馮鑫飛　唐云芳　王鐘瑾

[摘要] 目的 觀察熱性驚厥患者的臨床與腦電圖特征，并探討其與日后癲癇發(fā)生的聯(lián)系。 方法 選取我院2011年1月～2012年12月 診斷的128例熱性驚厥患者為研究對象，對其進行腦電圖檢查，并分析其與癲癇發(fā)生之間的聯(lián)系。 結(jié)果 腦電圖結(jié)果正?；颊?2例，占64.1%；腦電圖異常46例，占35.9%。異常腦電圖特征顯示全導(dǎo)陣發(fā)性3.0～4.0Hz的棘慢波，且清醒與睡眠期均存在放電。腦電圖異常與初發(fā)年齡、EP家族史、發(fā)熱溫度、熱性驚厥類型、持續(xù)時間、24h內(nèi)發(fā)作次數(shù)有關(guān)，共35例日后發(fā)生癲癇，發(fā)生率為76.1%。枕區(qū)和額區(qū)放電是日后癲癇發(fā)生的危險因素。結(jié)論 臨床中枕區(qū)和額區(qū)陣發(fā)性異常放電的熱性驚厥患者日后更容易發(fā)生癲癇，臨床中應(yīng)引起足夠的重視。

[關(guān)鍵詞] 熱性驚厥；腦電圖；癲癇；相關(guān)性

[中圖分類號] R720.597 [文獻標(biāo)識碼] B [文章編號] 1673-9701（2014）13-0019-03

熱性驚厥是兒科常見的疾病之一，在臨床中具有較高的發(fā)病率。臨床資料顯示，多數(shù)患者日后很有可能會出現(xiàn)認知功能障礙與癲癇[1]。因此，加強熱性驚厥患者日后癲癇的預(yù)防具有重要的意義[2]。本文對熱性驚厥患者的臨床與腦電圖特征進行分析，探討其與日后癲癇發(fā)生之間的聯(lián)系，為臨床中預(yù)防和診治癲癇做好充分的準(zhǔn)備，現(xiàn)報道的如下。

1資料與方法

1.1臨床資料

選取我院2011年1月～2012年12月間診斷的128例熱性驚厥患者為研究對象，男性患兒70例，女性患兒58例。年齡<6歲患兒76例，≥6歲患兒52例。依據(jù)患者的病情狀況分為兩種類型，單純性：全身性發(fā)作，并且持續(xù)時間短暫，且不超過15min，在24h內(nèi)無復(fù)發(fā)的情況，在發(fā)作之后神經(jīng)系統(tǒng)正常。復(fù)雜性：發(fā)病年齡在6個月以內(nèi)或者6歲以上，且體溫不足38.5℃，驚厥持續(xù)時間超過15min；患者的發(fā)作類型呈現(xiàn)局灶性或者24h內(nèi)發(fā)作的次數(shù)超過1次。單純性患者82例，復(fù)雜性患者46例。本組患者均進行常規(guī)的體格和神經(jīng)系統(tǒng)的檢查，并且排除腦外傷和中樞神經(jīng)系統(tǒng)感染及嚴(yán)重的全身性代謝紊亂與既往癲癇病史患者。

1.2檢查方法

研究對象均進行視頻腦電圖檢查，并在患者的體溫恢復(fù)正常體溫之后的1周或者2周內(nèi)進行檢查，采用9200型的光電腦電圖儀，并嚴(yán)格的按照國際10～20系統(tǒng)放置頭皮電極，給予雙極16導(dǎo)聯(lián)進行單雙極描記，其雙側(cè)耳電極作為參考電極，時間為2h。全部采用自然睡眠法進行檢查。腦電圖描記主要包括患者的清醒期、思睡期和睡眠期以及覺醒期，并且對其結(jié)果進行判斷[3]。

1.3分組與觀察方法

對患者的基本資料進行分析，且對腦電圖檢測異常情況進行分析，并且分析患者不同放電部位和臨床特征與日后癲癇發(fā)生之間的相關(guān)性。所有的患者均行門診復(fù)診，并且通過問卷調(diào)查獲取患者的臨床資料，對首次診斷之后的患者半年隨訪1次，并且依據(jù)其臨床發(fā)作情況和腦電圖檢查的結(jié)果判斷是否發(fā)生癲癇[4]。

1.4觀察指標(biāo)

①腦電圖檢查；②腦電圖特征；③臨床特征；④臨床、腦電圖特征與癲癇相關(guān)性。

1.5統(tǒng)計學(xué)處理

數(shù)據(jù)采取SPSS19.0的統(tǒng)計學(xué)軟件進行分析與處理，計數(shù)資料采取χ2進行檢驗，臨床、腦電圖特征與日后癲癇的相關(guān)性采用Logistic回歸性分析，P<0.05為差異有統(tǒng)計學(xué)意義。

2結(jié)果

2.1腦電圖檢測結(jié)果

對本組的128例熱性驚厥患者的視頻腦電圖檢查分析，腦電圖正?；颊?2例，占64.1%，異常46例，占35.9%。數(shù)據(jù)的比較無明顯差異（P>0.05） 。異常特征：全導(dǎo)陣發(fā)性3.0～4.0Hz的棘慢波，且清醒與睡眠期均存在放電。

2.2腦電圖異常與臨床特征的相關(guān)性分析

腦電圖異常的基本資料比較，初發(fā)年齡≥6歲、發(fā)熱溫度<38.5℃、復(fù)雜性熱性驚厥、部分發(fā)作和伴有EP家族史以及24h內(nèi)發(fā)作>1次與持續(xù)時間≥15min的患者發(fā)生腦電圖異常率明顯高于初發(fā)年齡<6歲、發(fā)熱溫度>38.5℃、單純性熱性驚厥、全身發(fā)作和無EP家族史以及24h內(nèi)發(fā)作1次與持續(xù)時間<15min的患者（P<0.05）；腦電圖異常的發(fā)作狀態(tài)和是否熱性驚厥家族史的資料比較無明顯差異（P>0.05）。見表1。

表1 腦電圖異常與臨床特征的相關(guān)性分析[n（%）]

2.3腦電圖異常日后癲癇與臨床特征的相關(guān)分析

通過對46例腦電圖異?；颊叩呐R床資料分析，共有35例日后發(fā)生癲癇，發(fā)生率為76.1%。其中初發(fā)年齡≥6歲、發(fā)作類型復(fù)雜、枕區(qū)和額區(qū)放電患者發(fā)生癲癇幾率明顯高于初發(fā)年齡<6歲、發(fā)作類型單純、廣泛性區(qū)、Rolandic區(qū)患者，數(shù)據(jù)的比較具有明顯的差異（P<0.05）；有熱性驚厥家族史、有EP家族史和持續(xù)時間≥15min與無熱性驚厥家族史、無EP家族史和持續(xù)時間<15min發(fā)生癲癇的幾率比較無明顯的差異（P>0.05）。見表2。

2.4不同放電部位與日后癲癇的相關(guān)性分析

對35例日后癲癇的腦電圖特征分析，枕區(qū)和額區(qū)放電是日后癲癇發(fā)生的危險因素，廣泛性區(qū)、Rolandic區(qū)與日后癲癇發(fā)生無相關(guān)性。見表3。

表3 不同放電部位與日后癲癇的相關(guān)性分析

3討論

熱性驚厥是小兒中最常見的驚厥性疾病，在臨床中具有較高的發(fā)病率。不少患兒日后出現(xiàn)癲癇，影響其正常的生活。臨床中如何有效的加強該病的診斷和治療是醫(yī)師們的關(guān)注的重點。通過對腦電圖異常率判斷熱性驚厥發(fā)作后是否癲癇是很困難的，主要是由于臨床中在選取的病患和檢查腦電圖時間以及癲癇放電的判斷標(biāo)準(zhǔn)均有不同[5]。腦電圖對熱性驚厥的評估有限，但是對于年齡較大的熱性驚厥患者和伴有熱性驚厥家族史以及復(fù)雜性的熱性驚厥患者均有較高的特異性，并且其發(fā)生腦電圖異常的情況明顯增加[6]。因此如何加強熱性驚厥患者日后是否癲癇診斷是醫(yī)師們關(guān)注的重點。本文對熱性驚厥患者的臨床特征和腦電圖特征進行分析，探討其與日后癲癇的相關(guān)性，其目的是更好地對熱性驚厥日后是否發(fā)生癲癇做出正確的判斷[7]。

本次結(jié)果表明，熱性驚厥患者腦電圖正常率為64.1%；異常率為35.9%，數(shù)據(jù)比較無明顯差異（P>0.05）。由此分析，臨床中單純的應(yīng)用腦電圖異常率很難對熱性驚厥進行判斷。通過腦電圖異常與臨床特征的相關(guān)性分析，初發(fā)年齡≥6歲、發(fā)熱溫度<38.5℃、復(fù)雜性熱性驚厥、部分發(fā)作和伴有EP家族史以及24h內(nèi)發(fā)作>1次與持續(xù)時間≥15min的熱性驚厥患者發(fā)生腦電圖異常率明顯升高。因此，臨床中應(yīng)加強該熱性驚厥患者的腦電圖檢查，可以通過檢查腦電圖異常率對其進行判斷[8]。數(shù)據(jù)還顯示，初發(fā)年齡≥6歲、發(fā)作類型復(fù)雜、枕區(qū)和額區(qū)放電患者發(fā)生癲癇幾率明顯的高于初發(fā)年齡<6歲、發(fā)作類型單純、廣泛性區(qū)、Rolandic區(qū)患者。因此臨床中可以依據(jù)熱性驚厥患者的臨床特征和腦電圖特征對其日后癲癇進行判斷。復(fù)雜性的熱性驚厥患者日后發(fā)生癲癇的幾率明顯高于單純性的熱性驚厥患者。并且復(fù)雜性熱性驚厥患者腦電圖異常率明顯的高于單純性的熱性驚厥患者。進一步的分析表明，臨床中腦電圖異常是熱性驚厥患者日后發(fā)生癲癇的危險因素[9]。枕區(qū)和額區(qū)放電是日后癲癇發(fā)生的危險因素，明顯高于其他區(qū)放電患者[10，11]。枕區(qū)和額區(qū)放電的腦電圖異常患者日后發(fā)生癲癇的幾率會明顯的上升。同時臨床研究顯示，額葉是人體腦組織結(jié)構(gòu)中發(fā)育最晚的結(jié)構(gòu)，很容易表現(xiàn)為長時間的易感性，一旦刺激變化導(dǎo)致陣發(fā)性放電[12，13]。另外癲癇的發(fā)生與顳葉之間存在著密切的聯(lián)系，由此得出枕區(qū)和額區(qū)陣發(fā)性放電與癲癇的發(fā)生存在著密切的聯(lián)系[14，15]。

綜上所述，熱性驚厥患者的臨床特征呈現(xiàn)多樣性，加強臨床特征和腦電圖特征的檢測能夠有效地對日后癲癇發(fā)生進行判斷，并且提示枕區(qū)和額區(qū)陣發(fā)性異常放電的熱性驚厥患者日后更容易發(fā)生癲癇[16-18]，臨床中應(yīng)引起足夠的重視。

[參考文獻]

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[18] 韋愛玲，韓蘊麗，周銀娥. 小兒熱性驚厥106例臨床分析[J]. 廣西醫(yī)學(xué)，2013，35（5）：114-116.

（收稿日期：2013-11-20）

本次結(jié)果表明，熱性驚厥患者腦電圖正常率為64.1%；異常率為35.9%，數(shù)據(jù)比較無明顯差異（P>0.05）。由此分析，臨床中單純的應(yīng)用腦電圖異常率很難對熱性驚厥進行判斷。通過腦電圖異常與臨床特征的相關(guān)性分析，初發(fā)年齡≥6歲、發(fā)熱溫度<38.5℃、復(fù)雜性熱性驚厥、部分發(fā)作和伴有EP家族史以及24h內(nèi)發(fā)作>1次與持續(xù)時間≥15min的熱性驚厥患者發(fā)生腦電圖異常率明顯升高。因此，臨床中應(yīng)加強該熱性驚厥患者的腦電圖檢查，可以通過檢查腦電圖異常率對其進行判斷[8]。數(shù)據(jù)還顯示，初發(fā)年齡≥6歲、發(fā)作類型復(fù)雜、枕區(qū)和額區(qū)放電患者發(fā)生癲癇幾率明顯的高于初發(fā)年齡<6歲、發(fā)作類型單純、廣泛性區(qū)、Rolandic區(qū)患者。因此臨床中可以依據(jù)熱性驚厥患者的臨床特征和腦電圖特征對其日后癲癇進行判斷。復(fù)雜性的熱性驚厥患者日后發(fā)生癲癇的幾率明顯高于單純性的熱性驚厥患者。并且復(fù)雜性熱性驚厥患者腦電圖異常率明顯的高于單純性的熱性驚厥患者。進一步的分析表明，臨床中腦電圖異常是熱性驚厥患者日后發(fā)生癲癇的危險因素[9]。枕區(qū)和額區(qū)放電是日后癲癇發(fā)生的危險因素，明顯高于其他區(qū)放電患者[10，11]。枕區(qū)和額區(qū)放電的腦電圖異?；颊呷蘸蟀l(fā)生癲癇的幾率會明顯的上升。同時臨床研究顯示，額葉是人體腦組織結(jié)構(gòu)中發(fā)育最晚的結(jié)構(gòu)，很容易表現(xiàn)為長時間的易感性，一旦刺激變化導(dǎo)致陣發(fā)性放電[12，13]。另外癲癇的發(fā)生與顳葉之間存在著密切的聯(lián)系，由此得出枕區(qū)和額區(qū)陣發(fā)性放電與癲癇的發(fā)生存在著密切的聯(lián)系[14，15]。

綜上所述，熱性驚厥患者的臨床特征呈現(xiàn)多樣性，加強臨床特征和腦電圖特征的檢測能夠有效地對日后癲癇發(fā)生進行判斷，并且提示枕區(qū)和額區(qū)陣發(fā)性異常放電的熱性驚厥患者日后更容易發(fā)生癲癇[16-18]，臨床中應(yīng)引起足夠的重視。

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[15] 陳靜，鄭幗，郭虎，等. 熱性驚厥臨床和腦電圖特征與日后癲癇發(fā)生關(guān)系的研究[J]. 重慶醫(yī)科大學(xué)學(xué)報，2012，37（11）：972-975.

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[18] 韋愛玲，韓蘊麗，周銀娥. 小兒熱性驚厥106例臨床分析[J]. 廣西醫(yī)學(xué)，2013，35（5）：114-116.

（收稿日期：2013-11-20）

本次結(jié)果表明，熱性驚厥患者腦電圖正常率為64.1%；異常率為35.9%，數(shù)據(jù)比較無明顯差異（P>0.05）。由此分析，臨床中單純的應(yīng)用腦電圖異常率很難對熱性驚厥進行判斷。通過腦電圖異常與臨床特征的相關(guān)性分析，初發(fā)年齡≥6歲、發(fā)熱溫度<38.5℃、復(fù)雜性熱性驚厥、部分發(fā)作和伴有EP家族史以及24h內(nèi)發(fā)作>1次與持續(xù)時間≥15min的熱性驚厥患者發(fā)生腦電圖異常率明顯升高。因此，臨床中應(yīng)加強該熱性驚厥患者的腦電圖檢查，可以通過檢查腦電圖異常率對其進行判斷[8]。數(shù)據(jù)還顯示，初發(fā)年齡≥6歲、發(fā)作類型復(fù)雜、枕區(qū)和額區(qū)放電患者發(fā)生癲癇幾率明顯的高于初發(fā)年齡<6歲、發(fā)作類型單純、廣泛性區(qū)、Rolandic區(qū)患者。因此臨床中可以依據(jù)熱性驚厥患者的臨床特征和腦電圖特征對其日后癲癇進行判斷。復(fù)雜性的熱性驚厥患者日后發(fā)生癲癇的幾率明顯高于單純性的熱性驚厥患者。并且復(fù)雜性熱性驚厥患者腦電圖異常率明顯的高于單純性的熱性驚厥患者。進一步的分析表明，臨床中腦電圖異常是熱性驚厥患者日后發(fā)生癲癇的危險因素[9]。枕區(qū)和額區(qū)放電是日后癲癇發(fā)生的危險因素，明顯高于其他區(qū)放電患者[10，11]。枕區(qū)和額區(qū)放電的腦電圖異常患者日后發(fā)生癲癇的幾率會明顯的上升。同時臨床研究顯示，額葉是人體腦組織結(jié)構(gòu)中發(fā)育最晚的結(jié)構(gòu)，很容易表現(xiàn)為長時間的易感性，一旦刺激變化導(dǎo)致陣發(fā)性放電[12，13]。另外癲癇的發(fā)生與顳葉之間存在著密切的聯(lián)系，由此得出枕區(qū)和額區(qū)陣發(fā)性放電與癲癇的發(fā)生存在著密切的聯(lián)系[14，15]。

綜上所述，熱性驚厥患者的臨床特征呈現(xiàn)多樣性，加強臨床特征和腦電圖特征的檢測能夠有效地對日后癲癇發(fā)生進行判斷，并且提示枕區(qū)和額區(qū)陣發(fā)性異常放電的熱性驚厥患者日后更容易發(fā)生癲癇[16-18]，臨床中應(yīng)引起足夠的重視。

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（收稿日期：2013-11-20）