張曉霞,吳 昊,韋悅周
1.國(guó)防科工局核技術(shù)支持中心,北京 100080;2.Tokyo Institute of Technology, Japan Tokyo 152-8550;3.廣西大學(xué) 資源環(huán)境與材料學(xué)院,廣西 南寧 530005;4.上海交通大學(xué) 核科學(xué)與工程學(xué)院,上海 200240
目前,世界各國(guó)在乏燃料后處理過(guò)程中大多采用改進(jìn)的PUREX流程。在適當(dāng)?shù)墓に嚄l件下,1AF料液與有機(jī)溶劑1AX逆流接觸,大約0.1%未被萃取的鈾和钚、分配系數(shù)很小的大部分裂變產(chǎn)物進(jìn)入萃余相1AW。高放廢液是放射性活度濃度大于4×1010Bq/L的放射性廢液,主要來(lái)源于1AW萃余相[1-3]。137Cs作為高放廢液組分中重要的核裂變產(chǎn)物之一,具有放射性強(qiáng)度高、釋熱量大和較長(zhǎng)半衰期(T1/2≈30 a)的特征[4]。通常,137Cs以離子形式存在,具有很強(qiáng)的遷移能力,容易造成嚴(yán)重的環(huán)境污染,且可以在生物體中積累,對(duì)人體危害性極大。因此,含Cs放射性廢液是高放廢液處理處置中重要的一部分[5]。
國(guó)內(nèi)外學(xué)者較多研究采用分離-固化的方式處理高放廢液中137Cs。在以前的研究中,一種新型的多孔性硅基磷鉬酸銨吸附劑表現(xiàn)出對(duì)高放廢液中Cs(Ⅰ)的高效選擇性,且因具有優(yōu)良的化學(xué)穩(wěn)定性而受到關(guān)注[6]。采用AMP/SiO2分離高放廢液中的Cs(Ⅰ)將產(chǎn)生二次固體廢物(使用過(guò)的吸附劑,簡(jiǎn)寫(xiě)為AMP-Cs/SiO2),對(duì)二次固體廢物的處理和處置是放射性廢物治理中的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。需要將二次廢物轉(zhuǎn)入到處置庫(kù)中,與生物圈相隔離,直到二次廢物的放射性水平衰減到無(wú)害的水平[7]。為了防止易遷移Cs(Ⅰ)隨著地下水的侵蝕進(jìn)入生物圈,有必要將Cs(Ⅰ)穩(wěn)定地固定在固化基材中,然后對(duì)固化體進(jìn)行包裝,再放入地質(zhì)處置庫(kù)中,設(shè)置多重屏障系統(tǒng),以實(shí)現(xiàn)對(duì)核素的安全隔離。當(dāng)下研究或應(yīng)用于高放廢物的固化體基材主要是玻璃、天然礦物和人造巖石等。玻璃固化已較為成熟,實(shí)現(xiàn)了工業(yè)化生產(chǎn)[1]。隨著研究的不斷深入,陶瓷固化這一固化處理方法也逐漸發(fā)展成型,并取得了重要進(jìn)展。陶瓷固化方法具有固化體致密度高、核素浸出率低、抗輻照性能和熱穩(wěn)定性好等優(yōu)點(diǎn),大大提高了固化體的長(zhǎng)期安全性。
本工作針對(duì)二次固體廢物AMP-Cs/SiO2的固化處理,添加水鋁英石作為固定基材,采用冷壓成型/高溫?zé)Y(jié)工藝制備陶瓷固化體,并研究固化體的抗壓強(qiáng)度、對(duì)核素137Cs的固定能力以及浸出率。
所用試劑磷鉬酸銨、乙醇、氯化銨、硝酸銫、硝酸均為市售分析純?cè)噭?,?guó)藥集團(tuán)化學(xué)試劑有限公司生產(chǎn)。水鋁英石(allophane)購(gòu)自日本Hattori Company, Ltd. Japan,化學(xué)式為(1~2)SiO2·Al2O3·(5~6)H2O。
NOVA NanoSEM 230低真空超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(SEM),美國(guó)FEI公司;D8 ADVANCE粉末X射線衍射儀(XRD),BRUKER-AXS公司;SP3880原子吸收分光光度計(jì)(AAS),上海光譜儀器制造;LE4/11馬弗爐,德國(guó)Nabertherm;波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀(XRF-18),日本島津公司;WDW21000型電腦伺服萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī),濟(jì)南唯品試驗(yàn)機(jī)有限公司。
結(jié)合旋轉(zhuǎn)蒸發(fā)減壓法與孔內(nèi)結(jié)晶法,將磷鉬酸銨擔(dān)載到二氧化硅載體內(nèi),具體的合成過(guò)程如下:取定量的二氧化硅基材放置在圓底燒瓶中,向燒瓶中加入磷鉬酸和乙醇的混合溶液。將圓底燒瓶放置在旋轉(zhuǎn)蒸發(fā)儀中,通過(guò)負(fù)壓及水浴的作用,乙醇溶液不斷的蒸發(fā),磷鉬酸在負(fù)壓作用下被灌入到二氧化硅孔道里。待旋轉(zhuǎn)蒸發(fā)儀中磷鉬酸均勻分散在二氧化硅的孔道里,將圓底燒瓶?jī)?nèi)的固體物質(zhì)取出,放置在真空烘箱里干燥24 h。將干燥后的物質(zhì)放置于抽氣燒瓶中,向其中加入50 mL 2 mol/L的氯化銨溶液,同時(shí)進(jìn)行減壓操作,氯化銨在負(fù)壓作用下隨著溶液進(jìn)入到二氧化硅的孔道內(nèi)與磷鉬酸發(fā)生結(jié)晶反應(yīng)生成磷鉬酸銨納米顆粒。用去離子水多次清洗在載體材料上沒(méi)有反應(yīng)完全的氯化銨。最后,真空干燥24 h即得到實(shí)驗(yàn)所用的硅基磷鉬酸銨(AMP/SiO2)吸附劑。采用AMP/SiO2分離模擬高放廢液中的Cs(Ⅰ)得到二次固體廢物AMP-Cs/SiO2[6]。
為了固定Cs,將AMP-Cs/SiO2在不同溫度下(400~1 200 ℃)進(jìn)行燒結(jié),并對(duì)燒結(jié)后的產(chǎn)物進(jìn)行SEM表征,得到燒結(jié)產(chǎn)物的表面特性和尺寸大?。粚?duì)燒結(jié)產(chǎn)物進(jìn)行XRD表征,得到燒結(jié)樣品的結(jié)構(gòu)特征;對(duì)燒結(jié)產(chǎn)物進(jìn)行XRF表征,得到溫度變化下燒結(jié)產(chǎn)物對(duì)Cs的固定效果。
將一定量的AMP-Cs/SiO2與水鋁英石進(jìn)行混合并均勻研磨,放置混合物(AMP-Cs/SiO2-allophane,AMP-Cs/SiO2與水鋁英石的質(zhì)量比為1∶1,主要成分如表1所示)于柱狀磨具中冷壓成型(成型壓力設(shè)置為40 MPa)。將成型后的樣品在不同溫度下(400~1 200 ℃)燒結(jié)1 h,即獲得在不同溫度下燒結(jié)的固化體。對(duì)固化體進(jìn)行SEM表征,以判斷固化體的表面形態(tài)的變化;對(duì)固化體進(jìn)行XRD測(cè)試,得到固化體結(jié)構(gòu)特征;對(duì)固化體進(jìn)行XRF表征,得到固化體對(duì)Cs的固定效果;對(duì)固化體的抗壓強(qiáng)度進(jìn)行測(cè)試。
表1 水鋁英石和AMP-Cs/SiO2-allophane的主要成分Table 1 Main components of allophane and AMP-Cs/SiO2-allophane
為了更全面地獲得固化體的特性,有必要研究固化體的抗浸出性能。將固化體放置在40 mL的有蓋玻璃瓶中,向其中加入不同的浸出液(去離子水、0.1 mol/L NaCl、0.1 mol/L HNO3、0.1 mol/L NaOH)30 mL,在25 ℃和90 ℃的浸出液中浸泡28 d。浸泡28 d后,采用砂芯漏斗對(duì)浸出液進(jìn)行過(guò)濾,通過(guò)原子吸收光譜對(duì)浸出液中Cs(Ⅰ)的濃度進(jìn)行測(cè)試,Cs(Ⅰ)的浸出率(NL)定義如下[8]:
(1)
式中:Ct代表Cs(Ⅰ)在浸出液中的質(zhì)量濃度,g/cm3;m(Cs)是Cs在固化體中的質(zhì)量,g;V是浸出液的體積,cm3;m0是固化體的質(zhì)量,g;S是固化體的表面積,cm2;t是進(jìn)行浸出實(shí)驗(yàn)的時(shí)間,d。
2.1.1燒結(jié)AMP-Cs/SiO2的SEM表征 AMP-Cs/SiO2在不同溫度下(800、1 000、1 200 ℃)燒結(jié)1 h后的SEM表征結(jié)果示于圖1。如圖1所示,未燒結(jié)的AMP-Cs/SiO2呈完整的圓球狀,表面為均勻的多孔結(jié)構(gòu),粒徑大小約為50 μm。與未燒結(jié)樣品相比,AMP-Cs/SiO2在800 ℃燒結(jié)后,樣品仍保持完整的圓球狀,粒徑大小變化不明顯,仍為50 μm,但是樣品表面發(fā)生熔融現(xiàn)象致使表面的孔隙率降低得到更致密的結(jié)構(gòu)。當(dāng)溫度高于1 000 ℃,樣品發(fā)生聚團(tuán),由典型的圓球狀變?yōu)闊o(wú)規(guī)則的形狀,且表面的熔融現(xiàn)象加劇,表面的多孔性因熔融現(xiàn)象的發(fā)生而減少,樣品的粒徑由50 μm降低到10 μm。由以上結(jié)果可知,AMP-Cs/SiO2在高于1 000 ℃進(jìn)行燒結(jié)后實(shí)現(xiàn)了體積減容。
圖1 原樣和燒結(jié)的AMP-Cs/SiO2的SEM圖Fig.1 SEM images of fresh and sintered AMP-Cs/SiO2
2.1.2燒結(jié)AMP-Cs/SiO2的XRD表征 AMP-Cs/SiO2在不同溫度下(400~1 200 ℃)燒結(jié)1 h后的XRD表征結(jié)果示于圖2。如圖2所示,在400 ℃燒結(jié),所有的衍射峰均屬于Cs3PMo12O40,說(shuō)明AMP-Cs/SiO2的結(jié)構(gòu)沒(méi)有發(fā)生變化。當(dāng)燒結(jié)溫度由500 ℃增加到900 ℃,除了檢測(cè)到Cs3PMo12O40的衍射峰,還檢測(cè)到MoO3(2θ=12.65°、23.27°、27.22°、38.76°)的衍射峰,說(shuō)明Cs3PMo12O40發(fā)生了部分分解產(chǎn)生MoO3。除MoO3外,Cs3PMo12O40高溫分解產(chǎn)生的產(chǎn)物還有P2O5和Cs2O,但由于P2O5和Cs2O的含量太少不能達(dá)到XRD的檢測(cè)限未能檢測(cè)出來(lái)[9]。當(dāng)燒結(jié)溫度由1 000 ℃增加到1 100 ℃,Cs3PMo12O40的衍射峰完全消失,所有的衍射峰歸于SiO2(2θ=21.91°、28.37°、31.34°、36.11°)和Mo9O26(除SiO2的衍射峰外所有衍射峰屬于Mo9O26)的衍射峰。Cs3PMo12O40的結(jié)構(gòu)完全發(fā)生破壞,分解產(chǎn)生Mo9O26,且樣品中無(wú)定型的SiO2轉(zhuǎn)化為晶態(tài)SiO2。當(dāng)燒結(jié)溫度達(dá)到1 200 ℃,所有的衍射峰都屬于晶態(tài)SiO2,沒(méi)有檢測(cè)到Cs3PMo12O40及其分解產(chǎn)物的衍射峰,說(shuō)明Cs3PMo12O40的高溫分解產(chǎn)物鉬氧化物發(fā)生升華。由以上結(jié)果可知,隨著燒結(jié)溫度的增加,AMP-Cs/SiO2的結(jié)構(gòu)發(fā)生破壞,Cs以Cs2O的形式發(fā)生揮發(fā),AMP-Cs/SiO2燒結(jié)后不能形成穩(wěn)定固化Cs的晶態(tài)物質(zhì),對(duì)Cs具有較差的固定效果。
圖2 AMP-Cs/SiO2燒結(jié)1 h后的XRD圖Fig.2 XRD patterns of AMP-Cs/SiO2 sintered for 1 h
2.1.3燒結(jié)AMP-Cs/SiO2的XRF表征 對(duì)燒結(jié)前后的AMP-Cs/SiO2進(jìn)行波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀分析,得到AMP-Cs/SiO2在不同溫度下對(duì)Cs的固定率,結(jié)果列于表2。由表2可知,當(dāng)燒結(jié)溫度為400 ℃時(shí),AMP-Cs/SiO2對(duì)Cs的固定率為100%,隨著燒結(jié)溫度由500 ℃增加到1 200 ℃,燒結(jié)產(chǎn)物對(duì)Cs的固定率由93%下降到40%。隨著燒結(jié)溫度的增加,AMP-Cs/SiO2結(jié)構(gòu)發(fā)生破壞的程度越高,其對(duì)Cs的固定率就越低。在1 200 ℃,樣品對(duì)Cs的固定率保持在40%,可能是由于樣品表面的孔隙率隨著燒結(jié)溫度的增加而降低,阻止了部分Cs的揮發(fā)。同樣,樣品中Mo和P的固定率隨著燒結(jié)溫度的增加而逐漸降低。在1 200 ℃,檢測(cè)到的Mo和P的固定率少于0.1%。根據(jù)文獻(xiàn)[10]可知,幾乎所有的Mo和P以鉬化合物和磷化合物(主要是MoO3和P2O5)的形式發(fā)生了升華,這與XRD結(jié)果一致。結(jié)合SEM、XRD和XRF表征可知,AMP-Cs/SiO2在高于1 000 ℃下燒結(jié),二次固體廢物發(fā)生了體積減容,但是,高溫?zé)Y(jié)后的樣品結(jié)構(gòu)發(fā)生破壞,不能形成穩(wěn)定固化Cs的晶態(tài)物質(zhì),對(duì)Cs的固定效果低。
表2 AMP-Cs/SiO2燒結(jié)前后對(duì)Cs的固定率Table 2 Immobilization percentage of Cs on fresh and sintered AMP-Cs/SiO2
2.2.1燒結(jié)AMP-Cs/SiO2-allophane的EDS表征 AMP-Cs/SiO2-allophane在1 200 ℃燒結(jié)后的EDS能譜分析結(jié)果示于圖3。如圖3所示,檢測(cè)到Si、O、Al、Cs、P等元素,且這些元素在燒結(jié)固化體表面分布均勻,Cs在整個(gè)固化體中的質(zhì)量分?jǐn)?shù)為3.4%,說(shuō)明在燒結(jié)的過(guò)程中可能形成了含Cs的結(jié)晶物質(zhì)抑制了Cs的揮發(fā)。未檢測(cè)到Mo元素,說(shuō)明在燒結(jié)過(guò)程中AMP-Cs/SiO2發(fā)生了分解反應(yīng),大量的Mo發(fā)生了揮發(fā)。
圖3 AMP-Cs/SiO2-allophane在1 200 ℃燒結(jié)后的EDS圖Fig.3 EDS of AMP-Cs/SiO2-allophane sintered at 1 200 ℃
2.2.2燒結(jié)AMP-Cs/SiO2-allophane的XRD表征 AMP-Cs/SiO2-allophane壓制成型后在不同溫度(400~1 200 ℃)燒結(jié)1 h后的XRD測(cè)試制樣結(jié)果示于圖4。通過(guò)XRD測(cè)試,分析總結(jié)樣品結(jié)晶相列于表3。當(dāng)燒結(jié)溫度為400 ℃時(shí),由于水鋁英石屬于無(wú)定型的非晶體物質(zhì),檢測(cè)到Cs3PMo12O40,說(shuō)明燒結(jié)樣品中AMP-Cs/SiO2仍保持Cs3PMo12O40的晶體結(jié)構(gòu)。隨著燒結(jié)溫度從500 ℃增加到600 ℃,除檢測(cè)到 Cs3PMo12O40外,還檢測(cè)到MoO3,說(shuō)明燒結(jié)樣品中AMP-Cs/SiO2發(fā)生部分分解。當(dāng)燒結(jié)溫度為700 ℃,沒(méi)有檢測(cè)到Cs3PMo12O40,檢測(cè)到Al2(MoO4)3,說(shuō)明Cs3PMo12O40完全發(fā)生了分解,Cs3PMo12O40分解的產(chǎn)物為P2O5、Cs2O和MoO3(式(2))。Cs3PMo12O40分解產(chǎn)生的MoO3與水鋁英石的主要成分Al2O3反應(yīng)生成了Al2(MoO4)3(式(3))。不添加水鋁英石,AMP-Cs/SiO2在燒結(jié)溫度達(dá)到1 000 ℃時(shí)其晶體結(jié)構(gòu)才完全發(fā)生破壞。添加水鋁英石后,AMP-Cs/SiO2-allophane中的AMP-Cs/SiO2結(jié)構(gòu)發(fā)生完全破壞的溫度降低了。產(chǎn)生這一現(xiàn)象的主要原因是:當(dāng)添加水鋁英石后,在700~800 ℃,水鋁英石中的主要成分Al2O3與Cs3PMo12O40的分解產(chǎn)物MoO3發(fā)生反應(yīng),根據(jù)化學(xué)平衡原理,消耗了式(2)產(chǎn)生的MoO3,加速式(2)向生成MoO3的方向進(jìn)行,促進(jìn)了Cs3PMo12O40的分解,使得Cs3PMo12O40發(fā)生完全分解的溫度降低。當(dāng)燒結(jié)溫度為900 ℃,檢測(cè)到SiO2、Al6Si2O13和Cs4Al4Si20O48的
衍射峰,沒(méi)有檢測(cè)到Al2(MoO4)3的衍射峰,說(shuō)明SiO2由非晶型轉(zhuǎn)變?yōu)榫B(tài),AMP-Cs/SiO2-allophane的有效成分Al2O3與SiO2反應(yīng)生成了Al6Si2O13。同時(shí),AMP-Cs/SiO2-allophane的主要成分Al2O3與SiO2和Cs3PMo12O40分解產(chǎn)生的Cs2O反應(yīng)生成了Cs4Al4Si20O48(式(4))。隨著燒結(jié)溫度的繼續(xù)增加,生成的SiO2、Al6Si2O13和Cs4Al4Si20O48周?chē)碾s峰變少,說(shuō)明Cs4Al4Si20O48的結(jié)晶性能增強(qiáng)。AMP-Cs/SiO2-allophane壓制成型后,隨著燒結(jié)溫度的增加,產(chǎn)生穩(wěn)定的固化Cs的結(jié)晶物質(zhì)Cs4Al4Si20O48,這與EDS中分析得到的結(jié)果一致。
(2)
(3)
(4)
圖4 AMP-Cs/SiO2-allophane原樣與燒結(jié)樣品XRD制樣Fig.4 XRD samples of fresh and sintered AMP-Cs/SiO2-allophane
表3 AMP-Cs/SiO2-allophane燒結(jié)后的結(jié)晶相Table 3 Crystal phases of sintered AMP-Cs/SiO2-allophane
備注:+表示該溫度下可檢測(cè)到該XRD結(jié)晶相
2.2.3燒結(jié)AMP-Cs/SiO2-allophane的XRF表征 AMP-Cs/SiO2-allophane在不同溫度下燒結(jié)后對(duì)Cs的固定率列于表4。如表4所示,當(dāng)燒結(jié)溫度從400 ℃增加到900 ℃,AMP-Cs/SiO2-allophane對(duì)Cs的固定率保持100%;燒結(jié)溫度從1 000 ℃增加到1 200 ℃, AMP-Cs/SiO2-allophane對(duì)Cs的固定率為96%。在高溫?zé)Y(jié)過(guò)程中,AMP-Cs/SiO2的分解以及Cs4Al4Si20O48的形成均需要一定的時(shí)間,導(dǎo)致水鋁英石還未對(duì)Cs2O進(jìn)行捕捉時(shí),少量的Cs2O就已經(jīng)發(fā)生了揮發(fā),導(dǎo)致部分Cs2O未能被水鋁英石進(jìn)行有效固定。添加水鋁英石作為固定基材,燒結(jié)溫度高于1 000 ℃,AMP-Cs/SiO2對(duì)Cs仍具有良好的固定效果。
表4 AMP-Cs/SiO2-allophane燒結(jié)前后對(duì)Cs的固定率Table 4 Immobilization percentage of Cs on fresh and sintered AMP-Cs/SiO2-allophane
2.2.4固化體的抗壓強(qiáng)度 固化體的抗壓性能是保證固化體包裝、運(yùn)輸和地質(zhì)儲(chǔ)存的重要參數(shù)之一。AMP-Cs/SiO2-allophane在不同溫度下燒結(jié)1 h后固化體的抗壓強(qiáng)度列于表5。如表5所示,隨著燒結(jié)溫度的增加,固化體的抗壓強(qiáng)度增強(qiáng)??赡苁怯捎陔S著燒結(jié)溫度的增加,AMP的結(jié)構(gòu)發(fā)生破壞,Mo氧化物和P氧化物發(fā)生揮發(fā),形成穩(wěn)定的結(jié)晶物質(zhì)Cs4Al4Si20O48,且SiO2由無(wú)定型態(tài)轉(zhuǎn)化為定型態(tài)加強(qiáng)了固化體的抗壓強(qiáng)度。當(dāng)燒結(jié)溫度≥1 000 ℃時(shí),固化體的抗壓強(qiáng)度≥12.92 MPa,大于GB 14569.1-2011水泥固化體抗壓性能要求的不小于7 MPa[11-12]。
表5 AMP-Cs/SiO2-allophane燒結(jié)后的抗壓強(qiáng)度Table 5 Compressive strength of sintered AMP-Cs/SiO2-allophane
固化體中核素的抗浸出性能是研究固化體地質(zhì)儲(chǔ)存耐久性的重要參數(shù)之一。將壓制成型的AMP-Cs/SiO2-allophane(1∶1)在1 200 ℃燒結(jié)1 h后的固化體分別放置在25 ℃和90 ℃的浸出液(去離子水(DW)、0.1 mol/L NaCl、0.1 mol/L HNO3、0.1 mol/L NaOH)中浸泡28 d后,得到Cs的浸出率,列于表6。在25 ℃浸出液中,固化體中Cs的浸出率的大小順序?yàn)?.1 mol/L NaOH>0.1 mol/L HNO3≥0.1 mol/L NaCl≈DW;在90 ℃浸出液中,固化體中Cs的浸出率的大小順序?yàn)?.1 mol/L NaOH >0.1 mol/L HNO3≥0.1 mol/L NaCl≈DW。在相同浸出液中,固化體在90 ℃浸出液中Cs浸出率高于在25 ℃浸出液中,主要原因是:高溫下溶液中分子的運(yùn)動(dòng)速率加快,加劇了溶液中的分子與固化體表面的碰撞次數(shù),更利于溶液分子通過(guò)固化體表面擴(kuò)散進(jìn)入到固化體內(nèi)部浸出Cs且高溫下溶質(zhì)分子反應(yīng)活性增加,對(duì)固化體的侵蝕能力增強(qiáng)。固化體在0.1 mol/L HNO3和0.1 mol/L NaOH中Cs的浸出率較DW和0.1 mol/L NaCl中高,主要是由于酸和堿溶解了基體中的Al和Si。固化體在25 ℃的DW中浸出28 d后,Cs(Ⅰ)的浸出率約為3×10-5g/(cm2·d),在90 ℃的DW中浸出28 d后,Cs(Ⅰ)的浸出率約為1.6×10-4g/(cm2·d),這一結(jié)果與玻璃固化體中Cs(Ⅰ)的浸出率相當(dāng)[13-14]。
表6 AMP-Cs/SiO2-allophane固化體不同浸出液中Cs(Ⅰ)的浸出率表6 Leachability of Cs(Ⅰ) from different leachants of AMP-Cs/SiO2-allophane
AMP/SiO2分離模擬高放廢液中的Cs(Ⅰ)后產(chǎn)生的二次固體廢物AMP-Cs/SiO2在高于1 000 ℃燒結(jié)后,實(shí)現(xiàn)了二次固體廢物的體積減容,但對(duì)Cs的固定率僅為40%。添加水鋁英石為固化基材,高溫?zé)Y(jié)AMP-Cs/SiO2-allophane得到的固化體因形成穩(wěn)定的晶態(tài)物質(zhì)Cs4Al4Si20O48,對(duì)Cs(Ⅰ)的固定率高于96%,抗壓強(qiáng)度大于7 MPa,在25 ℃去離子水中對(duì)Cs(Ⅰ)的浸出率較低,約為3×10-5g/(cm2·d)。添加水鋁英石為固定基材,有利于對(duì)二次固體廢物AMP-Cs/SiO2中易遷移核素Cs的固化處理。