有發(fā)育完全，外界輕微的刺激即有可能會(huì)導(dǎo)致腦部神經(jīng)元異常放電。相關(guān)研究結(jié)果顯示，通過腦電圖檢查可以觀察高熱驚厥患兒病情，判斷其預(yù)后情況[3]。因此本研究通過回顧性分析200例高熱驚厥患兒的臨床資料及腦電圖檢查結(jié)果，探討高熱驚厥患兒腦電圖臨床意義。

1 資料與方法

1.1 一般資料?；仡櫺苑治鰪V州市白云區(qū)婦幼保健院在2018年1月至2020年1月收治的200例高熱驚厥患兒，患兒年齡6個(gè)月至8歲，平均(3.39±0.36)歲?；純旱呐R床資料及腦電圖結(jié)果；所有患兒均為因呼吸道、消化道感染性疾病引起的高熱所發(fā)生的驚厥，且臨床資料完備；排除因其它原因引起的驚厥，存在中樞神經(jīng)系統(tǒng)感染，既往有癲癇病史以及低鈣血癥等。

1.2 方法。所有患兒均在高熱驚厥發(fā)生后的1周內(nèi)進(jìn)行腦電圖檢查，檢查設(shè)備為KTCMS-M397389型腦電圖機(jī)（北京中西遠(yuǎn)大科技有限公司生產(chǎn)），根據(jù)具體情況選擇使用單、雙極導(dǎo)聯(lián)，將記錄盒中的舊信息清空，清除完后備用。采用10/20系統(tǒng)法進(jìn)行電極安置選點(diǎn)，導(dǎo)電膏裝滿銀盤狀電極內(nèi)，使用阻抗儀測量兩電極間的阻抗低于5000，固定好電極后開機(jī)，患兒的腦電活動(dòng)被記錄儀自動(dòng)記錄，然后記錄檢查結(jié)果。檢查完成后參照《小兒腦電圖圖譜》及《臨床腦電圖學(xué)》相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)對腦電圖報(bào)告進(jìn)行評閱[4]。檢查之前詳細(xì)了解患兒的性別、初發(fā)年齡、發(fā)作持續(xù)時(shí)間、發(fā)作次數(shù)、發(fā)作時(shí)臨床表現(xiàn)、家族史等信息。

1.3 觀察指標(biāo)。觀察腦電圖的異常情況，分析患兒性別、初發(fā)年齡、發(fā)作持續(xù)時(shí)間、發(fā)作次數(shù)、家族史等與腦電圖的關(guān)系。

1.4 統(tǒng)計(jì)學(xué)分析。通過SPSS 22.0統(tǒng)計(jì)分析，計(jì)數(shù)資料用χ2檢驗(yàn)，P<0.05差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義。

2 結(jié)果

200例高熱驚厥患兒行腦電圖檢查顯示，正常122例，異常88例，腦電圖異常率為44.00%（88/200）。大部分表現(xiàn)為慢波明顯增加，枕部明顯；其中71例為廣泛性慢波異常，17例為癲癇樣放電呈棘波、尖波、尖慢復(fù)合波發(fā)放。高熱驚厥患兒初發(fā)年齡、發(fā)作持續(xù)時(shí)間、發(fā)作次數(shù)、家族史均與腦電圖異常有關(guān)，初發(fā)年齡越大，發(fā)作持續(xù)時(shí)間越就久，發(fā)作次數(shù)越多，以及有家族史者，腦電圖異常率越高，差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義（P<0.05），詳見表1。

表1 不同因素與腦電圖異常的關(guān)系

3 討論

高熱驚厥常見于6個(gè)月至3歲的小兒，通常情況下預(yù)后較好；6歲以上兒童較少見到高熱驚厥者，可能是因?yàn)槠浯竽X逐漸發(fā)育完善，故不容易發(fā)生驚厥，高熱驚厥往往發(fā)生在呼吸道感染或者其它感染性疾病的早期，患兒體溫迅速升高超過38℃，且需要排除中樞神經(jīng)系統(tǒng)感染引起的驚厥以及代謝異常或一些器質(zhì)性病變所引起的驚厥[5]。目前還沒有完全弄清高熱驚厥發(fā)生的具體病因，可能與遺傳、年齡、感染等因素有著一定聯(lián)系，驚厥的發(fā)生有著一定的遺傳傾向，而驚厥發(fā)生的條件則為發(fā)熱，感染則是導(dǎo)致發(fā)熱的病因，驚厥發(fā)生的內(nèi)在基礎(chǔ)則與年齡相關(guān)[6]。故本研究探討分析高熱驚厥患兒腦電圖的臨床意義，以評估腦電圖在高熱驚厥患兒中的應(yīng)用價(jià)值。

高熱將會(huì)使機(jī)體的中樞神經(jīng)系統(tǒng)興奮性升高，從而會(huì)增加腦細(xì)胞對各環(huán)境中刺激的靈敏度，導(dǎo)致驚厥閾值明顯下降，且機(jī)體神經(jīng)元的代謝不斷地增強(qiáng)，從而會(huì)大量增加機(jī)體的耗氧量，機(jī)體的腦細(xì)胞功能將會(huì)出現(xiàn)紊亂，導(dǎo)致腦神經(jīng)元異常放電，出現(xiàn)驚厥。相關(guān)研究結(jié)果顯示[7]，高熱驚厥患兒的腦電圖檢查結(jié)果存在一定異常。有學(xué)者[8]分析了高熱驚厥患兒的腦電圖檢查結(jié)果后發(fā)現(xiàn)，高熱驚厥患兒的發(fā)病年齡、發(fā)作次數(shù)、發(fā)作持續(xù)時(shí)間均與腦電圖異常有著明顯的相關(guān)性，發(fā)病年齡越大，發(fā)作持續(xù)時(shí)間越長，發(fā)作次數(shù)越多，腦電圖結(jié)果的異常率越高。本研究也得到了相似的結(jié)果。

本研究結(jié)果中，200例高熱驚厥患兒中，腦電圖異常者88例，腦電圖異常率為44.00%。大部分表現(xiàn)為慢波明顯增加，枕部明顯；其中71例為廣泛性慢波異常，17例為癲癇樣放電呈棘波、尖波、尖慢復(fù)合波發(fā)放?？梢姼邿狍@厥的發(fā)生也會(huì)對腦細(xì)胞造成一定程度的器質(zhì)性破壞。高熱驚厥所導(dǎo)致的異常腦電圖通常為出現(xiàn)在枕區(qū)的慢波或者棘波、尖波、尖慢復(fù)合波，腦電圖的異常表現(xiàn)通常是由于腦組織在驚厥發(fā)作時(shí)出現(xiàn)短暫的缺血、缺氧[9]，一旦發(fā)作時(shí)間較長將會(huì)對神經(jīng)細(xì)胞造成損傷，使其結(jié)構(gòu)發(fā)生改變，甚至?xí)鸢d癇的發(fā)生[10-11]。本研究中，高熱驚厥患兒初發(fā)年齡、發(fā)作持續(xù)時(shí)間、發(fā)作次數(shù)、家族史均與腦電圖異常有關(guān)，初發(fā)年齡越大，發(fā)作持續(xù)時(shí)間越就久，發(fā)作次數(shù)越多，以及有家族史者，腦電圖異常率越高，差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義（P<0.05）。從本研究結(jié)果可以看出患兒發(fā)病年齡與腦電圖異常有一定的聯(lián)系，發(fā)病年齡越大，腦電圖結(jié)果異常率越高；大部分高熱驚厥患兒6個(gè)月至3歲時(shí)初次發(fā)病，目前普遍認(rèn)為高熱驚厥的發(fā)生與患兒的年齡以及其大腦生理、生化、解剖結(jié)構(gòu)等發(fā)育不成熟有關(guān)。其次通過本研究結(jié)果還可看出發(fā)作持續(xù)時(shí)間≥20 min者的腦電圖異常率明顯高于＜20 min者，且高熱驚厥次數(shù)≥2次者腦電圖異常率明顯高于＜2次者；可見高熱驚厥的反復(fù)發(fā)生以及長時(shí)間的發(fā)生將會(huì)增加損傷腦組織的風(fēng)險(xiǎn)，從而增加腦電圖異常率。另外高熱驚厥還有一定的遺傳傾向，有家族史者也更容易出現(xiàn)腦電圖異常，可能與有家族史者更容易復(fù)發(fā)有關(guān)。

綜上所述，高熱驚厥患兒初發(fā)年齡、發(fā)作持續(xù)時(shí)間、發(fā)作次數(shù)、家族史等可能為腦電圖異常的影響因素，通過腦電圖檢查有利于發(fā)現(xiàn)腦電圖異?；純?，并及時(shí)進(jìn)行處理。