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豎直平板上層流降液膜表面波特性的實(shí)驗(yàn)研究

2015-06-06 07:27:58王松嶺李曉恩吳正人
動(dòng)力工程學(xué)報(bào) 2015年1期
關(guān)鍵詞:表面波沿程液膜

劉 梅, 王松嶺, 李曉恩, 吳正人

(1.華北電力大學(xué) 經(jīng)濟(jì)與管理學(xué)院,河北保定071003;2.華北電力大學(xué) 能源動(dòng)力與機(jī)械工程學(xué)院,河北保定071003)

在重力作用下工質(zhì)沿豎直平壁的液膜流動(dòng)問(wèn)題有著廣泛的工程應(yīng)用背景,如核電站非能動(dòng)冷卻安全殼的降膜蒸發(fā)[1]和規(guī)整填料塔的氣液傳質(zhì)過(guò)程[2]等.準(zhǔn)確測(cè)量與液膜流動(dòng)特性相關(guān)的統(tǒng)計(jì)參數(shù)對(duì)研究液膜的時(shí)空演化過(guò)程和液膜強(qiáng)化傳熱傳質(zhì)等有重要意義.

目前,針對(duì)降液膜流動(dòng)問(wèn)題的研究采取的方法為實(shí)驗(yàn)研究,同時(shí)結(jié)合數(shù)學(xué)推導(dǎo)和數(shù)值模擬[3-4],以更全面地獲取降液膜的流動(dòng)特性.實(shí)驗(yàn)研究主要是測(cè)量并分析流量、溫度、平板傾角和平壁結(jié)構(gòu)等條件下降液膜的流動(dòng)特性.從液膜形狀、液膜厚度、表面波的波長(zhǎng)和頻率等統(tǒng)計(jì)信息來(lái)分析液膜流動(dòng)復(fù)雜的演化過(guò)程.如Zhao等[5]利用電導(dǎo)探針研究了多種工質(zhì)以及多種壁面結(jié)構(gòu)下液膜厚度的統(tǒng)計(jì)特性;Ambrosini等[6]使用電容探針研究了不同流量、水溫和平板傾角下液膜厚度等統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)的規(guī)律;盧川等[7]運(yùn)用陰影成像法研究了傾斜平板上表面波隨沿程位置的演化過(guò)程.近年來(lái),關(guān)于壁面結(jié)構(gòu)對(duì)降液膜穩(wěn)定性的影響受到越來(lái)越多的關(guān)注.如Cao等[8]利用熒光成像系統(tǒng)從液膜厚度、沿程位置和平板傾角等方面研究了壁面上矩形槽尺寸對(duì)液膜穩(wěn)定性的影響;Reck等[9]利用先進(jìn)的PIV 系統(tǒng)對(duì)呈正弦結(jié)構(gòu)的波紋板上的表面波進(jìn)行了穩(wěn)定性分析;Tong等[10]則從實(shí)驗(yàn)分析和數(shù)值模擬2個(gè)方面對(duì)照分析了三角形壁面結(jié)構(gòu)對(duì)液膜穩(wěn)定性的影響.

就實(shí)驗(yàn)研究而言,以往的測(cè)量方法或是對(duì)液膜流動(dòng)產(chǎn)生額外干擾,或是受探針布置情況的限制而無(wú)法得到全流場(chǎng)信息,或是測(cè)量受環(huán)境影響較大而需經(jīng)常校準(zhǔn).筆者基于自主設(shè)計(jì)的平板降液膜流動(dòng)實(shí)驗(yàn)臺(tái),采用目前較為成熟的高速攝像機(jī)陰影成像法得到液膜分布,并結(jié)合自主編寫(xiě)的Matlab程序分析表面波的演化過(guò)程,實(shí)現(xiàn)了對(duì)全流場(chǎng)表面波信息的無(wú)接觸測(cè)量.

1 實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)

1.1 實(shí)驗(yàn)臺(tái)結(jié)構(gòu)

降液膜流動(dòng)實(shí)驗(yàn)臺(tái)如圖1所示,主要包括平板實(shí)驗(yàn)段、水回路系統(tǒng)、光學(xué)成像系統(tǒng)、數(shù)據(jù)采集和處理系統(tǒng).

圖1 實(shí)驗(yàn)臺(tái)簡(jiǎn)圖Fig.1 Schematic diagram of the experimental setup

平板實(shí)驗(yàn)段主體長(zhǎng)1m、寬0.6m.平板正上方裝有0.6m×0.2m×0.2m 的液膜分配箱,用于形成平穩(wěn)的降液膜.液膜分配箱將狹縫法和溢流法相結(jié)合產(chǎn)生降液膜.工質(zhì)從右側(cè)進(jìn)入液膜分配箱,先后經(jīng)擋流板、孔板和狹縫進(jìn)行整流,再由左側(cè)流出.槽底左下方開(kāi)有2mm 的縫隙,以確保液膜能均勻平鋪在平板上.液膜分配箱容積較大,上水速度緩慢.在擋流板、孔板和狹縫的整流作用下,平板實(shí)驗(yàn)段形成了左右分布均勻平穩(wěn)的降液膜.

水回路系統(tǒng)中水循環(huán)體積流量在500~1 200 L/h內(nèi)變化,以滿足Re為600~1 300的變化范圍.工質(zhì)通過(guò)低噪循環(huán)水泵由主水箱流出,經(jīng)流量調(diào)節(jié)閥和流量計(jì)流入液膜分配箱.

光學(xué)成像系統(tǒng)使用高速攝像機(jī)對(duì)液膜進(jìn)行拍攝,并將圖片傳至電腦以進(jìn)一步分析波速和頻率等的統(tǒng)計(jì)特性.陰影成像法結(jié)合程序分析可獲得流場(chǎng)上各點(diǎn)的統(tǒng)計(jì)信息,不受電導(dǎo)探針或電容探針的數(shù)量與布置位置的限制,對(duì)環(huán)境變化的敏感度較低.圖像采集系統(tǒng)的分辨率為1 280×1 024,拍攝速率采用500 幀/s或850 幀/s.

在數(shù)據(jù)采集和處理系統(tǒng)中,高速攝像機(jī)獲取各工況下表面波流動(dòng)圖像并傳輸至計(jì)算機(jī),從而分析表面波隨時(shí)間的連續(xù)演化過(guò)程以及任意時(shí)刻不同沿程位置處表面波的流動(dòng)特性.

1.2 實(shí)驗(yàn)過(guò)程

實(shí)驗(yàn)環(huán)境保持在常溫常壓,入水經(jīng)低噪循環(huán)水泵、流量調(diào)節(jié)閥和流量計(jì)送入液膜分配箱并在平板實(shí)驗(yàn)段上形成均勻鋪展的液膜.低噪循環(huán)水泵先在最大體積流量下連續(xù)運(yùn)行20min,保證平板表面的充分潤(rùn)濕和實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行.

實(shí)驗(yàn)中Re由液膜的體積流量來(lái)控制:

式中:qV為平板表面液膜的體積流量,m3/s;χ為液膜濕周長(zhǎng)度,m;υ為實(shí)驗(yàn)溫度下水的運(yùn)動(dòng)黏度,m2/s.

受流量計(jì)精度限制,體積流量測(cè)量誤差在1.5%以內(nèi).

實(shí)時(shí)拍攝的圖像上任意一點(diǎn)的灰度值反映了該點(diǎn)所對(duì)應(yīng)流場(chǎng)上液膜表面的波動(dòng)情況.連續(xù)拍攝的每一幀圖片反映了表面波在時(shí)間域上的演化過(guò)程,進(jìn)而對(duì)表面波的波速和頻率進(jìn)行分析.

波速測(cè)定方法為:預(yù)先在平板上標(biāo)定2點(diǎn),2點(diǎn)間的實(shí)際距離與高速攝像機(jī)所拍攝的該2點(diǎn)間的像素點(diǎn)距離之比定義為轉(zhuǎn)化比例尺k.表面波從A 點(diǎn)行進(jìn)到B 點(diǎn)所用時(shí)間可由過(guò)程中所拍攝的照片張數(shù)確定.如實(shí)驗(yàn)采用850 幀/s,則波速為

式中:lAB為像素點(diǎn)距離,即表面波從A 點(diǎn)行進(jìn)至B點(diǎn)的像素距離;N1和N2分別為表面波在A、B2點(diǎn)時(shí)的拍攝照片張數(shù).

受拍攝頻率與標(biāo)定時(shí)測(cè)量誤差所限,波速測(cè)量結(jié)果誤差約為1%.

當(dāng)孤立波經(jīng)過(guò)時(shí),灰度值在時(shí)間域上會(huì)出現(xiàn)明顯的波動(dòng)過(guò)程.利用該特性使用Matlab圖像處理程序?qū)铝⒉ǖ念l率特性進(jìn)行分析.統(tǒng)計(jì)一段時(shí)間內(nèi)流場(chǎng)上固定一點(diǎn)處灰度值隨時(shí)間的變化規(guī)律,即可得到該點(diǎn)處液膜表面在時(shí)間域上的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu).測(cè)定孤立波頻率時(shí)先將孤立波的經(jīng)過(guò)情況與拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的波動(dòng)情況進(jìn)行對(duì)照,以檢驗(yàn)程序可靠性,再將程序的適用性拓展到更廣泛的流量以及不同的沿程位置,從而實(shí)現(xiàn)一段時(shí)間內(nèi)經(jīng)過(guò)的孤立波個(gè)數(shù)的檢測(cè).頻率計(jì)算程序流程圖見(jiàn)圖2.

圖2 孤立波頻率計(jì)算程序流程圖Fig.2 Calculation flowchart for the frequency of solitary wave

程序分析的優(yōu)勢(shì)在于可以瞬時(shí)對(duì)整個(gè)流場(chǎng)的物理參數(shù)進(jìn)行分析,檢測(cè)孤立波的算法是基于液膜表面的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)而非灰度圖像的絕對(duì)值,因此測(cè)量結(jié)果受環(huán)境變化的影響較小,與傳統(tǒng)的接觸式測(cè)量方法相比,不會(huì)對(duì)液膜流動(dòng)產(chǎn)生額外擾動(dòng).

2 實(shí)驗(yàn)結(jié)果及分析

2.1 實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象

實(shí)驗(yàn)中,當(dāng)Re<500時(shí),由于表面張力作用,液膜的鋪展寬度略小于入口寬度.而在工程實(shí)踐和實(shí)驗(yàn)分析時(shí),更期望得到鋪展完整的均勻液膜.因此所用的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)均以液膜均勻地完全鋪展在壁面上為前提,故最終選取Re>600 時(shí)的工況進(jìn)行數(shù)據(jù)分析,此時(shí)所形成的液膜完全鋪展在平板的豎直表面.在分析記錄實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)時(shí),去掉距離左右側(cè)壁面5cm范圍內(nèi)的數(shù)據(jù),以減小側(cè)壁面作用對(duì)液膜流動(dòng)特性的干擾.

筆者主要研究Re為600~1 300下液膜的層流流動(dòng)情況.此時(shí)水在重力驅(qū)動(dòng)下在豎直平板上形成了較為均勻的膜狀流動(dòng),流態(tài)呈帶有孤立波的層流狀態(tài).實(shí)驗(yàn)條件下觀測(cè)到擬正弦形狀的毛細(xì)波和大的孤立波,呈現(xiàn)出大的孤立波和小毛細(xì)波共同在液膜基底上流動(dòng)演化的過(guò)程.液膜入口處記作沿程距離y=0,各實(shí)驗(yàn)體積流量下孤立波均在沿程距離20 cm 左右開(kāi)始出現(xiàn).這是由于初始的微小波動(dòng)隨沿程攜帶了更多流體,開(kāi)始形成孤立波.觀測(cè)到的孤立波如圖3所示,其前緣較陡,尾跡較為緩和,光線透射過(guò)孤立波在屏上有亮斑形成.

圖3 沿程距離20cm 處觀測(cè)到的孤立波Fig.3 Solitary wave observed at 20cm

2.2 孤立波波速

對(duì)沿程距離25cm 以后的孤立波區(qū)進(jìn)行統(tǒng)計(jì),孤立波波速隨著沿程距離的演化特性見(jiàn)圖4.各Re下的統(tǒng)計(jì)結(jié)果均表明表面孤立波波速與沿程距離呈弱相關(guān).

從圖4可以看出,孤立波波速約有±10-1m/s數(shù)量級(jí)的波動(dòng).隨著統(tǒng)計(jì)點(diǎn)距液膜起始位置的沿程距離的變化,孤立波波速統(tǒng)計(jì)結(jié)果的平均值和標(biāo)準(zhǔn)差沒(méi)有明顯變化.從圖4還可以看出,隨著Re的增大,孤立波波速增大.事實(shí)上,在各沿程位置上的實(shí)驗(yàn)結(jié)果均表明:孤立波的平均波速與Re近似為線性正相關(guān)關(guān)系,且波速統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)差隨Re 的增大略有增大.以沿程距離30cm 處為例,孤立波波速與Re的關(guān)系見(jiàn)圖5.豎直壁面下的這一實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明慣性力對(duì)孤立波的形成和演化有重要作用.

2.3 孤立波頻率

利用高速攝像機(jī)觀測(cè)一段時(shí)間內(nèi)孤立波的出現(xiàn)情況,同時(shí)將采樣數(shù)據(jù)經(jīng)Matlab圖像處理得到液膜表面拓?fù)浣Y(jié)構(gòu).程序分析基于3σ原則排除毛細(xì)波的干擾,通過(guò)采樣數(shù)據(jù)得到孤立波出現(xiàn)點(diǎn).

圖4 孤立波波速隨沿程距離的統(tǒng)計(jì)結(jié)果Fig.4 Velocity of solitary wave vs.distance along flow direction

圖5 孤立波波速隨Re的統(tǒng)計(jì)結(jié)果Fig.5 Velocity of solitary wave vs.Re

孤立波出現(xiàn)點(diǎn)應(yīng)滿足

式中:In為該測(cè)點(diǎn)第n 張照片的灰度信息值;μ 和σ分別為統(tǒng)計(jì)時(shí)間內(nèi)該測(cè)點(diǎn)灰度信息的均值與標(biāo)準(zhǔn)差.

此外,孤立波檢測(cè)還應(yīng)滿足一個(gè)波長(zhǎng)范圍內(nèi)無(wú)其他峰值等附加條件.

程序分析結(jié)果與觀測(cè)結(jié)果的多次對(duì)比驗(yàn)證表明,在Re<1 300時(shí)程序均具有良好的通用性,即在改變Re、沿程距離和光照強(qiáng)度等環(huán)境條件后依舊能準(zhǔn)確確定孤立波出現(xiàn)點(diǎn).但Re過(guò)大時(shí)受高速攝像機(jī)采樣頻率限制會(huì)產(chǎn)生一定誤差.

在Re=687、沿程距離y=30cm 和采樣頻率為500Hz的條件下,對(duì)液膜表面拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)和孤立波出現(xiàn)點(diǎn)進(jìn)行程序分析,結(jié)果見(jiàn)圖6.從圖6 可以看出,該實(shí)驗(yàn)條件下孤立波頻率約為11 Hz.拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)劇烈波動(dòng)的時(shí)間與孤立波出現(xiàn)時(shí)間具有良好的吻合度,從而驗(yàn)證了程序的可靠性.

圖6 液膜表面拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)以及孤立波出現(xiàn)點(diǎn)檢測(cè)Fig.6 Topological configuration of falling film and detection of solitary wave

程序分析為后續(xù)多工況下的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)節(jié)省了大量時(shí)間,統(tǒng)計(jì)結(jié)果見(jiàn)表1.

表1 孤立波頻率隨Re和沿程距離的統(tǒng)計(jì)結(jié)果Tab.1 Static results of frequency vs.Re and measurement location Hz

由表1可知,在沿程距離20cm 位置統(tǒng)計(jì)得到的孤立波頻率值明顯小于其他數(shù)據(jù),這是由于孤立波起始產(chǎn)生位置在沿程距離20cm 左右.而在沿程距離25cm 以后各測(cè)點(diǎn)孤立波頻率在7~13 Hz內(nèi)波動(dòng),但頻率特性與Re和沿程距離均無(wú)明顯相關(guān)性,這是由于孤立波頻率與其產(chǎn)生過(guò)程密切相關(guān).拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)也顯示了孤立波在時(shí)間域上的非均勻性,反映了孤立波的產(chǎn)生在時(shí)間和空間上具有不確定性.

3 結(jié) 論

(1)實(shí)驗(yàn)條件下孤立波區(qū)域出現(xiàn)在沿程距離20 cm 處,孤立波波速與Re 具有線性正相關(guān)性.波速的變化范圍隨Re的增大而增大,而波速大小與沿程距離無(wú)明顯相關(guān)性.

(2)孤立波頻率與其產(chǎn)生過(guò)程密切相關(guān),而與Re和沿程距離均呈弱相關(guān).孤立波的產(chǎn)生在時(shí)間和空間上具有不確定性,在沿程距離25cm 后的孤立波區(qū)域,測(cè)得孤立波頻率在7~13Hz內(nèi)波動(dòng).

(3)程序檢測(cè)所得波峰與孤立波出現(xiàn)點(diǎn)一致,在實(shí)驗(yàn)體積流量下能準(zhǔn)確便捷地獲取孤立波信息.

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